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            電化學(xué)工作站CS312H

            來源:山東鴻得實業(yè)有限公司   2019年07月25日 10:35  

            CS 電化學(xué)工作站是集電化學(xué)分析方法和電化學(xué)測試方法于一體的電化學(xué)通用儀器,軟件具備實驗數(shù)據(jù)自動處理和實驗結(jié)果分析功能,可用于多種電化學(xué)相關(guān)測試與研究。

            具體應(yīng)用于:1)研究電化學(xué)機(jī)理;物質(zhì)的定性定量分析;2)常規(guī)電化學(xué)測試,包括電合成、電沉積(電鍍)性能評價;3)功能和能源材料(電池、超級電容器、納米材料、生物傳感器等)的機(jī)理和制備研究;4)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率快速評價以及氫滲測試等;5)金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)(包括水/土壤/混凝土等環(huán)境)中的腐蝕電化學(xué)測試。

            1、硬件參數(shù)指標(biāo)

             

            恒電位電位控制范圍:±10V

            恒電流控制范圍:±2.0A

            電位控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV

            電流控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)

            電位分辨率:10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz)

            電流靈敏度:1pA

            電位上升時間:<1mS(<10mA),<10mS(<2A)

            參比電極輸入阻抗:1012W||20pF

            電流量程:2A2nA, 10

            槽壓:±21V

            大輸出電流:2.0A

            CV LSV掃描速度:0.001mV10000V/s

            CACC脈沖寬度:0.000165000s

            電流掃描增量:1mA @1A/mS

            電位掃描時電位增量:0.076mV @1V/mS

            SWV頻率:0.001100KHz

            DPVNPV脈沖寬度:0.00011000s

            AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz, 20bit @1KHz

            DA分辨率:16bit, 建立時間:1mS

            CV的小電位增量:0.075mV

            IMP頻率:10mHz~1MHz

            低通濾波器:8段可編程

            電流與電位量程:自動設(shè)置

            接口通訊模式:USB2.0

             

            2、電化學(xué)阻抗功能指標(biāo)

            信號發(fā)生器:

            頻率響應(yīng):10mHz~1MHz

            交流信號幅值:0mV~2500mV

            直流偏壓:-10~+10V

            DDS輸出阻抗:50W

            波形:正弦波,三角波,方波

            正弦波失真:<1%

            掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降

            大負(fù)載電容:1nF;大負(fù)載電感:10mH

            信號分析器:

            積分時間:小值:10mS 或者一個循環(huán)的長時間

            大值:106個循環(huán)或者105S

            測量時間延遲:0~105

            直流偏置補(bǔ)償:

            電位自動補(bǔ)償范圍:-10V~+10V

            電流補(bǔ)償范圍:-1A~+1A

            帶寬調(diào)整(Bandwidth) :自動或手動設(shè)置, 8級可調(diào)

            3、功能方法對比

            CS350HCS310H、CS312H和CS315H硬件參數(shù)指標(biāo)、電化學(xué)阻抗指標(biāo)相同,電化學(xué)功能方法設(shè)置有區(qū)別,詳細(xì)比較見下圖:

            功 能 方 法

            CS350H

            CS310H

            CS312H

            CS315H

            穩(wěn)態(tài)極化

            開路電位測量(OCP

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            恒電位極化(I-t)

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            恒電流極化

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            動電位掃描(Tafel

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            動電流掃描(DGP

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            暫態(tài)極化

            任意恒電位階梯

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            任意恒電流階梯

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            多電位階躍(VSTEP

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            多電流階躍(ISTEP

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            計時分析

            計時電位法(CP

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            計時電流法(CA

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            計時電量法(CC

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            伏安分析

            線性掃描伏安法(LSV

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            循環(huán)伏安法(CV

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            階梯伏安法(SCV

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            差分脈沖伏安法(DPV

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            常規(guī)脈沖伏安法(NPV

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            方波伏安法(SWV

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            交流伏安法(ACV

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            常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV

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            二次諧波交流伏安SHACV

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            恒電位溶出伏安

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            線性溶出伏安

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            階梯溶出伏安

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            方波溶出伏安

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            交流溶出伏安

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            交流阻抗

            電化學(xué)阻抗(EIS)~頻率掃描

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            電化學(xué)阻抗(EIS)~時間掃描

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            電化學(xué)阻抗(EIS)~電位掃描

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            腐蝕測量

            循環(huán)極化曲線(CPP

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            線性極化曲線(LPR

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            電化學(xué)噪聲EN

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            電偶腐蝕測量ZRA

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            氫擴(kuò)散測試(HDT

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            電池

            電池充放電測試

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            恒電流充放電

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            擴(kuò)展測量

            盤環(huán)電極測試

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            數(shù)字記錄儀

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            波形發(fā)生器

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            圓盤電機(jī)控制

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