閃光法導(dǎo)熱分析儀遵照 ASTM E1461 標(biāo)準(zhǔn)，Nanoflash™ 使用氙燈作為加熱源加熱樣品表面，使用紅外探測器讀取樣品溫升，減少了潛在的表面熱阻，可以精確測量薄的樣品如基質(zhì)上的涂層、薄膜材料或三明治樣品。Nanoflash™ 操作便捷，測量速度快，性價(jià)比高，其所測量的熱擴(kuò)散系數(shù)范圍十分寬廣，覆蓋從聚合物到金剛石各類材料領(lǐng)域。  Nanoflash™ 的操作實(shí)現(xiàn)高度自動化：由軟件控制測試溫度與閃光燈啟閉，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。自動進(jìn)樣系統(tǒng)允許儀器在一次測試過程中測量多個(gè)樣品。在爐體到達(dá)設(shè)定溫度后，每一數(shù)據(jù)點(diǎn)的采集通常短于五分鐘。儀器可以為每一樣品單獨(dú)設(shè)置閃光能量等級、脈沖寬度與溫度。 儀器特點(diǎn)： 溫度范圍：RT ～ 200℃。  可測熱擴(kuò)散系數(shù)、比熱與導(dǎo)熱系數(shù)。 

閃光法導(dǎo)熱分析儀 自動進(jìn)樣系統(tǒng)。  多種激光脈沖寬度。  基于 Windows 平臺的功能強(qiáng)大的分析軟件。     測量原理：  作為加熱源的氙燈發(fā)射一束脈沖，打在樣品的下表面，由紅外探測器測量樣品上表面的相應(yīng)溫升，并由軟件計(jì)算出樣品的熱擴(kuò)散系數(shù)。 儀器可以同步測量熱擴(kuò)散系數(shù)（α）與比熱（Cp）。比熱的測量是通過比較樣品的實(shí)際溫升與已知比熱的參比樣的溫升求得。若已知樣品的密度（ρ），則可計(jì)算出樣品的導(dǎo)熱系數(shù)（λ）。