電子產(chǎn)品在在極速溫度變化下性能試驗(yàn)方法
電子產(chǎn)品在在極速溫度變化下性能試驗(yàn)方法:
目的:
確定產(chǎn)品在溫度急劇變化氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的環(huán)境適應(yīng)性能力。在高溫與低溫瞬間變化條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,通過測(cè)試后的檢測(cè),來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用;
試驗(yàn)方法:
1.溫度范圍: -45°C~+85℃
2.溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:<3min
3.高低溫極限溫度各保持2小時(shí)
4.循環(huán)次數(shù)為10次
5.試驗(yàn)過程中不通電,試驗(yàn)結(jié)束后,檢查外觀和通電測(cè)試產(chǎn)品功能
6.循環(huán)次數(shù)每檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求的不同,有的要求3次,5次,10次循環(huán)的都有,高低溫保持時(shí)間也是根據(jù)產(chǎn)品的實(shí)際使用場(chǎng)所以及用戶的要求來確定.
快速溫變測(cè)試也被稱為溫度循環(huán)試驗(yàn),溫度變化速率一般要求5度/min、10度/min、15度/min。快速溫變?cè)囼?yàn)適用于航空航天產(chǎn)品、儀器儀表、電工電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧跇O速溫度改變條件下發(fā)現(xiàn)早期故障的一種環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)方法。
快速溫變?cè)囼?yàn)實(shí)驗(yàn)室新引進(jìn)的快速溫變/溫度循環(huán)試驗(yàn)箱內(nèi)箱尺寸:高 1200mm、寬 1000mm、深 1000mm。溫度變化速率可高達(dá)15度/min,可以滿足民用設(shè)備的環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)條件。
快速溫度變化試驗(yàn)在實(shí)際應(yīng)用中有兩類:
一類為慢速的溫度變化試驗(yàn),其溫度變化速率<3℃/min(一般各標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常選擇參數(shù)為1℃/min),也既一般應(yīng)用中的溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變?cè)囼?yàn)(此三類為一種試驗(yàn));
另一類為快速的溫度變化試驗(yàn),其溫度變化速率≥3℃/min,也既一般應(yīng)用中的快速溫變?cè)囼?yàn)。
快速溫度變化試驗(yàn)的特點(diǎn):
產(chǎn)品在試驗(yàn)中工作、溫度變化的速率一定。溫度變化速率一般為3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min,15℃/min,20℃/min,25℃/min。
相關(guān)產(chǎn)品
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