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納米顆粒分析儀廣泛應(yīng)用于各類研發(fā)實驗室。該儀器基于傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡，搭配激光光源，可以檢視0.3 ml樣品中的納米級顆粒，并采用了近乎的黑色背景，可使布朗運動下的粒子觀測和分析更為方便。
納米顆粒軌跡分析圖像軟件套裝可使用戶對單個顆粒進行自動地軌跡和尺寸分析，結(jié)果可顯示為分布圖或數(shù)據(jù)表的形式，既可提供直接實時的納米顆粒檢視，也可給出全面的顆粒粒徑分布分析。除此之外，還可以拍攝視頻供進一步研究參考。
納米顆粒分析儀性能特點：
先進的測試原理 該儀器采用動態(tài)光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點，從而保證了測試結(jié)果的真實性和有效性；
高靈敏度與信噪比 探測器采用HAMAMATSU光電倍增管(PMT)，其具有*的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確度；
超高速數(shù)據(jù)采集 核心部件采用數(shù)字相關(guān)器，它實時完成動態(tài)散射光強的采集和自相關(guān)函數(shù)運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態(tài)光散射信息，為測試結(jié)果的準(zhǔn)確度奠定基礎(chǔ)；
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩(wěn)定性；
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導(dǎo)體溫控技術(shù)，溫控精度高達±0.2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導(dǎo)致的測試偏差，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性。
應(yīng)用領(lǐng)域：
該儀器可被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳納米材料、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和CMP等各種納米級、亞微米級粒子粒徑檢測，以及膠體、乳液等的Zeta電位分析。
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