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            XGT-9000-HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀
            • XGT-9000-HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀

            貨物所在地:上海上海市

            更新時間:2025-02-03 21:00:07

            瀏覽次數(shù):226

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            HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀
            型號XGT-9000
            高分辨相機和多種照明模式成像
            雙檢測器,熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器
            輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

            HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀

            XGT-9000

            速度和靈活性兼?zhèn)涫俏^(qū) X 射線熒光光譜的發(fā)展方向

               

            <15µm高強度X射線頭,兼具高靈敏度和高空間分辨率

            高分辨相機和多種照明模式成像

            雙檢測器,熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器

            輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

            HORIBA堀場微區(qū)X射線熒光分析儀

            技術(shù)參數(shù)

            型號

            XGT-9000

            XGT-9000SL

            基本信息

            儀器

            微區(qū)X射線熒光分析儀

            樣品類型

            固體、液體、顆粒

            檢測元素

            輕元素檢測器:C* – Am
            (常規(guī)檢測器:F – Am)

            樣品倉尺寸

            450(W) x 500(D) x 80(H)

            1030(W) x 950(D) x 500(H)

            最大樣品尺寸

            300(W) x 250(D) x 80(H)

            500(W) x 500(D) x 500(H)

            樣品最大質(zhì)量

            1 kg

            10 kg

            光學觀察

            兩個帶物鏡的高分辨率相機

            光學設(shè)計

            垂直同軸 X 射線和光學觀察

            樣品照明/觀察

            頂部、底部和側(cè)向照明/明場和暗場

            X-射線管

            功率

            50 W

            電壓

            50 kV以下

            電流

            1 mA以內(nèi)

            靶材

            Rh

            X射線光光學系統(tǒng)

            X射線頭數(shù)量

            多達配置四個

            光譜優(yōu)化初級X-射線濾光片  

            5個位置

            檢測器

            熒光X-射線檢測器

            硅漂移檢測器(SDD)

            透射X射線檢測器

            NaI(Tl)

            掃描分析

            掃描范圍

            100 mm x 100 mm

            350 mm x 350 mm

            步進尺寸

            2 mm

            4 mm

            Operating mode

            樣品環(huán)境

            全真空/局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃(選配)

            局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃(選配)*He吹掃條件對于兩個檢測器都檢測到C和F是必要的。



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