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冷熱臺(tái)是為液晶研究而設(shè)計(jì)的，為了給樣品施加電場(chǎng)或測(cè)量樣品的信號(hào)，在常規(guī)設(shè)備的基礎(chǔ)上增加了內(nèi)部電極，并配有液晶池和專用送樣器。同時(shí)由于熱臺(tái)腔室的密閉性，可以控制腔室內(nèi)的環(huán)境氛圍，如濕度、真空或通入內(nèi)部氣體，并可將熱臺(tái)與紅外及X射線衍射設(shè)備聯(lián)用。
可觀察樣品不同溫度下的狀況，主要應(yīng)用于礦物中流體包裹體及熔融包裹體，另可用于觀察各類型材料。冷熱臺(tái)可在-190℃~600℃范圍內(nèi)控溫，允許光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。熱臺(tái)上蓋與底殼構(gòu)成一個(gè)氣密腔，可往內(nèi)充入氮?dú)獾缺Ｗo(hù)氣體，來防止樣品在負(fù)溫下結(jié)霜，或高溫下氧化。
冷熱臺(tái)在測(cè)試中有什么優(yōu)勢(shì)？
1、研制背景
X-射線衍射分析法目前已廣泛應(yīng)用于物相的定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力測(cè)定等方面。在不同溫度下測(cè)試的樣品物相可能會(huì)發(fā)生變化，原位X-射線衍射高低溫樣品臺(tái)可以為樣品提供良好的變溫測(cè)試條件，從而滿足樣品在不同溫度下的測(cè)試需求。
2、產(chǎn)品介紹
原位X-射線衍射高低溫樣品臺(tái)（下文簡(jiǎn)稱冷熱臺(tái)），產(chǎn)品系統(tǒng)主體包含冷熱臺(tái)、位移樣品架、溫度控制系統(tǒng)、供氣或真空系統(tǒng)和循環(huán)冷卻系統(tǒng)。
冷熱臺(tái)現(xiàn)有兩款產(chǎn)品，可以實(shí)現(xiàn)的溫度控制范圍分別為：-190°C~600°C，RT~1200°C，在空氣、惰性氣體或真空的環(huán)境條件，與常見的X-射線衍射儀配套使用。冷熱臺(tái)適合各種類型的樣品在高低溫下進(jìn)行X-射線結(jié)構(gòu)研究，多種樣品架可配合反射和透射模式，支持在現(xiàn)有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛、理學(xué)等）上改造適配。
系統(tǒng)特色
(1)衍射角0-164°
(2)真空腔室（10-3mbar）
(3)負(fù)溫下吹氣除霜管路
(4)可增加試樣溫度監(jiān)測(cè)
(5)可適配衍射儀定制樣品架
(6)多種樣品架實(shí)現(xiàn)反射和透射
(7)溫控精度高，可編程階梯控溫
(8)電熱、液氮可實(shí)現(xiàn)快速升降溫
(9)溫控范圍寬（-190~600℃/RT~1200℃）
(10)中低溫產(chǎn)品采用銀質(zhì)冷熱傳導(dǎo)，均溫性好
(11)高溫產(chǎn)品采用陶瓷加熱片，溫度傳感器靠近樣品，精準(zhǔn)測(cè)量樣品溫度
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