麥克儀器公司（Micromeritics ）是用于表征顆粒、粉末和多孔材料的高性能儀器生產(chǎn)商，該公司重點介紹了其全自動Micromeritics TriStar II Plus 3030三站式比表面和孔隙度分析儀。Micromeritics TriStar II Plus 3030利用高級非局部密度泛函理論(NLDFT)模型，使用戶能夠結(jié)合從氮氣和二氧化碳等溫線收集的信息，在存在分子尺寸的孔隙的材料(如碳縫孔)上提供完整的孔徑分布。與標(biāo)準(zhǔn)氮氣分析相比，該方法的孔徑分析范圍擴大到低至0.35nm 的微孔分析。使用CO2提供了進(jìn)入超微孔的途徑，這些超微孔在低溫下由于動力學(xué)大小限制、連接性問題或擴散極慢而不能被N2接觸到。

作為三站式氣體吸附儀，TriStar II Plus 3030確保快速而全面的材料分析能力，從而實現(xiàn)快速而高效的質(zhì)量控制分析。此外，該分析儀還具有滿足研究要求的準(zhǔn)確度、分辨率和數(shù)據(jù)處理能力。Micromeritics公司總裁兼CEO  Terry Kelly表示：“TriStar II Plus 3030是一款久負(fù)盛名的比表面積和孔隙率分析儀，受到學(xué)術(shù)界和工業(yè)市場的高度贊賞，因為它為我們的客戶提供了從添加劑制造、電池和燃料電池到催化劑、納米管或制藥等廣泛應(yīng)用的大靈活性，多種分析和數(shù)據(jù)整理突顯了我們對結(jié)構(gòu)特性提供分析能力的持續(xù)承諾。”

The TriStar II Plus可以使用氮氣、氬氣、二氧化碳和其他例如丁烷、甲烷等非腐蝕性氣體。對于很難表征的包括原料藥、輔料、研磨劑和其他低表面積(<1m2/g)的應(yīng)用，氪選項可提高這些材料的測量精度。Micromeritics MicroActive數(shù)據(jù)處理和控制軟件提供了一個簡單易用的界面，可以快速將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為表面積和孔隙率信息。

Micromeritics 

TriStar II Plus 3030 
比表面積和孔隙度分析儀

關(guān)于麥克儀器公司

麥克儀器公司是專業(yè)提供表征顆粒，粉體和多孔材料的物理性能，化學(xué)活性和流動性的高性能設(shè)備生產(chǎn)商。我們的技術(shù)包括：比重密度法、吸附、動態(tài)化學(xué)吸附、顆粒大小和形狀、壓汞孔隙度測定、粉末流變學(xué)和催化劑活性測試。公司在美國、英國和西班牙設(shè)有研發(fā)和生產(chǎn)基地，并在美洲、歐洲和亞洲設(shè)有直銷和服務(wù)業(yè)務(wù)。麥克儀器是創(chuàng)新性的公司，產(chǎn)品是著名的政府和學(xué)術(shù)機構(gòu)的10,000多個實驗室儀器。我們擁有世界科學(xué)家和積極響應(yīng)的支持團隊，通過將Micromeritics技術(shù)應(yīng)用于客戶的需求，幫助客戶獲得成功。