用于測(cè)試柔性材料導(dǎo)電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層

來(lái)源：北京中慧天誠(chéng)科技有限公司 2025年04月08日 22:20

四探針電阻率測(cè)定儀（方塊電阻測(cè)試儀、方阻測(cè)定儀）可根據(jù)不同材料的要求選擇測(cè)試探頭；碳化鎢探針探頭用于測(cè)試硅類半導(dǎo)體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導(dǎo)電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻；鍍金銅合金探針探頭用于測(cè)試柔性材料導(dǎo)電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、高校和科研對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的測(cè)量。

規(guī)格參數(shù)：

測(cè)量范圍

電阻率：10µΩ?cm～200kΩ?cm

方塊電阻：50µΩ/□～1MΩ/□

模擬電阻：10µΩ～200kΩ

測(cè)量精度

電阻率：4%

方塊電阻：4%

模擬電阻：0.1%

測(cè)量速度：10次/秒、5次/秒、2次/秒

觸發(fā)方式：內(nèi)部、手動(dòng)、外部

測(cè)量精度：0.5%

數(shù)據(jù)接口：RC 232C

環(huán)境溫度：0-45℃

相對(duì)濕度：≤95%RH

方阻儀_四探針電阻率測(cè)試儀

型號(hào)：DZF-510

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