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            產品推薦:氣相|液相|光譜|質譜|電化學|元素分析|水分測定儀|樣品前處理|試驗機|培養(yǎng)箱


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            到貨!京都玉崎深圳倉庫到貨日本SANKO測厚儀SWT-7000Ⅲ

            來源:深圳市京都玉崎電子有限公司   2024年03月19日 09:23  

            到貨!京都玉崎深圳倉庫到貨日本SANKO測厚儀SWT-7000Ⅲ

            三月深圳倉庫到貨,歡迎咨詢!


            三月到貨深圳倉庫后,京都玉崎倉庫負責人對其驗貨,核對數量及質量問題安排入庫,再安排人員檢驗合格后,

            均已符合出廠要求,即將發(fā)往蘇州的客戶。






            產品詳細介紹:

            SANKO山高SWT-7100III膜厚計

             SWT系列探頭可互換。

            ◆ 兩用型 : FN-325

            ◆ 鐵材用 : Fe 系列     

            ◆ 非鐵材 : NFe 系列

            電磁式/渦電流式膜厚計

            SWT-7000Ⅲ/7100Ⅲ  探頭可互換。簡易測量。

            ●可根據用途來選擇探頭。

            ●輕巧簡便。

            ●在LCD畫面上顯示操作的順序指引。

            ●4個按鍵,操作簡單。

            ●可連接電腦進行數據的傳送。(7100Ⅲ)

            用    途

            ●涂層/襯層/鍍金

            ●耐酸層等絕緣性皮膜

            規(guī)    格

            測量范圍      連接探頭不同而不同(另賣)

            顯示方式       LCD畫面

            檢量線校正     2點校正式

            檢量線存儲     鐵·非鐵各一根

            數據傳送       USB(7100Ⅲ)

            電    源       單3電池(1.5V)×2

                          專用電源線(7100Ⅲ)

                          附帶自動關機功能

            使用溫度       0~40C°(不結露)

            尺寸重量       72(W)×30(H)×156(D)mm

                          約210g

            附 屬 品      收納袋

                         7100Ⅲ:專用電源線

                                 USB連接線、USB軟件

            探    頭      根據測量金屬底材來選擇。

                        ·鐵底材用(Fe)

                        ·非鐵底材用(NFe)

                        ·鐵底材·非鐵底材兩用(FN-325)

                         (請參照專用探頭頁)

            探測頭型號

            FN-325

            測量方式

            電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動識別)

            測量范圍

            鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm

            表示分辨率

            1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通)

                 0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通)

                 0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通)

            0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材)

            0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材)

            測量精度

            (平滑表面)

            0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通)

            或者是指示值的±2%以內

            101μm~3.00mm:±2%以內(鐵底材)

            101μm~2.50mm:±2%以內(非鐵底材)

            探測部

            1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

            選擇產品

            V形探測頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

            附屬品

            標準校正板、試驗用零校正板、(鐵用·非鐵用)

            測量對象

            鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

                   電鍍(電解鎳除外)等

            非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

                     一般較普遍的測量物用

            SWT-7000Ⅲ系列機型

            機型

            SWT-7000Ⅲ

            SWT-7100Ⅲ

            SWT-7200Ⅲ

            測量范圍

            連接的探測頭不同測量范圍也不同。

            顯示方式

                液晶顯示LCD(數據·提示信息)、背光燈

            檢量線校正

            2點校正方式(零校正、標準校正)

            檢量線存儲

            鐵、非鐵各1根

            10根

            測量值存儲

            20,000點

            數據傳送

            USB

            USB

            統(tǒng)計功能

            內藏

            附加功能

            ●背光燈 ●測量模式的切換(普通/連續(xù)) ●檢量線、校正值的刪除

            ●自動關機功能(約3分以上不操作時,機器會自動關機) ●分辨率的切換

            ●上下限值的設定(SWT-7200Ⅲ)

            電源

            單3電池 ×2

            單3電池 ×2     專用電源線

            使用溫度

            0~40C°(不結露)

