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固體表面電位儀動態(tài)技術(shù)分析
固體表面電位儀DelsaNanoC/SS是目前惟一的應(yīng)用電泳光散射及動態(tài)光散射原理，同時提供顆粒Zeta電位分布、固體及薄膜液-固表面Zeta電位分布和納米粒度分布的分析儀。DelsaNnaoC/SS通過特別設(shè)計的固體平板樣品池，有效地為固體材料、纖維材料、薄膜材料等提供ZETA電位分析。為廣大的新材料研究、生產(chǎn)提供的、多用途的分析工具。
使用動態(tài)（流動氣體）分析技術(shù)，可完成化學吸附（分散度、活性金屬面積、晶粒尺寸、表面酸性和脈沖化學吸附）和物理吸附（單點BET表面積，Langmuir表面積，總
多功能自動化程序升溫化學吸附儀
多功能自動化程序升溫化學吸附儀[2]圖冊
孔體積）。具有更高的精度、測量速度快、可適用多種實驗等優(yōu)勢。
固體表面電位儀針對各種形狀的固體
各種不同的測量池適用于天然的和人造的纖維和織物、顆粒樣品、粗顆粒和平板樣品。
突破極限-流動奧妙
快速測量：
Zeta電位測量少于2分鐘
表面Zeta電位直接分析：
適用于實際樣品，無需使用示蹤顆粒
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