DeFelsko生產(chǎn)一種手持式非破壞性涂層測(cè)厚儀，是測(cè)量鋁材上陽(yáng)極氧化層厚度的理想工具。 

測(cè)量陽(yáng)極氧化層厚度的挑戰(zhàn)是什么？

為了有效地控制陽(yáng)極氧化和其他薄涂層的厚度，需要一種精確的非破壞性測(cè)量手段。   

次要的挑戰(zhàn)是在小的或難以觸及的區(qū)域進(jìn)行陽(yáng)極氧化的測(cè)量。

陽(yáng)極氧化涂層厚度測(cè)量解決方案

 渦流計(jì) PosiTector 6000"N "系列電渦流計(jì)是對(duì)非鐵基材上的非導(dǎo)電涂層進(jìn)行非破壞性測(cè)量的理想選擇。PosiTector 6000 NAS探頭是專(zhuān)門(mén)為高分辨率測(cè)量鋁的陽(yáng)極氧化而設(shè)計(jì)的。雖然能夠測(cè)量到625微米（25密耳），但PosiTector 6000 NAS探頭是精確的，它的最高分辨率在100微米（4密耳）以下，這是大多數(shù)陽(yáng)極氧化應(yīng)用的預(yù)期范圍。

圖1-PosiTector 6000 NAS探頭測(cè)量陽(yáng)極氧化的情況

當(dāng)測(cè)量小的或難以觸及的區(qū)域的涂層厚度時(shí)，PosiTector 6000 N Microprobe系列是一個(gè)理想的測(cè)量選擇。通過(guò)0°、45°或90°的探針尖，可以在深孔、小壁架或內(nèi)徑上進(jìn)行厚度讀數(shù)。當(dāng)使用夾具或快速釋放適配器時(shí)，N型微探針的規(guī)格與NAS探針相同。

圖2-PosiTector 6000 N微探針測(cè)量陽(yáng)極氧化的情況