參考價	面議

掃描電鏡（SEM）

產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	價格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工

Prisma E環(huán)境掃描電鏡
這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率，并獲取最完整的樣品信息。

詳細介紹

具有環(huán)境功能的掃描電鏡，適用于工業(yè)研究和開發(fā)

主要特點

觸手可及的元素信息

通過選配 ChemiSEM 技術(shù)和集成能量色散 X 射線光譜(EDS)進行實時成分面分布以實現(xiàn)直觀元素分析。這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率，并獲取最完整的樣品信息。

出色的圖像質(zhì)量

靈活的真空模式以及通過透鏡抽真空技術(shù)，使Prisma E環(huán)境掃描電鏡可在低電壓和低真空下獲得出色的圖像質(zhì)量。且在每個操作模式下，都可實現(xiàn)二級電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時成像。

最大限度地減少樣品制備時間

低真空和ESEM環(huán)境掃描電鏡功能可對非導(dǎo)電和/或含水樣品進行無電荷/或無脫水成像和分析。

對自然狀態(tài)下的材料進行原位研究

憑借 Prisma E的環(huán)境掃描電鏡 (ESEM) 模式、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態(tài)下直接成像。

優(yōu)異的分析能力

倉室支持最多安裝3 個 EDS 探測器，其中兩個EDS接口呈180°對稱，并可安裝波長色散光譜 (WDS)、共面 EDS/EBSD，并可在低真空模式下實現(xiàn)高質(zhì)量無電荷 EDS 和 EBSD 分析。

規(guī)格

參數(shù)	分辨率在高真空、低真空和 ESEM 的 30 kV 下為 3.0 nm 在 3 kV（BSED、樣品臺減速）下為 7.0 nm
標準檢測器	ETD、低真空 SED (LVD)、 ESEM SED (GSED)、紅外CCD
可選檢測器	Thermo Scientific Nav-Cam+ 攝像機、DBS、DBS-GAD、ESEM-GAD、STEM 3+、WetSTEM、RGB-CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼、EBIC 等
ChemiSEM 技術(shù)（可選）	可基于能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進行實時定量元素面分布。包含點分析、線掃描、面分布及元素定量。
樣品臺減速（可選）	-4,000 V 至 +50 V
低真空模式	高達 2,600 Pa (H2O) 或 4,000 Pa (N2)
樣品臺	5軸馬達優(yōu)中心樣品臺，110 x 110 mm2，105° 傾斜范圍。最大樣品重量：未傾斜位置，5 kg。
標準樣品支架	標準多樣品 SEM 支架可單獨安裝在載物臺上，可容納多達 18 個標準樣品托 (? 12 mm)，無需工具即可安裝樣品
樣品倉	340 mm 內(nèi)寬，12 個接口，最多可接三個 EDS 檢測器（兩個呈 180°對稱），并具有與共面 EDS共面的EBSD接口。
原位配件（可選）	軟件控制的 -20°C 至 +60°C Peltier 冷臺軟件控制的 1,000°C 低真空/ESEM 熱臺軟件控制的 1,100°C 高真空熱臺軟件控制的 1,400°C 低真空/ESEM 熱臺集成氣體注入系統(tǒng)：用于下列材料的電子束誘導(dǎo)沉積，最多支持2種氣體（其他配件可能限制可用的注氣系統(tǒng) (GIS) 數(shù)量）：鉑鎢碳納米機械手液氮致冷臺電子探針/多探針臺
軟件選項	Thermo Scientific Maps 軟件可進行大面積圖像自動采集和拼接，并可與其它設(shè)備聯(lián)用 Thermo Scientific AutoScript 4 軟件；基于 Python 的應(yīng)用程序編程界面圖形發(fā)生軟件 TopoMaps 軟件用于圖像著色及分析和 3D 表面重建

易于使用

Prisma E環(huán)境掃描電鏡相關(guān)操作軟件具有用戶指南和撤消功能，可以使新手用戶進行高效的操作，也可極大減少專家級用戶的操作負荷。

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