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            從源頭把控品質(zhì):佳譜儀器鍍層測厚儀筑牢引線框架質(zhì)量防線

            閱讀:182      發(fā)布時間:2025-3-31
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            引線框架作為一種關(guān)鍵的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)元件,其核心功能在于搭建內(nèi)部芯片與外部電路之間的橋梁,引線框架憑借薄型的金屬構(gòu)造,實(shí)現(xiàn)了對集成電路內(nèi)部芯片觸點(diǎn)與外部導(dǎo)線的有效聯(lián)結(jié)。
             
              半導(dǎo)體引線框架憑借結(jié)構(gòu)設(shè)計與材料選用,既可以充當(dāng)集成電路芯片的物理承載者,又可以作為電訊號傳輸?shù)拿浇?。而引線框架鍍層在提升焊接性能、導(dǎo)電性、耐腐蝕性、機(jī)械性能和外觀等方面至關(guān)重要,直接影響電子設(shè)備的性能和可靠性。
             
              常見的鍍層材料包括金(Au)、銀(Ag)、鎳(Ni)和錫(Sn),它們各有優(yōu)勢,適用于不同的應(yīng)用場景。
             
              T650Splus鍍層測厚儀
             
              佳譜儀器T650Splus鍍層測厚儀搭配高性能SDD探測器,對于引線框架上僅幾納米的超薄鍍層,能保證測試的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性,在測量超微小樣品時,也能精準(zhǔn)輸出測量數(shù)據(jù),誤差控制在<±2μm,不放過引線框架任何一處需要測量的細(xì)微部位。
              功能豐富,滿足多元需求
             
              1.多層鍍層測量
             
              可以同時測量多層鍍層加底材層,對于引線框架常用的如化學(xué)鎳鈀金(ENEPIG)等多層鍍層結(jié)構(gòu),能準(zhǔn)確分析各層的厚度,為鍍層質(zhì)量把控提供全面數(shù)據(jù)。
             
              2.多元素分析
             
              能夠同時分析多種元素,可精準(zhǔn)確定引線框架鍍層中的元素組成,快速判斷是否存在雜質(zhì)元素或成分異常,有效保障鍍層質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。
             
              3.多元分析模式
             
              擁有定性、半定量和定量分析功能,不管是對引線框架鍍層進(jìn)行初步質(zhì)量篩查,還是開展深入精確的成分與厚度分析,都能勝任,滿足不同場景下的檢測分析需求。


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