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            新開發(fā)的分析技術:偏振X射線用于熒光分析

            來源:廣州儀德精密科學儀器股份有限公司   2020年05月13日 15:22  

              德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種新技術,那就是把偏振X射線應用于熒光分析,這種技術極其成功。

             

              像如今在拍攝高質(zhì)量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種先進的分析技術也成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。

             

              斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術,并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀

             

             

              SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件,由此獲得了較好的靈敏度和準確性。偏振刺激靶的設計,確保激發(fā)的進行。12位樣品自動交換器、預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊,使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

             

              擴展的偏振光學系統(tǒng)的輻射源*采用50W低能量的X射線管,可用于Na-U元素的同時分析。從X射線中發(fā)出的原始X射線通過高通量偏振光學系統(tǒng)進行轉(zhuǎn)換,可以得到*偏振且部分單色的X射線,由此能夠高靈敏地測定各種元素。這種分析技術在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。

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