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            博納科儀器(上海)有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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            應(yīng)用分享 | 對(duì)橄欖巖進(jìn)行 X 射線衍射研究

            時(shí)間:2024/8/27閱讀:484
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            導(dǎo)言




            X射線衍射 (XRD) 被廣泛認(rèn)為是礦物學(xué)分析的黃金標(biāo)準(zhǔn)方法。


            無(wú)論是采礦還是研究,X射線衍射儀在各種領(lǐng)域中都有著廣泛的應(yīng)用,從礦山運(yùn)營(yíng)的常規(guī)質(zhì)量保證、質(zhì)量控制到解析粉末中的粘土結(jié)構(gòu)等。


            為了更好地支持研究和加工,X射線衍射儀的多功能性需求也在不斷增加。


            現(xiàn)代工藝地質(zhì)學(xué)的應(yīng)用不僅要求儀器具有極少的停機(jī)時(shí)間,還需要能夠快速、精確地收集數(shù)據(jù)的能力。


            此外,實(shí)驗(yàn)室通常希望簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)收集與分析的過(guò)程,以提高效率。


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            儀器介紹




            本次實(shí)驗(yàn)所使用的是賽默飛的ARL X’TRA Companion,此臺(tái)設(shè)備是高階常規(guī)分析型臺(tái)式X射線衍射儀,是一款采用θ/θ 掃描和Bragg-Brentano光學(xué)幾何設(shè)計(jì)的臺(tái)式X射線衍射儀。


            采用先進(jìn)的硬件配置和科技手段來(lái)確保其準(zhǔn)確性、精確性、安全性和易用性。


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            圖1  ARL X ’TRA COMPANION



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            實(shí)驗(yàn)過(guò)程


            本實(shí)驗(yàn)是研究從美國(guó)亞利桑那州圣卡洛斯特魯?shù)系V山采集的橄欖巖樣本,方法是從一個(gè)晶簇中取出晶體,研磨后放入反射樣品架。


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            圖2  橄欖巖樣本


            樣品在Co Kα(1.78897 ?)輻射下進(jìn)行了四次不同時(shí)間間隔的分析:15分鐘、5分鐘、1分鐘和30秒,分析期間樣品旋轉(zhuǎn)。并進(jìn)行原始數(shù)據(jù)評(píng)估(圖3至圖6)。


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            圖3  15分鐘原始數(shù)據(jù)



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            圖4  5分鐘原始數(shù)據(jù)



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            圖5  1分鐘原始數(shù)據(jù)



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            圖6  30秒原始數(shù)據(jù)



            數(shù)據(jù)處理包括整體模式擬合Rietveld結(jié)構(gòu)精修(WPF)或低強(qiáng)度數(shù)據(jù)的Rietveld結(jié)構(gòu)精修(RIR),使用配備晶體學(xué)開(kāi)放數(shù)據(jù)庫(kù)(COD)和AMCSD的 JADE 進(jìn)行定性和定量分析階段分析。



            01 WPF定量相分析




            橄欖石的晶體結(jié)構(gòu)由兩個(gè)不同的金屬位點(diǎn)(M1 和M2)、三個(gè)不同的氧位點(diǎn)(O1、O2和 O3)和一個(gè)硅位點(diǎn)(Si)組成。通過(guò)細(xì)化M1 和M2位點(diǎn)的占位,可以計(jì)算出樣品在固溶體系列中的位置。


            使用 JADE 分析了四次掃描的原始數(shù)據(jù)。對(duì) 15 分鐘和 5 分鐘數(shù)據(jù)集(圖7和圖8)進(jìn)行了WPF 分析,然后對(duì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行了全面的Rietveld結(jié)構(gòu)精修,細(xì)化了綠柱石M1和M2位點(diǎn)的占位(表1)。


            15分鐘和5分鐘數(shù)據(jù)集的最終改進(jìn)結(jié)果分別為 Rwp = 6.12 和 7.83,S = 1.65 和 1.23。


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            圖7  15分鐘精煉WPF數(shù)據(jù)



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            圖7  5分鐘精煉WPF數(shù)據(jù)



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            表1  改進(jìn)后的場(chǎng)地占用值


            由于鎂和鐵的位點(diǎn)占有率總和不等于100%,因此將剩余的值分配給Ca,以加入圖9所示的三元系列圖中。



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            圖9  15分鐘(紅色)和5分鐘(藍(lán)色)占用值位置


            從圖中可以得出結(jié)論,最佳擬合礦物為紫翠石,


            15分鐘掃描的計(jì)算化學(xué)成分為

            (Mg1.24,Fe0.43,Ca0.33)SiO4,


            5分鐘掃描的計(jì)算化學(xué)成分為

            (Mg1.21,Fe0.45,Ca0.34)SiO4。



            02 RIR半定量分析




            由于1分鐘和30秒數(shù)據(jù)集的強(qiáng)度較低(圖10和 圖11),全面的Rietveld分析并不理想,因此采用了更半定量的RIR方法,利用單個(gè)峰輪廓擬合來(lái)分析相組合。


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            圖10  使用JADE軟件擬合1分鐘RIR數(shù)據(jù)


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            圖11  使用JADE軟件擬合30秒RIR數(shù)據(jù)


            表2列出了所有掃描的相位組合結(jié)果。很明顯,每個(gè)掃描時(shí)間得出的相位組合與其他時(shí)間得出的相位組合非常一致。


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            表 2:階段性組合結(jié)果


            普遍較低的標(biāo)準(zhǔn)偏差值表明,對(duì)于超快速掃描來(lái)說(shuō),相位組合可以非常準(zhǔn)確地量化。




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            結(jié)論




            ARL X ’TRA COMPANION的分辨率和速度使其能夠全面分析地質(zhì)材料,從相組合到完整的 QPA 和結(jié)構(gòu)細(xì)化。


            5分鐘的測(cè)量時(shí)間足以進(jìn)行WPF定量相分析,30秒即可進(jìn)行基于RIR的半定量分析。


            晶體相的結(jié)構(gòu)細(xì)化只需幾分鐘的掃描時(shí)間即可精確完成。


            因此,ARL X’TRA COMPANION 臺(tái)式衍射儀是一種用戶友好型工具,適用于地質(zhì)研究和加工應(yīng)用。








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