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            成都藤田光學儀器有限公司
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            美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀
            • 美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀

            貨物所在地:四川成都市

            地: 美國

            更新時間:2025-03-18 11:29:01

            瀏覽次數:22

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            ( 聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網 上看到的信息,謝謝!)

            穆勒矩陣(Mueller Matrix)是一種強大的工具,用于全面描述和分析光與物質相互作用時的偏振變化特性。AxoScan系統(tǒng),作為一款高精度、高速度的旋光儀,通過其特的措施,在可見光范圍內對樣品的偏振特性進行了深入探索。特別是在光束直徑為3mm的條件下,AxoScan能在極短的30ms內完成對整個穆勒矩陣的測量,這一性能確保了即使在快速變化的光學環(huán)境中也能進行準確的測量。


            美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀


            AxoScan 是測量樣品偏振特性的系統(tǒng)。AxoScan可被偏振片、緩震膜和液晶顯示器制造商以及這些產品的用戶所采用。AxoScan 可以測量偏振特性(全穆勒矩陣),報告樣品的關鍵偏振參數(偏振片特性、緩釋片特性、去極化特性)。測量在單個位置進行,通常是直徑為 1.5 毫米或 3 毫米的光束。如果需要測量更小的特征,可考慮使用 AxoStep 成像偏振儀。與只測量特定偏振參數子集的 "部分 "或 "不完整 "偏振儀不同,AxoScan 和 AxoStep 可測量完整的穆勒矩陣。穆勒矩陣的 16 個元素包含了樣品可能的偏振特性。有易于使用的軟件可自動將穆勒矩陣轉換為透射率、偏振片特性(衰減和偏振)、延遲和去極化等有意義的參數。Axometrics 還可為較多行業(yè)提供定應用軟件。

            美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀

            美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀

            技術參數

            型號

            MMSP-VIS

            波長范圍

            400-1000 nm

            探測器類型

            硅光電二極管

            分辨率

            約1320 x 1024

            時間

            約1~2.5秒/區(qū)域

            探測器尺寸

            7.87毫米(直徑)

            型號

            MMP-HSO

            波長范圍

            380-700 nm

            探測器類型

            光電倍增管

            型號

            MMP-NIR

            波長范圍

            1250 - 1600 nm  

            探測器類型

            InGaAs 光電二極管




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