項(xiàng)目

冷熱沖擊試驗(yàn)

 快速溫變（環(huán)境應(yīng)力篩選ESS） 

備注

試驗(yàn)?zāi)康?/span>

 主要考核試件在溫度瞬間急劇變化一定次數(shù)后,檢測(cè)試樣因熱脹冷縮(CTE見(jiàn)注釋#1)所引起的化學(xué)變化或物理破壞

 利用外加的環(huán)境應(yīng)力，使?jié)摯嬗陔娮赢a(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制程中，因不良元器件、制造工藝和其它原因等所造成的早期故障提早發(fā)生而暴露出來(lái)，給予修正和更換 

 試驗(yàn)?zāi)康牟灰粯?/span>

測(cè)試階段

 主要在研發(fā)設(shè)計(jì)階段,試制階段 

 主要在量產(chǎn)階段

 階段不一樣

測(cè)試對(duì)象

 主要用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，現(xiàn)在用的多的還是電子產(chǎn)品的元器件或者組件級(jí)（如PCBA,IC）

 主要適用于電子產(chǎn)品的元器件級(jí)，組件級(jí)和設(shè)備級(jí)

冷熱沖擊很少用于做設(shè)備級(jí)

溫度變化速率要求

 無(wú)溫變速率指標(biāo),但要求溫度恢復(fù)時(shí)間，參考點(diǎn)一般在出風(fēng)口，國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)都要求5min以內(nèi)，越快越好；也有標(biāo)準(zhǔn)要求在產(chǎn)品表面量測(cè)，溫度恢復(fù)時(shí)間在15min以內(nèi) 

 為了增強(qiáng)篩選效果，常見(jiàn)快速溫變箱建議選擇溫變速率為10~25℃/min，且溫變速率可控；

樣品失效模式

 由于材料蠕變（見(jiàn)注釋#2）及疲勞損傷引起的失效，也稱脆性失效

 由于材料疲勞（見(jiàn)注釋#3）引起的失效

 失效模式不一樣

常見(jiàn)故障現(xiàn)象

 如零部件的變形或破裂，絕緣保護(hù)層失效，運(yùn)動(dòng)部件的卡緊或松弛電氣和電子元器件的變化，快速冷凝水或結(jié)霜引起電子或機(jī)械故障

 如涂層、材料或線頭上各種微裂紋擴(kuò)大；使粘結(jié)不好的接頭松馳；使螺釘連接或鉚接不當(dāng)?shù)慕宇^松馳；材料熱膨脹系數(shù)不同產(chǎn)生的變形和應(yīng)力引起的故障,使固封材料絕緣下降；使機(jī)械張力不足的壓配接頭松馳；使質(zhì)差的釬焊接觸電阻加大或造成開(kāi)路；使運(yùn)動(dòng)件及密封件故障 

 從故障現(xiàn)象看上看二者有一些相同之處

參考標(biāo)準(zhǔn)

JESD22-A106B

GJB-150-A

MIL-STD-810G

MIL-STD-202G 

JEDEC JESD22-A104-b 

IEC68-2-1 

MIL-STD-2164-85

IEC60749-25

設(shè)備選擇

a.對(duì)元器件（電容、電感、IC），板卡的中小尺寸產(chǎn)品，選擇提籃式冷熱沖擊，測(cè)試效果更嚴(yán)苛

b.對(duì)超大尺寸產(chǎn)品，如液晶電視或者重型產(chǎn)品，建議選擇三箱式會(huì)更適合

c.如果遇到重型產(chǎn)品，而且尺寸也比較大，同時(shí)要求過(guò)沖小，可選擇水平式提籃冷熱沖擊箱做參考

d．除霜周期要求

a.設(shè)備尺寸大小，常見(jiàn)尺寸 400 L, 600 L,1000 L或定制

b．實(shí)際測(cè)試溫度范圍（如: -40℃~85℃），同時(shí)也要求設(shè)備全程溫度范圍（如：-70℃~180℃）

c.溫變速率要求；是線性溫變速率還是平均溫變速率；如有帶載溫變速率要求，要明確帶載情況，包括靜態(tài)負(fù)載（通常拿鋁錠做參考）和熱負(fù)載（產(chǎn)品帶電發(fā)熱） 

d.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)（如: IEC-60068-3-5 和GB/T 5170）