目 錄

1.儀器概況...

1.1 測(cè)量原理...

1.2 基本配置及各部分名稱(chēng)...

2.技術(shù)參數(shù)...

3.主要功能...

4.測(cè)量步驟...

4.1 儀器準(zhǔn)備...

4.2 聲速的設(shè)定...

4.3 聲速的測(cè)量...

4.4 儀器校準(zhǔn)...

4.5 測(cè)量厚度...

5.厚度值的存儲(chǔ)與查閱...

5.1 存儲(chǔ)厚度值...

5.2 查閱厚度值...

6.刪除操作...

6.1 刪除單個(gè)厚度值...

6.2 刪除當(dāng)前文件...

6.3 刪除所有文件...

6.4 刪除校準(zhǔn)數(shù)據(jù)...

7.系統(tǒng)和功能設(shè)置...

7.1 系統(tǒng)設(shè)置...

7.2 功能設(shè)置...

7.3 測(cè)量單位的設(shè)定...

7.4 zui小值捕獲...

7.5 兩點(diǎn)校準(zhǔn)...

7.6 亮度調(diào)節(jié)...

7.7 上下限設(shè)定...

7.8 背光功能...

7.9 低電壓提示功能...

7.10 關(guān)機(jī)方式...

8.測(cè)量應(yīng)用技術(shù)...

8.1 工件表面要求...

8.2 測(cè)量方法...

8.3 管壁測(cè)量...

8.4 鑄件測(cè)量...

9.維護(hù)及注意事項(xiàng)...

9.1 電源檢查...

9.2 注意事項(xiàng)...

9.3 維修...

附表1：各種材料的聲速...

附表2：各儀器型號(hào)及部分技術(shù)參數(shù)...

附表3：探頭與測(cè)量范圍...

1.儀器概況                     

我廠研制并生產(chǎn)的UM-1超聲波測(cè)厚儀采用超聲波測(cè)量原理，是一種超小型測(cè)量?jī)x器。它能快速、無(wú)損傷、地進(jìn)行測(cè)量（顯示分辨率0.1mm）。本儀器可廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢業(yè)等檢測(cè)領(lǐng)域，適用于能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播，并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測(cè)量。除可對(duì)各種板材和各種加工零件作測(cè)量外，還可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度，是材料保護(hù)*的儀器。

1.1 測(cè)量原理

UM-1超聲波測(cè)厚儀對(duì)厚度的測(cè)量是由探頭將超聲波脈沖透過(guò)耦合劑發(fā)射到被測(cè)物體，超聲波脈沖到達(dá)被測(cè)物體并在物體中傳播，到達(dá)材料分界面時(shí)被反射回探頭，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。

1.2 基本配置及各部分名稱(chēng)

1.2.1 儀器各部分名稱(chēng)（見(jiàn)下圖）

液晶屏顯示：

m/s  —— 聲速單位          BATT —— 低電壓標(biāo)志

mm   —— 厚度單位          凸   —— 耦合標(biāo)志          

鍵盤(pán)功能說(shuō)明：

ON    —— 開(kāi)機(jī)鍵             VEL —— 聲速鍵

MENU  —— 菜單鍵             MEM  —— 存儲(chǔ)鍵

CAL   —— 校準(zhǔn)鍵                  —— 背光鍵

          —— 回車(chē)鍵             △、▽——上、下調(diào)節(jié)鍵

1.2.2 標(biāo)準(zhǔn)配置：

● 主機(jī) —— 1臺(tái)             ● 耦合劑 —— 1 瓶        ● 探頭 —— 1個(gè)

● 儀器密封箱—— 1個(gè)        ● 電池 —— 2節(jié)          ● 使用說(shuō)明書(shū)—— 1本

1.2.3 選購(gòu)件：

● 高溫探頭                  ● 鑄鐵探頭                  ● 小徑管探頭           

● 微型探頭                  ● 探頭線                    ● 階梯試塊

● 通信軟件及電纜                                     

2.技術(shù)參數(shù)