            機體尺寸·重量

            72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g

            附屬品

            干電池、收納袋子

            干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD)

            追加產品

            鐵材金屬用探測頭(Fe)、非鐵材金屬用探測頭(NFe)

            鐵·非鐵材用探測頭(FN-325)






            SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(1)(Fe)

            型號

            Fe-2.5/2.5L

            Fe-2.5LwA

            Fe-0.6Pem

            測量方式

            電磁感應式

            測量范圍

            0~2.50mm

            0~600μm

            表示分解率

            1μm:0~999μm

            切換

                         0.1μm:0~400μm

            0.5μm:400~500μm

                         0.01mm:1.00~2.50mm

            1μm:0~600μm

            切換

            0.1μm:0~400μm

             0.5μm:400~500μm

            測量精度

            (平滑面)

            0~100μm:±1μm

            又或者時顯示值的±2%以內

                         101μm~2.50mm:±2%

            0~100μm:±1μm

            又或者時顯示值的±2%以內

            101μm~600μm:±2%

            探測部

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

              2.5:φ13×48mm

              2.5L:18×23×67mm

            1點定壓接觸式

            測量部:約20×57mm

            全長:約550~ 1.550mm

                (伸縮式)

            1點定壓接觸式

                 Φ5.6×94mm

            選擇產品

            V形套頭/—

            (φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

            附屬品

            標準校正片

            試驗用零校正板

            (鐵用)

            標準校正片

            試驗用零校正板(鐵用)

            收納袋子

            標準校正片

            試驗用零校正板

                   (鐵用)

            測量對象

            鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等

            鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。

            鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

            SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(2)(Fe)

            型號

            Fe-10

            Fe-20

            測量方式

            電磁感應式

            測量范圍

            0~10mm

            0~20mm

            表示分解率

            1μm:0~999μm

            0.01mm:1~10mm

             1μm:0~999μm

            0.01mm:1~5mm

            0.1mm:5~20mm

            測量精度

            (平滑面)

            0~3mm:±(5μm+顯示值的3%)

                         3.01mm:顯示值的±3%

            探測部

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            φ18×47mm

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            φ35×59mm

            選擇產品

            附屬品

            標準校正片、試驗用零校正板(鐵用)

            測量對象

            鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

            鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

            探測頭要根據需要購買。

            SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭(NFe)

            型號

            NFe-2.0/NFe-2.0L

            NFe-06

            NFe-8

            測量方式

            渦電流式

            測量范圍

            0~2.00mm

            0~600μm

            0~8mm

            表示分解率

            1μm:0~999μm

            切換

            0.1μm:0~400μm

             0.5μm:400~500μm

             0.01mm:1.00~2.00mm

            1μm:0~600μm

            切換

            0.1μm:0~400μm

            0.5μm:400~500μm

            1μm:0~999μm

            0.01mm:1~8mm

            測量精度

            (平滑表面)

            0~100μm:±1μm

            又或者時顯示值的

            ±2%以內

            101μm~2.00mm:

                     ±2%以內

            0~100μm:±1μm

            又或者時顯示值的

            ±2%以內

            101μm~600μm:

                     ±2%以內

            0~100μm:±1μm

            ±(±1μm+顯示值的±2%)

            101μm~8mm:

                     ±2%以內

            探測部

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            2.0:φ13×47mm

            2.0L:18×23×67mm

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            φ11×48mm

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            φ35×61mm

            選擇產品

            V形套頭/-

            附屬品

            標準校正片、試驗用零校正板(非鐵用)

            測量對象

            鋁、銅等非磁性金屬底材

            上的絕緣性皮膜等一般普

            通測量物用。

            鋁、銅等非磁性金屬底

            材上的絕緣性皮膜等

            細小的圓棒、細管、小

            物件等的高安定性用。

            鋁、銅等非磁性金屬

            底材上的絕緣性皮膜等

            比較厚的測量物用。

            探測頭要根據需要購買。




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