X光檢測技術(shù)即XRAY無損檢測設(shè)備在檢測BGA焊點中氣泡、空洞、虛焊、空焊等缺陷的流程:
1. 將待檢測的BGA芯片放置在XRAY檢測臺上,調(diào)整好XRAY探頭的位置和角度。
2. 啟動XRAY檢測設(shè)備,發(fā)送X射線束穿透BGA芯片。
3. X射線束通過BGA芯片后,會被芯片內(nèi)部的結(jié)構(gòu)反射、散射或吸收,形成一幅XRAY圖像。
4. 根據(jù)XRAY圖像,檢測人員可以判斷BGA芯片內(nèi)部是否存在氣泡、空洞、虛焊、空焊等缺陷。
5. 如果發(fā)現(xiàn)缺陷,需要記錄下來并進(jìn)行修復(fù)或更換。
總的來說,XRAY檢測設(shè)備可以快速、準(zhǔn)確地檢測出BGA氣泡、空洞、虛焊、空焊等缺陷,對保障電子產(chǎn)品的質(zhì)量有很大的幫助。
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