★     顯示方式：128×64大屏幕點(diǎn)陣液晶屏顯示

★     標(biāo)準(zhǔn)模式測(cè)量范圍：0.8mm～300 mm 詳見(jiàn)附表3：探頭與測(cè)量范圍

★     管材的測(cè)量下限（鋼）:Φ20mm×3.0mm（PT-08 探頭），

Φ15mm×2.0mm（PT-06 探頭），

示值誤差不超過(guò)±0.1mm。

★     示值誤差:  測(cè)量范圍下限至10mm ：±0.05mm

10mm至測(cè)量范圍上限 ：± （ 0.5% H + 0.01 ） mm   

注：H為被測(cè)物實(shí)際厚度

★     重復(fù)性：±0.1mm

★     顯示分辨率： 0.1 mm

★ 測(cè)量頻率：4Hz

★     聲速調(diào)節(jié)范圍：1000～9999 m/s

★     使用環(huán)境：-10℃～40℃

★     電源：二節(jié)5號(hào)堿性電池

★     外形尺寸：149×73×32 mm 

★重量：160g（不含電池）

3.主要功能

★     利用儀器上的4mm標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行校準(zhǔn)，可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正

★     厚度值存儲(chǔ)：可存儲(chǔ)500個(gè)厚度值,關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)不丟失,并且劃分為五個(gè)文件，便于對(duì)數(shù)據(jù)的管理

★     厚度報(bào)警：可設(shè)置厚度界限，對(duì)限界外的測(cè)量值自動(dòng)報(bào)警

★     zui小值捕獲（也稱(chēng)掃查模式）：捕獲測(cè)量過(guò)程中的zui小值  

★     兩點(diǎn)校準(zhǔn)：測(cè)量曲面壁厚或特殊應(yīng)用時(shí)，可提高測(cè)量的精度

★     支持毫米和英寸兩種厚度單位

★     可存儲(chǔ)5種不同材料的聲速

★     校準(zhǔn)值自動(dòng)存儲(chǔ)，關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)不丟失

★     刪除功能：對(duì)文件中的可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除所有已存儲(chǔ)數(shù)據(jù)以便存儲(chǔ)新的數(shù)值

★     具有背光顯示功能，為夜間工作帶來(lái)方便

★     低電壓提示

★     自動(dòng)關(guān)機(jī)：如果5分鐘內(nèi)沒(méi)進(jìn)行任何操作，儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)

★     耦合狀態(tài)提示：通過(guò)觀察耦合標(biāo)志的穩(wěn)定性可知耦合是否正常

★     支持中文、英文兩種語(yǔ)言界面

4.測(cè)量步驟

4.1 儀器準(zhǔn)備

將探頭插頭插入主機(jī)探頭插座中，按一下ON鍵，聽(tīng)到兩次蜂鳴聲屏幕出現(xiàn)顯示，其中顯示的聲速為上次關(guān)機(jī)前使用的聲速，顯示內(nèi)容見(jiàn)下圖：

4.2 聲速的設(shè)定

當(dāng)已知材料聲速，可以利用儀器提供的聲速手動(dòng)調(diào)節(jié)功能，并依據(jù)附表中的參考聲速值，調(diào)整儀器的內(nèi)置聲速值。聲速存儲(chǔ)器可存儲(chǔ)五個(gè)聲速值。具體操作步驟如下：

如果當(dāng)前顯示屏顯示的是非聲速值，那么按VEL鍵進(jìn)入聲速狀態(tài)，屏幕將顯示當(dāng)前聲速存儲(chǔ)單元的內(nèi)容。之后，每按一次VEL鍵，聲速數(shù)值就變化一次，可循環(huán)顯示五個(gè)聲速值，見(jiàn)下圖：

如果當(dāng)前聲速存儲(chǔ)器內(nèi)沒(méi)有所需聲速值，可用△或▽鍵調(diào)整到所需值即可，同時(shí)將此值存入聲速存儲(chǔ)器內(nèi)以便下次使用。見(jiàn)下圖：

