金屬表面酸化度如何進行管理?
利用振動電容法(開爾文探針)對因電暈放電而在固體表面放置的電荷引起的表面電位變化進行非接觸測量,定量測定金屬等基材表面的污染程度評估。
測量可以在幾分鐘內(nèi)完成,因此它不僅可以用于清潔工藝開發(fā),還可以用于生產(chǎn)線上零件的表面清潔度控制。
由于表面電位衰減曲線取決于薄膜的電性能和膜厚,因此也可用于控制絕緣體薄膜的厚度、金屬表面氧化層的厚度以及DLC薄膜的質(zhì)量控制。
設(shè)備規(guī)格
測量探頭直徑 | φ6.35mm |
測量距離 | 1-3mm(標準) |
表面電位測量范圍 | ±100V直流 |
表面電位分辨率 | 1毫伏 |
電暈放電電壓 | 最大10kV |
設(shè)備配置
測量頭 (WxDxH) | 118x106x150(毫米) |
控制器(寬 x 深 x 高) | 343x296x134(毫米) |
表面電位測量電源(WxDxH) | 223x370x108(毫米) |
筆記本電腦 | - |
噴墨打印機 | - |
對銅合金、鋁合金、引線框架材料、鍍鎳等自然氧化層和強制加熱氧化層可實現(xiàn)工藝內(nèi)定量控制。
銅合金自然氧化膜的定量評價
圖1 電荷轉(zhuǎn)移后的表面電位變化 <磷脫氧銅>
圖2 初始表面電位Vi的轉(zhuǎn)變
圖3 表面電位位移dV0的轉(zhuǎn)變
圖4 表面電勢位移dV0的轉(zhuǎn)變(磷脫氧銅)
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