ABB接觸器DS6-340-30K-MX

虛擬儀器技術(shù)在開關(guān)電器參數(shù)檢測中的應(yīng)用
隨著虛擬儀器技術(shù)的發(fā)展與成熟，虛擬儀器技術(shù)越來越多的被應(yīng)用在繼電器、接觸器等開關(guān)電器的測試中。虛擬儀器技術(shù)是一種以軟件為中心的新型測量技術(shù)，它可以大大降低試驗儀器成本。測量功能主要由軟件編程來實現(xiàn)，在以工控機(jī)為核心組成的硬件平臺支持下，通過Lab VIEW軟件開發(fā)平臺編程實現(xiàn)儀器的測試功能。Lab VIEW應(yīng)用庫中加載了很多不同用途的測試與控制模塊，用戶可以在Lab VIEW應(yīng)用程序下直接調(diào)用相關(guān)模塊即可實現(xiàn)多種測試功能。與傳統(tǒng)的匯編、VB、VC等文本編程語言相比，Lab VIEW軟件程序的編寫非常簡單。在Lab VIEW環(huán)境下安裝數(shù)據(jù)采集卡的驅(qū)動后，即可調(diào)用采集卡的功能函數(shù)實現(xiàn)對采集卡的控制、數(shù)據(jù)的采集、處理、顯示等功能。 [2] 
4. 繼電器時間參數(shù)的獲取方法
繼電器時間參數(shù)的檢測主要利用電秒表和光線示波器等模擬試驗的方法得到，傳統(tǒng)檢測方法測量速度慢、誤差大、測量不準(zhǔn)確等。隨著計算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的繼電器檢測裝置應(yīng)用微處理器，這些檢測裝置其原理大體相同。文獻(xiàn)中提到了一種時間參數(shù)檢測電路，該電路主要組成部分為單片機(jī)，其檢測原理為：當(dāng)繼電器觸點閉合時，單片機(jī)對應(yīng)輸入通道電壓為 5V，端口為“1”，當(dāng)繼電器斷開時，其對應(yīng)電壓為 0V，I/O端口為“0”。當(dāng)給繼電器加勵磁電壓時，單片機(jī)以足夠小的采樣周期讀取單片機(jī)對應(yīng)的數(shù)字I/O端口，經(jīng)過數(shù)據(jù)處理，即可計算出相應(yīng)的時間參數(shù)。但是采用此種方法在繼電器接直流負(fù)載時基本符合，當(dāng)接交流負(fù)載時，由于交流電壓是交變的，繼電器斷開時時單片機(jī)端口電壓的瞬時值也有可能很小或接近于零。因此，在觸點所接回路為交流回路時，利用觸點間電壓瞬時值的大小來判斷觸點的閉合與斷開狀態(tài)，誤差就會很大，從而得不到準(zhǔn)確的數(shù)值。文獻(xiàn)中提到了一種繼電器時間參數(shù)的計算機(jī)檢測方法，它采用自行研制的采集板卡，其主要由單片機(jī)及其外圍電路組成。該方法可以檢測到繼電器動作時間、動作回跳時間、釋放時間、釋放回跳時間等時間參數(shù)。單片機(jī)接于線圈驅(qū)動電路中控制勵磁線圈通電與斷電，采集繼電器閉合與分?jǐn)鄷r觸點的狀態(tài)，并計算其時間參數(shù)。其檢測原理為：當(dāng)繼電器線圈通電時觸點經(jīng)過定的動作時間才能夠閉合，因此單片機(jī)先采集到數(shù)據(jù) 0，觸點閉合穩(wěn)定后采集到 1。在此過程中觸點會產(chǎn)生彈跳，后才能達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)，在此期間單片機(jī)采集到的數(shù)據(jù)或為 0 或為 1。設(shè)定單片機(jī)的采樣周期為 0.01ms，由單片機(jī)采集到的數(shù)據(jù)的地址值乘以采樣周期，即為所求動作時間。 [2] 
5. 接觸器動態(tài)性能檢測技術(shù)與綜合評判方法
對電器技術(shù)性能的考核主要還是采用型式試驗，該方法側(cè)重于考察電器的機(jī)械與電氣壽命，并不能對電器的動態(tài)特性及其機(jī)械電氣壽命的影響進(jìn)行綜合評估。因此研究基于動態(tài)特性檢測的電器性能綜合評估對于電器產(chǎn)品的研制與出廠檢測具有實際指導(dǎo)意義。文獻(xiàn)通過對交流接觸器動態(tài)過程進(jìn)行測試，從觸頭測試波形中提取能夠表征接觸器機(jī)械及電氣特性的參數(shù)，通過建立接觸器性能綜合評判模型，從而形成接觸器動態(tài)性能綜合評判系統(tǒng)。交流接觸器動態(tài)測試裝置以DSP為核心，搭建各種信號傳感器，通過RS232 與上位機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。該測試裝置可以完成對接觸器勵磁電流、電壓，吸合過程線圈功耗的電氣參數(shù)的測量。對本課題試驗裝置的搭建具有實際的指導(dǎo)作用，同時其提出的接觸器性能評判系統(tǒng)對本課題將要研究的接觸器性能退化及可靠性估計具有重要的參考價值。

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