在調(diào)整聲速數(shù)值時(shí)，屏幕上的▲可在數(shù)值的個(gè)位、十位或百位的下方，當(dāng)▲在個(gè)位、十位、百位的下方時(shí)，每按一次△或▽鍵，數(shù)值將依次加或減1、10、100，可以通過(guò)回車(chē)鍵實(shí)現(xiàn)▲在個(gè)位、十位或百位下方的切換。

4.3 聲速的測(cè)量

在被測(cè)材料的聲速未知時(shí)，在測(cè)量厚度前必須進(jìn)行聲速校準(zhǔn)。

注：準(zhǔn)備與被測(cè)物體成分相同的測(cè)試塊，其表面必須適于測(cè)量，用游標(biāo)卡尺測(cè)量測(cè)試塊厚度。

具體步驟如下：

①在現(xiàn)有的儀器狀態(tài)下，測(cè)量已準(zhǔn)備好的同質(zhì)并已知厚度的試塊。屏幕顯示測(cè)量的厚度值。

②按VEL聲速鍵，利用△或▽鍵調(diào)整聲速值，直到測(cè)量值與已知厚度相等，這時(shí)的聲速值就是該材料的聲速。

③該聲速自動(dòng)被存入當(dāng)前的聲速存儲(chǔ)單元。

4.4 儀器校準(zhǔn)

4.4.1   快捷校準(zhǔn)

在每次更換探頭后應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)。此步驟對(duì)保證測(cè)量準(zhǔn)確度十分關(guān)鍵。如有必要，可在每次測(cè)量前都*行快捷校準(zhǔn)。

在隨機(jī)試塊上涂耦合劑，將探頭與隨機(jī)試塊耦合，直至耦合標(biāo)志出現(xiàn)且不閃爍，按下CAL鍵，即校準(zhǔn)完畢。如果聲速是5900m/s，屏幕上顯示4.0mm。見(jiàn)下圖：

注：如果聲速值不等于5900m/s，用隨機(jī)試塊校準(zhǔn)時(shí)，屏幕顯示值不等于4.0mm，這是正常情況。

4.4.2 兩點(diǎn)校準(zhǔn)

測(cè)量曲面壁厚或特殊應(yīng)用時(shí)，為了提高測(cè)量的精度,可進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn),詳見(jiàn)第7章第5節(jié)。

4.4.3 快捷校準(zhǔn)與兩點(diǎn)校準(zhǔn)的區(qū)別

快捷校準(zhǔn)與兩點(diǎn)校準(zhǔn)的區(qū)別有以下幾點(diǎn):

①快捷校準(zhǔn)用隨機(jī)試。兩點(diǎn)校準(zhǔn)可用任意材料和厚度的試塊。

②快捷校準(zhǔn)只需一塊試塊。兩點(diǎn)校準(zhǔn)需要兩塊厚度不同的試塊。

4.5 測(cè)量厚度

儀器校準(zhǔn)后，設(shè)置好聲速值，然后將耦合劑涂于被測(cè)處，將探頭與被測(cè)材料耦合即可測(cè)量，屏幕將顯示被測(cè)材料的厚度值。見(jiàn)下圖：

說(shuō)明：當(dāng)探頭與被測(cè)材料耦合時(shí)，屏幕上將顯示“凸”標(biāo)志；當(dāng)耦合標(biāo)志閃爍或不出現(xiàn)則說(shuō)明沒(méi)耦合好。拿開(kāi)探頭后，厚度值保持不變，耦合標(biāo)志消失。見(jiàn)下圖：
 

5.厚度值的存儲(chǔ)與查閱

5.1 存儲(chǔ)厚度值

厚度值的存儲(chǔ)分5個(gè)文件，每個(gè)文件可存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)量值。

首先，選擇存儲(chǔ)文件號(hào)。按MENU鍵，使屏幕反顯查閱，見(jiàn)下圖:

按回車(chē)鍵，5個(gè)文件號(hào)可循環(huán)顯示，當(dāng)選擇所需的文件號(hào)后，再按MENU鍵使屏幕顯示存儲(chǔ)字樣，即存儲(chǔ)文件號(hào)選擇完畢。見(jiàn)下圖:

