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英國WEST吸引式小電荷量測量裝置噴嘴多功能 WEST/英國 212HS型212HS 型具有與之前型號相同的測量性能，但提高了可操作性。主體比傳統(tǒng)產品更小。電池...

日本toadkk面板式電導率儀用于半導體測量 WBM-100緊湊的 DIN96 尺寸微電腦計算溫度補償具有細胞常數調節(jié)功能可顯示水溫

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日本bunkoukeiki傳感器光譜靈敏度?測量 VC-250該裝置測量光電二極管和CCD/CMOS圖像傳感器等光電轉換元件的光譜特性（光譜靈敏度和光譜響應）。...

日本oji-keisoku便攜式橢圓偏振儀測量裝置 PAM-PTB100本裝置是測量通過平板等偏振板射出的光的偏振狀態(tài)的裝置。一次測量6波長的橢圓率（a/b）和...

日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100本裝置以透明試樣為對象，通過平行尼可光譜法測定數千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸...

日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300對光學薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進行測定無需個人差異，可簡便且短時間內測量

日本oji-keisoku相位差測量平行尼科耳旋轉 KOBRA-WFD0系列1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高...

日本oji-keisoku相位差/橢球偏振測量裝置 KOBRA-HB系列1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高精度...

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日本mitaka非接觸式微透鏡陣列三坐標測量機 MA系列配備了NH系列的所有基本形狀測量功能，可以測量透鏡和模具的橫截面形狀，并使用專用軟件一次性測量曲率和中心...

日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置 MLP系列MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現的復雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（...

日本mitaka非接觸三維測量裝置高精度耐磨損 NH系列NH系列實現了高精度和易用性，解決了過去的測量問題。?可在不損壞測量對象的情況下進行測量?擅長測量陡峭的...

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