表面形貌儀采用的白光共聚焦技術(shù),Zui高掃描速度可達1m/s,可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,測量不受樣品反射率和光的影響,測量簡單,可用于測量大尺寸樣品,如透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料等,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料,光學(xué)元件、陶瓷和先進材料的研發(fā)。
測量原理:
低相干白光同時照射樣品和參考平面,被樣品和參考平面反射的兩束白光發(fā)生干涉后由陣列式CMOS探測器接收,由于探測器直接與信號處理芯片(Smart Pixel技術(shù))連接,所以陣列上每個像素點的信號都在芯片中完成鎖相放大,背景信號補償和結(jié)果計算輸出,成像于計算機就實現(xiàn)了樣品表面的快速三維形貌測量。
在工業(yè)的應(yīng)用領(lǐng)域:
食品安全在線檢測。
微電子集成電路表面形貌在線檢測。
印刷電路板品質(zhì)檢測。
零件器件表面劃痕損傷檢測。
微機械精加工質(zhì)量控制,如鐘表,微機械器件等。
電子產(chǎn)品零件在線監(jiān)控,如手機,筆記本電腦,平板等。
微流體器件三維形貌檢測。
在線檢測設(shè)備集成。
證件防偽,安檢。
技術(shù)特點:
1、每秒一百萬張二維圖像。
2、無損表面形貌檢測和分析。
3、高精度在線/離線檢測。
4、模塊化設(shè)計,超高集成靈活性。
5、無需苛刻的工作環(huán)境(振動,噪聲,溫度等)。
6、可應(yīng)用于科研和工業(yè)領(lǐng)域。
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