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實現(xiàn)極弱近紅外區(qū)域測量光譜輻射計SR-NIR
關(guān)于此產(chǎn)品
概述
近年來，“近紅外區(qū)域”測量的需求不斷增加，尤其是在顯示器和照明市場。此外，沒有測量儀器可以輕松且高精度地測量這一點。鑒于這種情況，我們基于SR系列光譜輻射計所積累的技術(shù)，開發(fā)了“SR-NIR近紅外光譜輻射計”。該產(chǎn)品與SR系列光譜輻射計配合使用，可以測量380nm至1030nm的光譜輻射度。■ 特點
- 可測量FPD發(fā)射的微弱近紅外光- 實現(xiàn)近紅外區(qū)域（600 至 1,030 nm）光譜分布的高精度測量?與本公司的SR系列光譜輻射計組合使用時，可以測量從可見光到近紅外（380至1030nm）的光譜分布。主要應(yīng)用
?觀察各種FPD的近紅外輸出?Ne、Ar發(fā)射線輸出觀察- 光學(xué)薄膜的近紅外透射特性評價等。- 其他光源的近紅外光譜測量相關(guān)產(chǎn)品
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