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            通過D-Swafer中心 切割技術使用GC/MS研究溶劑中的雜質

            閱讀:1209      發(fā)布時間:2020-02-11
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            溶劑在制藥和食品生產企業(yè)因為各種各樣的目的被廣泛使用。重要的是,這些溶劑在使用之前,都必須經過精心的質量控制(QC)測定,以確保其中不含有不安全級別的雜質。
            氣相色譜(GC) 是分析溶劑中雜質的優(yōu)選技術,再配上一臺質譜檢測器,就可以鑒定其中所含的雜質是什么。
            由于許多溶劑都是通過分餾生產而得到,因此雜質將與溶劑具有相類似的沸點。因而在GC分析中,雜質的保留時間將與溶劑接近,從而共流出的風險將非常高。
            因此,當溶劑被洗脫出來時,如果質譜保持工作狀態(tài)離子源或者檢測器的污染可能會導致燈絲損壞的風險大大增加。本應用文獻介紹了-種中心切割技術,該技術允許所有注射的樣
            品到達檢測器,從而解決了溶劑峰分離度和潛在的檢測器損壞的問題。
             
             

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            珀金埃爾默企業(yè)管理(上海)有限公司

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