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            利用真空衰減法進(jìn)行包裝密封完整性測(cè)試

            來(lái)源:濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司   2020年10月13日 13:43  

            現(xiàn)行包裝完整性/密封性檢測(cè)方法

              目前,國(guó)內(nèi)包裝完整性/密封性方面的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)主要為GB/T 15171-1994《軟包裝件密封性能試驗(yàn)方法》。通過(guò)對(duì)檢測(cè)儀器的真空室抽真空,使浸在真空室水中的試樣產(chǎn)生內(nèi)外壓差,觀測(cè)試樣內(nèi)氣體外逸情況,若試樣在抽真空和真空保持期間無(wú)連續(xù)的氣泡產(chǎn)生,則試樣密封性合格?;蛲ㄟ^(guò)對(duì)真空室抽真空,使試樣產(chǎn)生內(nèi)外壓差,通過(guò)觀察試樣膨脹及釋放真空后試樣形狀恢復(fù)情況,判斷試樣的密封性能。

             

            現(xiàn)行方法的缺陷

              上述傳統(tǒng)水檢法能穩(wěn)定檢測(cè)直徑約20微米的漏孔,那么20微米以下的漏孔會(huì)對(duì)包裝的密封性和內(nèi)容物的質(zhì)量產(chǎn)生什么影響呢?圖1和圖2給出了答案。

              圖1中,我們可以發(fā)現(xiàn)1E-3mabr.L/S(0.001mbar.L/S)的泄漏率大約對(duì)應(yīng)的是6~10um右的漏孔孔徑。從圖2中,該泄漏率能在100天左右使包裝內(nèi)的氧氣含量從接近0%升至1.8%。而在1E-1mabr.L/s,即0.1mabr.L/S泄漏率(約70um)情況下,氧氣含量在1天左右時(shí)間就由0上升至2.5%。對(duì)于密封要求極為嚴(yán)格的藥品包裝,若采用水檢法,極易忽視20微米以下孔徑的漏孔造成的氧氣、水蒸氣的滲入,從而導(dǎo)致藥品在保質(zhì)期內(nèi)出現(xiàn)質(zhì)量劣變。因此,水檢法遠(yuǎn)遠(yuǎn)滿(mǎn)足不了藥品包裝的密封性能質(zhì)控要求。

            圖1:泄漏孔徑與泄漏率的相關(guān)性

            圖2:泄漏率、存儲(chǔ)時(shí)間與包裝內(nèi)氧氣含量關(guān)系

              其次,水檢法另外一個(gè)缺陷是測(cè)試結(jié)果無(wú)法定量出具泄漏值,是通過(guò)人工目測(cè)是否產(chǎn)生連續(xù)氣泡的方式判定密封效果,其結(jié)果不可重現(xiàn),受人為影響較大。

              后,也是致命的缺點(diǎn),就是水檢法是破壞性方法,所有經(jīng)過(guò)水測(cè)試的樣品不管合格與否都不得再銷(xiāo)售,這樣會(huì)對(duì)樣品造成JI大的浪費(fèi),尤其是價(jià)格昂貴的藥品。
             

            創(chuàng)新解決方法——真空衰減法密封性測(cè)試

              當(dāng)前歐美等發(fā)達(dá)國(guó)家各類(lèi)無(wú)損密封性檢測(cè)方法已經(jīng)廣泛應(yīng)用于藥品包裝密封性檢測(cè),其中,真空衰減法是無(wú)損密封性檢驗(yàn)的通用解決方案。其原理,就是通過(guò)對(duì)測(cè)量室抽真空至目標(biāo)壓強(qiáng),從而在包裝件與測(cè)量室之間的營(yíng)造壓差環(huán)境。在此環(huán)境中,氣體透過(guò)包裝上的微小漏孔散逸并充盈在測(cè)量室中,導(dǎo)致測(cè)量室內(nèi)壓強(qiáng)上升,利用已知壓差、時(shí)間間隔 、壓強(qiáng)的上升量可計(jì)算出漏率。

             

            Labthink蘭光真空衰減法密封試驗(yàn)儀

            測(cè)試下限:低于直徑1微米的漏孔,行業(yè)內(nèi)低測(cè)試下限,可致電咨詢(xún)。

            合規(guī)性:符合ASTM、中國(guó)GMP、美國(guó)藥典、FDA等

             

            試驗(yàn)流程

            1. 將試樣放入測(cè)試腔體,根據(jù)設(shè)定的真空度對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空。在抽真空階段,如果在的抽真空時(shí)間內(nèi),實(shí)際真空度無(wú)法達(dá)到參考真空度,那么包裝有大漏。
            2. 在保壓階段,如果在的保壓時(shí)間內(nèi),實(shí)際真空度無(wú)法達(dá)到參考真空度,那么包裝有中漏。
            3. 在測(cè)試階段,如果實(shí)際真空衰減率值大于參考真空衰減率值,那么包裝有微漏。

             

            試驗(yàn)流程步驟示意圖

             

            測(cè)試應(yīng)用:西林瓶、安瓿瓶、輸液瓶、卡氏瓶、預(yù)充針、輸液袋等

             

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