其次,測(cè)量厚度值。zui后，存儲(chǔ)厚度值。測(cè)量厚度值后，屏幕將顯示該厚度值。此時(shí)，按下MEM鍵即可存儲(chǔ)該厚度值。存儲(chǔ)完成后屏幕左下方顯示一次“Memory”，即證明已存儲(chǔ)該厚度值。

5.2 查閱厚度值

按MENU鍵，使屏幕反顯查閱，按回車(chē)鍵，5個(gè)文件號(hào)可循環(huán)顯示，選擇需查閱的文件號(hào)，見(jiàn)下圖：

zui后，按MEM鍵進(jìn)入該文件。見(jiàn)下圖：

說(shuō)明: No. : 表示當(dāng)前顯示的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的序號(hào)；Total : 表示當(dāng)前文件中存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的總數(shù)量。

此時(shí)，可通過(guò)△或▽鍵進(jìn)行翻閱查看，查閱完畢后，按MENU鍵或進(jìn)行測(cè)量即可返回主界面。

6.刪除操作

6.1 刪除單個(gè)厚度值

在查閱存儲(chǔ)數(shù)據(jù)狀態(tài)，按下回車(chē)鍵即可刪除當(dāng)前顯示的存儲(chǔ)值。

①進(jìn)入查閱存儲(chǔ)數(shù)據(jù)狀態(tài)。見(jiàn)下圖：

②按回車(chē)鍵刪除當(dāng)前值，顯示下一個(gè)存儲(chǔ)值。見(jiàn)下圖：

6.2 刪除當(dāng)前文件

要?jiǎng)h除當(dāng)前文件的所有內(nèi)容，具體操作如下：

①按MENU鍵將光標(biāo)移至“功能”處，見(jiàn)下圖:

再按回車(chē)鍵進(jìn)入功能菜單并通過(guò)▽鍵選定功能設(shè)置。見(jiàn)下圖:

②按回車(chē)鍵進(jìn)入該界面，再通過(guò)△或▽鍵選定“刪除當(dāng)前文件”。見(jiàn)下圖：

③選定后，按回車(chē)鍵屏幕出現(xiàn)如下顯示：

此時(shí)，按回車(chē)鍵將刪除當(dāng)前文件，按MENU鍵返回上個(gè)界面。

④刪除完成后，按VEL鍵或按MENU鍵均可返回主界面。

6.3 刪除所有文件

要?jiǎng)h除所有文件中的數(shù)據(jù)，步驟同上。只需選定“刪除所有文件”即可。

6.4 刪除校準(zhǔn)數(shù)據(jù)

要?jiǎng)h除校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，步驟同上。只需選定“刪除校準(zhǔn)數(shù)據(jù)”即可。

7.系統(tǒng)和功能設(shè)置

7.1 系統(tǒng)設(shè)置

按MENU鍵將光標(biāo)移至“功能”處，見(jiàn)下圖:

然后按回車(chē)鍵進(jìn)入功能菜單，此時(shí)屏幕顯示見(jiàn)下圖:

此時(shí)，光標(biāo)在“系統(tǒng)設(shè)置”項(xiàng)上，（如果不是在此項(xiàng)上可用△或▽鍵上下移動(dòng)將光標(biāo)移在“系統(tǒng)設(shè)置”項(xiàng)上），按回車(chē)鍵進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單，用△或▽鍵上下移動(dòng)選擇需修改項(xiàng),然后按回車(chē)鍵可進(jìn)行修改。

系統(tǒng)設(shè)置中共有4個(gè)選項(xiàng)，依次為：?jiǎn)挝唬ü啤⒂⒅疲?；zui小值捕獲；兩點(diǎn)校準(zhǔn)；語(yǔ)言。用戶可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行設(shè)置。設(shè)置完成后，按MENU鍵或進(jìn)行測(cè)量可返回主頁(yè)面。

7.2 功能設(shè)置

按MENU鍵將光標(biāo)移至“功能”處, 然后，按回車(chē)鍵進(jìn)入功能菜單，再通過(guò)△或▽鍵選擇功能設(shè)置。見(jiàn)下圖：

