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ICPMS是一個(gè)以質(zhì)譜儀作為檢測(cè)器的等離子體(ICP)，而質(zhì)譜學(xué)家則認(rèn)為ICPMS是一個(gè)以ICP為源的質(zhì)譜儀。事實(shí)上，ICP-AES和ICPMS的進(jìn)樣部分及等離子體是及其相似的。ICP-AES測(cè)量的是光學(xué)光譜(165～800nm)，ICPMS測(cè)量的是離子質(zhì)譜，提供在3～250amu范圍內(nèi)每一個(gè)原子質(zhì)量單位(amu)的信息，因此，ICPMS除了元素含量測(cè)定外，還可測(cè)量同位素。
ICPMS的檢出限給人極深刻的印象，其溶液的檢出限大部份為ppt級(jí)(必需記牢，實(shí)際的檢出限不可能優(yōu)于你實(shí)驗(yàn)室的清潔條件)，石墨爐AAS的檢出限為亞ppb級(jí)，ICP-AES大部份元素的檢出限為1～10ppb，一些元素在潔凈的試樣中也可得到令人注目的亞ppb級(jí)的檢出限。
ICPMS的ppt級(jí)檢出限是針對(duì)溶液中溶解物質(zhì)很少的單純?nèi)芤憾缘模羯婕肮腆w中濃度的檢出限，由于ICPMS的耐鹽量較差，ICPMS檢出限的優(yōu)點(diǎn)會(huì)變差多達(dá)50倍，一些普通的輕元素(如S、Ca、Fe、K、Se)在ICPMS中有嚴(yán)重的干擾，也將惡化其檢出限。
AAS是原子吸收光譜，因?yàn)橹焕迷庸庾V中單色光照射，所以只能檢測(cè)一種元素的含量，不過檢測(cè)限比較低而且重現(xiàn)性比較好.ICP-AES是原子發(fā)射光譜，檢測(cè)原子光譜中的多條譜線.檢測(cè)限也比較低，而且多通道的可以同時(shí)檢測(cè)多種原子和離子.比較方便.重現(xiàn)性也不錯(cuò).ICPMS是ICP質(zhì)譜聯(lián)用.利用質(zhì)譜檢測(cè)同位素含量來檢測(cè)元素的含量.檢出限低.效果理想。
以上三種技術(shù)呈現(xiàn)了不同類型及復(fù)雜的干擾問題，為此，我們對(duì)每個(gè)技術(shù)分別予以討論。
ICPMS的干擾:質(zhì)譜干擾、基體酸干擾、雙電荷離子干擾、基體效應(yīng)、電離干擾、空間電荷效應(yīng)。
ICP-AES干擾：光譜干擾、基體效應(yīng)、電離干擾。
GFAAS干擾：光譜干擾、背景干擾、氣相干擾、基體效應(yīng)。
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