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電位滴定法是一種常量精密分析方法，它的主要精度主要取決于以下幾個(gè)因素：
1、 滴定反應(yīng)的平衡常數(shù)K;
2、 滴定時(shí)所選擇的具體參數(shù);
3、 電位滴定終點(diǎn)的判別方法;
4、 滴定劑濃度的準(zhǔn)確度;
5、 滴定管發(fā)送精度;
6、 滴定池的結(jié)構(gòu)。
7、 樣品前處理與滴定時(shí)吸液(或稱重)引起誤差等因素。
在上述諸因素中，樣品前處理與滴定時(shí)吸液(或稱重)引起誤差和化學(xué)反應(yīng)的因素是決定滴定精度的zui重要而且是zui根本的因素。這里簡(jiǎn)單敘述只跟化學(xué)反應(yīng)有關(guān)的銳度指數(shù)的問(wèn)題，其他因素請(qǐng)參閱有關(guān)參考文獻(xiàn)。
銳度指數(shù)
通常等當(dāng)點(diǎn)附近的滴定曲線愈陡，則滴定誤差愈小。而斜率總是取決于滴定反應(yīng)的平衡常數(shù)K，所以滴定曲線的斜率代表了由滴定反應(yīng)熱力學(xué)所決定的準(zhǔn)確度的限度。這下點(diǎn)是不可能用實(shí)驗(yàn)技巧和改進(jìn)儀器加于改變的。
另外等當(dāng)點(diǎn)處的滴定曲線又取決于實(shí)驗(yàn)所選擇的參數(shù)。所以只有在同樣的實(shí)驗(yàn)條件下得到的滴定曲線才能比較斜率。為此引進(jìn)了銳度指數(shù)這個(gè)概念。
h=¶ log (C) / ¶ F
式中C為被測(cè)物質(zhì)的濃度;F為滴定分?jǐn)?shù)(可以表示為體積比)。
滴定過(guò)程中所監(jiān)測(cè)的電位是被測(cè)物質(zhì)濃度C對(duì)數(shù)的線性函數(shù)(E=A+B log (C))。同時(shí)F按定義與V成正比。所以等當(dāng)點(diǎn)附近滴定曲線的斜率便與銳度指數(shù)h成正比。所以
DV=(Eend-Eequ)/g hequ
所以可將等當(dāng)點(diǎn)處的銳度指數(shù)hequ作為表示電位滴定準(zhǔn)確度的量度。J.N.Butlerr的研究表明：hequ>1000，滴定誤差不超過(guò)0.1%;hequ在0-1000之間，滴定仍是可行的，但滴定誤差較大，為0.1%-5%; hequ<10, 則無(wú)法確定滴定終點(diǎn)，滴定無(wú)實(shí)際意義。再好的滴定儀也無(wú)能為力了。
所以，有了一臺(tái)高精度的電位滴定儀，不一定所有的滴定反應(yīng)都能得到的分析結(jié)果。
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