再按回車(chē)鍵進(jìn)入功能設(shè)置菜單，通過(guò)△或▽鍵上下移動(dòng)光標(biāo)選擇相應(yīng)的功能項(xiàng)。

功能設(shè)置中共有4個(gè)選項(xiàng)，依次為：刪除當(dāng)前文件、刪除所有文件、刪除校準(zhǔn)數(shù)據(jù)、調(diào)節(jié)亮度4個(gè)選項(xiàng)，用戶可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行設(shè)置。設(shè)置完后，按MENU鍵或進(jìn)行測(cè)量可返回主頁(yè)面。

7.3 測(cè)量單位的設(shè)定

UM-1提供兩種測(cè)量單位：公制和英制。用戶可以根據(jù)實(shí)際的需要進(jìn)行設(shè)定。

具體的設(shè)定步驟如下：

進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單，通過(guò)△或▽鍵將光標(biāo)移至“單位”處，按回車(chē)鍵可循環(huán)調(diào)節(jié)METRIC（公制）、IMPERIAL（英制）選項(xiàng)，見(jiàn)下圖：

7.4 zui小值捕獲

所謂zui小值捕獲是指在測(cè)量過(guò)程中捕捉測(cè)量值中的zui小值。設(shè)置zui小值捕獲的步驟如下：

①進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單，將zui小值捕獲設(shè)置為ON。見(jiàn)下圖：

②設(shè)置完畢，按MENU返回主界面（OFF是關(guān)閉zui小值捕獲；ON是開(kāi)啟zui小值捕獲）。見(jiàn)下圖：

說(shuō)明：?jiǎn)⒂脄ui小值捕獲后，探頭與工件耦合時(shí)，屏幕顯示的是當(dāng)前測(cè)量值；當(dāng)探頭抬起時(shí)，屏幕顯示的是測(cè)量中的zui小值，并且zui小值標(biāo)志MIN閃爍6次。如果在MIN閃爍期間繼續(xù)測(cè)量，當(dāng)前測(cè)量值將繼續(xù)參加zui小值捕捉，如果MIN停止閃爍后再進(jìn)行測(cè)量，將重新捕捉zui小值。

7.5 兩點(diǎn)校準(zhǔn)

選擇兩個(gè)與被測(cè)材料、聲速及曲率相同的標(biāo)準(zhǔn)試塊,其中一個(gè)試塊的厚度接近測(cè)量范圍的上限，另一個(gè)試塊的厚度接近測(cè)量范圍的下限，進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)可以提高測(cè)量精度，進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)之前應(yīng)先將兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能打開(kāi)，關(guān)閉zui小值捕獲。具體步驟如下:

①進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單，將兩點(diǎn)校準(zhǔn)設(shè)置為ON。見(jiàn)下圖：
 

②設(shè)置完畢后，按MENU鍵返回主界面。如果兩點(diǎn)校準(zhǔn)被設(shè)為ON，那么在測(cè)量的狀態(tài)下可隨時(shí)進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)。

③進(jìn)行校準(zhǔn)操作。具體步驟如下：

首先，測(cè)量薄塊的厚度，在厚度顯示狀態(tài)下按CAL鍵，屏幕提示校準(zhǔn)薄塊，見(jiàn)下圖：

通過(guò)△或▽鍵將測(cè)量值調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)值，按CAL鍵，屏幕提示校準(zhǔn)厚塊，見(jiàn)下圖:
 

測(cè)量厚的標(biāo)準(zhǔn)試塊，同樣通過(guò)△或▽鍵將測(cè)量值調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)值，再按CAL鍵，完成校準(zhǔn)操作，即可進(jìn)行測(cè)量。

7.6 亮度調(diào)節(jié)

具體的操作步驟如下:

①進(jìn)入功能設(shè)置菜單,通過(guò)△或▽鍵將光標(biāo)移至“調(diào)節(jié)亮度”處，見(jiàn)下圖:

②按回車(chē)鍵進(jìn)入調(diào)節(jié)亮度界面,見(jiàn)下圖:

