全質(zhì)構(gòu)測(cè)試方法

全質(zhì)構(gòu)測(cè)試（Texture Profile Analysis，簡(jiǎn)寫TPA），又稱二次咀嚼實(shí)驗(yàn)，是由Szczeniak等人于1963年確定的綜合描述食品物性的質(zhì)構(gòu)分析法。TPA實(shí)驗(yàn)是目前在食品檢測(cè)方面應(yīng)用非常廣泛的測(cè)試方法。

測(cè)試時(shí)常選用圓柱或圓盤探頭，一般會(huì)要求探頭截面積大于被測(cè)樣品的表面積。

1、 TPA實(shí)驗(yàn)過(guò)程描述

探頭從起始位置開始，以*速度壓向測(cè)試樣品，接觸到樣品的表面后（常以觸發(fā)力來(lái)判定是否接觸到樣品）再以*的測(cè)試速度對(duì)樣品進(jìn)行*距離或形變量的壓縮，而后返回到壓縮的觸發(fā)點(diǎn)，接著開始第二次擠壓或停留一段時(shí)間后繼續(xù)向下壓縮同樣的距離，而后以*的測(cè)后速度返回到起始位置。

2、TPA典型圖譜

通過(guò)TPA實(shí)驗(yàn)可以得到樣品的多項(xiàng)物性指標(biāo)，指標(biāo)包括基本參數(shù)，即直接測(cè)試得到的指標(biāo)，如硬度（hardness）、脆性（fracturability）、粘附性（stringiness）、粘附力（adhesiveness）、粘附力做功、彈性（springiness），等，以及二級(jí)指標(biāo)內(nèi)聚性（cohesiveness）、膠黏性（gumminess）、咀嚼性（chewiness）等。