AEC-Q200試驗條件

來源：廣東宏展科技有限公司 2019年03月25日 10:55

AEC-Q200試驗條件

說明：AEC-Q200的環(huán)境試驗條件，主要是依據(jù)MIL-STD-202與JEDEC22A-104規(guī)范來制定的，不同零件的試驗溫度除了不一樣之外，其施加電源(電壓、電流、負載)要求也會有所不同，高溫儲存屬于不施加偏壓與負載，但是在高溫工作壽命就需要，溫度循環(huán)與溫度沖擊，其試驗?zāi)康呐c手法不一樣，在溫度循環(huán)中高低溫變化需控制溫變率，溫沖擊則不用，偏高濕度就是俗稱的高溫高濕試驗，而濕度抵抗就是濕冷凍試驗

試驗條件注意事項：1000h試驗過程需在250h、500h進行間隔量測

高溫儲存(MIL-STD-202-108)：[適用設(shè)備：高低溫試驗箱]
薄膜電容、網(wǎng)絡(luò)低通濾波器、網(wǎng)絡(luò)電阻、熱敏電阻、可變電容、可變電阻、陶瓷共鳴器、EMI干擾抑制器、EMI干擾過濾器：85℃/1000h
電感、變壓器、電阻：125℃/1000h
變阻器：150℃/1000h
鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容：*大額定溫度/1000h

高溫工作壽命(MIL-STD-202-108)：[適用設(shè)備：高低溫試驗箱]
網(wǎng)絡(luò)低通濾波器、網(wǎng)絡(luò)電阻：85℃/1000h
EMI干擾抑制器、EMI干擾過濾器：85℃/1000h/施加額定IL
鉭電容、陶瓷電容：*大額定溫度/1000h/ (2/3)負載/額定電壓
鋁電解電容、電感、變壓器：105℃/1000h
薄膜電容：1000h/(85℃/125%額定電壓、105℃&125℃/100%額定電壓)
自恢復(fù)保險絲：125℃/1000h
電阻、熱敏電阻、可變電容：125℃/1000h/額定電壓
可變電阻：125℃/1000h/額定功率
變阻器：125℃/1000h/額定電壓85％+ma電流
陶瓷共鳴器：85℃/1000h/額定VDD+1MΩ，并聯(lián)逆變器，在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容
石英震蕩器：125℃/1000h/額定VDD+1MΩ，并聯(lián)逆變器，在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容

溫度循環(huán)(JEDEC22A-104)：[適用設(shè)備：冷熱沖擊試驗箱、ESS快速溫度變化試驗箱]
薄膜電容、可變電容、可變電阻、陶瓷共鳴器、EMI干擾抑制器、EMI干擾過濾器：-55℃(30min)←→85℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles
鉭電容、陶瓷電容、電阻、熱敏電阻： -55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles
鋁電解電容：-40℃(30min)←→105℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles
電感、變壓器、變阻器、石英震蕩器、自恢復(fù)保險絲：-40℃(30min)←→125℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles
網(wǎng)絡(luò)低通濾波器、網(wǎng)絡(luò)電阻：-55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles

溫度沖擊(MIL-STD-202-107)：[適用設(shè)備：溫度循環(huán)箱、冷熱沖擊試驗箱]
自恢復(fù)保險絲：-40℃(15min)←→125℃(15min)/300cycles
偏高濕度(MIL-STD-202-103)：[適用設(shè)備：高低溫濕熱試驗箱]
鉭電容、陶瓷電容：85℃/85%R.H./1000h/電壓1.3～1.5V
電感&變壓器：85℃/85%R.H./1000h/不通電
鋁電解電容：85℃/85%R.H./1000h/額定電壓
EMI干擾抑制器、EMI干擾過濾器：85℃/85%R.H./1000h/額定電壓＆電流
電阻、熱敏電阻：85℃/85%R.H./1000h/工作電源10%
自恢復(fù)保險絲：85℃/85%R.H./1000h/額定電流10%
可變電容、可變電阻：85℃/85%R.H./1000h/額定功率10%
網(wǎng)絡(luò)低通濾波器&網(wǎng)絡(luò)電阻：85℃/85%R.H./1000h/電壓[網(wǎng)絡(luò)電容(額定電壓)、網(wǎng)絡(luò)電阻(10%額定功率)]
變阻器：85℃/85%R.H./1000h/額定電壓85％+ma電流
石英震蕩器、陶瓷共鳴器：85℃/85%R.H./1000h/額定VDD+1MΩ，并聯(lián)逆變器，在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容
薄膜電容：40℃/93%R.H./1000h/額定電壓

濕度抵抗(MIL-STD-202-106)：[適用設(shè)備：高低溫濕熱試驗箱]
薄膜電容：(25℃←→65℃/90%R.H.*2cycle)/18h→-10℃/3h，每一cycle共24h，step7a&7b不通電

AEC-Q200專有名詞整理：

簡稱	中文	英文	說明
8D	解決問題方法
AEC	汽車電子設(shè)備協(xié)會	Automotive Electronic Council	由車廠[克賴斯勒(Chrysler)、福特(Ford)、通用汽車(GM)]發(fā)起并創(chuàng)立于1994年，目前會員遍及各大汽車廠、汽車電子與半導(dǎo)體廠商。
AEC-Q001	零件平均測試指導(dǎo)原則
AEC-Q002	統(tǒng)計式良品率分析的指導(dǎo)原則
AEC-Q003	芯片產(chǎn)品的電性表現(xiàn)特性化的指導(dǎo)原則
AEC-Q005	無鉛測試要求
AEC-Q100	基于集成電路應(yīng)力測試認證的失效機理		規(guī)范了零件供貨商所必須達成的產(chǎn)品質(zhì)量與可靠度，試驗條件多仍以JEDEC或MIL-STD為主，外加上其它獨立建置的測試手法。
AEC-Q100-001	邦線切應(yīng)力測試
AEC-Q100-002	人體模式靜電放電測試
AEC-Q100-003	機械模式靜電放電測試
AEC-Q100-004	集成電路閂鎖效應(yīng)測試
AEC-Q100-005	可寫可擦除的記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試
AEC-Q100-006	熱電效應(yīng)引起的寄生閘極漏電流測試
AEC-Q100-007	故障仿真和測試等級
AEC-Q100-008	早期壽命失效率（ELFR）
AEC-Q100-009	電分配評估
AEC-Q100-010	錫球剪切測試
AEC-Q100-011	帶電器件模式的靜電放電測試
AEC-Q100-012	12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述
AEC-Q101	汽車級半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力測試認證
AEC-Q200	無源器件應(yīng)力測試標準
AEC-Q200-001	阻燃測試
AEC-Q200-002	人體模式靜電放電測試
AEC-Q200-003	橫梁負載、斷裂強度
AEC-Q200-004	自恢復(fù)保險絲測量程序
AEC-Q200-005	板彎曲度測試
AEC-Q200-006	表面貼裝后的剪切強度測試
AEC-Q200-007	電涌測試

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