此時(shí),可以通過(guò)△或▽鍵調(diào)節(jié)亮度，調(diào)節(jié)完畢后，按回車(chē)鍵返回上個(gè)界面，再按MENU鍵返回主界面。

7.7 上下限設(shè)定

本儀器可分別設(shè)定上限值及下限值,以便快速測(cè)量。

具體設(shè)置步驟如下:

①按MENU鍵使光標(biāo)移至“界限”處，見(jiàn)下圖:
 

②按回車(chē)鍵進(jìn)入界限界面，屏幕顯示原設(shè)置的下限或上限，見(jiàn)下圖：
 

此時(shí)，按回車(chē)鍵上限和下限可循環(huán)顯示；通過(guò)△或▽鍵設(shè)置新的下限或上限

③設(shè)置完畢后，按VEL鍵或按MENU鍵或進(jìn)行測(cè)量都可退出限界設(shè)置界面。

當(dāng)測(cè)量范圍超出所設(shè)定的上下*，儀器自動(dòng)報(bào)警，蜂鳴器鳴響。

7.8 背光功能

儀器提供背光功能，以便在光線暗處閱讀測(cè)量值。但請(qǐng)注意節(jié)電。

按    鍵背光亮，再按一下，背光滅。或者，關(guān)機(jī)后，背光功能自動(dòng)關(guān)閉。

7.9 低電壓提示功能

如果屏幕上顯示BATT標(biāo)志，說(shuō)明電池電壓低，應(yīng)及時(shí)地更換新電池再繼續(xù)使用。見(jiàn)下圖：
 

7.10 關(guān)機(jī)方式

UM-1設(shè)有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方式，約五分鐘內(nèi)不進(jìn)行任何操作，那么儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)；按MENU鍵將光標(biāo)移至關(guān)機(jī)處，再按回車(chē)鍵即可手動(dòng)關(guān)機(jī)。

8.測(cè)量應(yīng)用技術(shù)

8.1 工件表面要求

8.1.1 清潔表面

測(cè)量前應(yīng)清除被測(cè)物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物，鏟除油漆等覆蓋物。

8.1.2提高粗糙度要求

過(guò)分粗糙的表面會(huì)引起測(cè)量誤差，甚至儀器無(wú)讀數(shù)。測(cè)量前應(yīng)盡量使被測(cè)材料表面光滑，可使用磨、拋、銼等方法使其光滑。還可使用高粘度耦合劑。

8.1.3 粗機(jī)加工表面

粗機(jī)加工表面（如車(chē)床或刨床）所造成的有規(guī)則的細(xì)槽也會(huì)引起測(cè)量誤差，彌補(bǔ)方法同8.1.2，另外調(diào)整探頭隔聲層（穿過(guò)探頭底面中心的金屬薄層）與被測(cè)材料細(xì)槽之間的夾角，使隔層板與細(xì)槽相互垂直或平行，取讀數(shù)中的zui小值作為測(cè)量厚度，可取得較好效果。

8.2 測(cè)量方法

8.2.1 單點(diǎn)測(cè)量法

在被測(cè)體上任一點(diǎn)，利用探頭進(jìn)行測(cè)量，顯示值即為厚度值。

8.2.2 兩點(diǎn)測(cè)量法

在被測(cè)體的同一點(diǎn)用探頭進(jìn)行二次測(cè)量，在二次測(cè)量中，探頭的分割面成90度，較小值為厚度值。

8.2.3 多點(diǎn)測(cè)量法

在直徑約為30mm的圓內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，取其zui小值為厚度值。

8.2.4 連續(xù)測(cè)量法

用單點(diǎn)測(cè)量法，沿線路連續(xù)測(cè)量，其間隔不小于5mm，取其中zui小值為厚度值。

8.3 管壁測(cè)量

測(cè)量時(shí)，探頭分割面可分別沿管材的軸線或垂直管材的軸線測(cè)量，此時(shí)屏幕上的讀數(shù)將有規(guī)則地變化，選擇讀數(shù)中的zui小值，作為材料的準(zhǔn)確厚度。

