高低溫試驗箱適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時的適應性試驗,以及溫度漸變試驗。還可以對電子元器件進行應力篩選試驗。
對下面溫度參數(shù)項目的定義進行 分析,便可看出依據(jù)不同標準確認高低溫試驗箱性能結(jié)果的差異。
1.標準GB/T 5170.2的2008版本中的定義:試驗箱穩(wěn)定狀態(tài)下,在規(guī)定的時間內(nèi),工作空間內(nèi)任意一點溫度歲時間的變化量。
2.標準GB/T 10592的2008版本中的定義:穩(wěn)定后,在給定的任意時間間隔內(nèi),工作空間任意一點的高和低溫度之差。
3.標準GB/T 2424.5的2006版本中的定義:穩(wěn)定后,在規(guī)定的時間內(nèi),工作空間中任一點的高和低溫度之差。
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