目錄:靈柯精密儀器（山東）有限公司>>SMPS納米顆粒物測量系統(tǒng)>>納米粒子測量與納米顆粒物分析>> Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀：
2至400 nm粒徑分布
連續(xù)和快速掃描的測量原理
高分辨率，多達128個分類器/衰減
適用于高達10^8顆粒/立方厘米的濃度
通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計數(shù)器
圖形顯示測量值
直觀操作，使用7英寸觸摸屏和GUI
集成數(shù)據(jù)記錄儀
支持多種接口和遠程訪問
低維護
功能可靠
減少您的運營費用
適用于高氣溶膠濃度的Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱（1700型），特別適合2-400 nm范圍內(nèi)的高精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器（DEMC），也稱為差動遷移率分析儀（DMA）]，根據(jù)氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。
氣溶膠靜電計的一個主要優(yōu)點是可以進行非?？焖俚臏y量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過程或顆粒發(fā)生器的下游）?？梢酝ㄟ^物理參數(shù)直接追溯每時間單位（流量）的電荷測量值。其結(jié)果是，此方法主要用作凝結(jié)粒子計數(shù)器（例如UF-CPC）校準期間的參考。
U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作。可以在短短30秒內(nèi)執(zhí)行單粒子分布掃描，或者在多達128個尺寸通道中執(zhí)行掃描，在此期間，DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化，從而導致每個尺寸通道的計數(shù)統(tǒng)計效率更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設(shè)備上線性和對數(shù)顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數(shù)據(jù)評估（豐富的統(tǒng)計和平均值計算）和導出功能。
U-SMPS通常作為獨立設(shè)備運行，但也可以使用各種接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接到計算機或網(wǎng)絡(luò)。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和氣溶膠靜電計。
U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要，特別是對于校準。所有組件都必須通過嚴格的質(zhì)量保證測試，并在內(nèi)部組裝。
圖1展示U-SMPS的工作原理：
圖1：使用氣溶膠靜電計作為濃度測量裝置的通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）的工作原理
氣溶膠在進入分類器（DEMC列）之前經(jīng)過調(diào)節(jié)?？蛇x的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑（例如Kr 85）來確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒，需要在DEMC的入口處使用撞擊器。
然后，氣溶膠通過入口導入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護套氣流仔細合并。重要的是在此處避免任何湍流，以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有高的質(zhì)量。
鞘空氣是干燥、無顆粒的載氣（通常是空氣），其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數(shù)，因此決定DEMC的分離能力。通過施加電壓，在內(nèi)外電極之間會產(chǎn)生一個徑向?qū)ΨQ的電場。內(nèi)電極在末端帶有小縫隙，帶正電。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力，帶負電的粒子被轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率，一些顆粒會穿過狹縫并離開DEMC。
在工作中，電壓和電場因此而連續(xù)變化。結(jié)果，具有變化遷移率的顆粒會離開DEMC，并且由納米顆粒計數(shù)器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計（例如Palas®Charme®）連續(xù)測量。
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