若管徑大時(shí)，測(cè)量應(yīng)在垂直軸線的方向測(cè)量，管徑小時(shí)，則選擇沿著軸線方向和垂直軸線方向兩種測(cè)量方法，取讀數(shù)中的zui小值作為測(cè)量的厚度值。

8.4 鑄件測(cè)量

鑄件測(cè)量有其特殊性。鑄件材料的晶粒比較粗大，組織不夠致密，在加上往往處于毛面狀態(tài)就進(jìn)行測(cè)量，因此使測(cè)量遇到較大的困難。故對(duì)鑄件測(cè)量時(shí)應(yīng)注意以下幾點(diǎn)：

①使用低頻探頭，如本公司的ZT-12型探頭。

②在測(cè)量表面不加工的鑄件時(shí)，必須采用粘度較大的機(jī)油、黃油和水玻璃作耦合劑。

③用與待測(cè)物相同的材料，測(cè)量方向與待測(cè)物也相同的標(biāo)準(zhǔn)試塊校準(zhǔn)材料的聲速。

④必要時(shí)可進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)。

9.維護(hù)及注意事項(xiàng)

9.1 電源檢查

電源電壓低時(shí)，儀器顯示低電壓提示符號(hào)，此時(shí)應(yīng)及時(shí)按要求更換電池，以免影響測(cè)量精度。背光不能長(zhǎng)時(shí)間打開(kāi)，以免過(guò)快消耗電池電量。

按下述方式更換電池即可：

①關(guān)機(jī)

②打開(kāi)電池倉(cāng)蓋

③取出電池，放入新電池，注意極性

儀器長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)應(yīng)將電池取出，以免電池漏液，腐蝕電池盒與極片。

9.2 注意事項(xiàng)

9.2.1 一般注意事項(xiàng)

①避免儀器及探頭受到強(qiáng)烈震動(dòng)

②避免將儀器置于過(guò)于潮濕的環(huán)境中

③拔插探頭時(shí)，應(yīng)捏住活動(dòng)外套沿軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)探頭，以免損壞探頭電纜芯線。

④由于使用隨機(jī)試塊對(duì)儀器進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，需涂耦合劑，所以請(qǐng)注意防銹。使用后將隨機(jī)試塊擦干凈。氣溫較高時(shí)不要沾上汗液。長(zhǎng)期不使用應(yīng)在隨機(jī)試塊表面涂上少許油脂防銹，當(dāng)再次使用時(shí)，將油脂擦凈后即可進(jìn)行正常工作。

⑤酒精、稀釋液等對(duì)機(jī)殼尤其是視窗有腐蝕作用，故清洗時(shí)，用少量清水輕拭即可。

9.2.2 測(cè)量時(shí)的注意事項(xiàng)

①測(cè)量時(shí)，只有耦合標(biāo)志出現(xiàn)并穩(wěn)定時(shí)，才是良好測(cè)量

②若探頭磨損，測(cè)量會(huì)出現(xiàn)示值不穩(wěn)，應(yīng)更換探頭。

9.2.3探頭隔聲層磨損后若出現(xiàn)下列情況，應(yīng)更換探頭。

①測(cè)量不同的厚度時(shí)，其測(cè)量值總顯示某一值。

②插上探頭不進(jìn)行測(cè)量就有耦合標(biāo)志或有測(cè)量值出現(xiàn)。

9.3 維修

如出現(xiàn)以下問(wèn)題請(qǐng)與我廠維修部：

①儀器器件損壞，不能測(cè)量。

②顯示屏顯示不正常。

③正常使用時(shí)，誤差過(guò)大。

④鍵盤(pán)操作失靈或混亂

由于UM-1超聲波測(cè)厚儀為高科技產(chǎn)品，所以維修工作應(yīng)由受過(guò)專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)的維修人員完成，請(qǐng)用戶不要自行拆卸修理。

附表1:各種材料的聲速

注：上表聲速僅供參考，實(shí)際聲速校準(zhǔn)參照4.3 聲速的測(cè)量

附表2:各儀器型號(hào)及部分技術(shù)參數(shù)

附表3:探頭與測(cè)量范圍