通過“照明解決方案”， 為世界各地的“制造業(yè)”做出貢獻(xiàn)。

CCS 以自成立以來積攢下的專有技能和技術(shù)經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)， 通過對(duì)光的波長(zhǎng)、照射距離、照射角度等各種元素進(jìn)行搭配結(jié)合，

為您提供*佳光環(huán)境的“照明解決方案”

日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）的主要產(chǎn)品有：

1、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）環(huán)形光源：

LDR2系列

從形成角度的發(fā)光部照射直射光。

用途：字符識(shí)別、外觀檢測(cè)、損傷與污垢檢測(cè)、 二維代碼讀取等

LDR2-LA系列

從形成角度的發(fā)光部低角度照射直射光。

用途： 金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測(cè)、 異物混入檢測(cè)等

LDR-LA1系列

從水平方向的發(fā)光部低角度照射直射光。

用途： 金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測(cè)、 異物混入檢測(cè)等

SQR系列

從上方照射直射光。

用途： 字符識(shí)別、外觀檢測(cè)、損傷與污垢檢測(cè)、 二維代碼讀取等

SQR-TP系列

從形成角度的發(fā)光部低角度照射直射光。

用途：金屬零件的外觀檢測(cè)、損傷與污垢檢測(cè)等

HLDR-IP系列

照射通過鏡頭集光的擴(kuò)散光。

用途： 金屬零件的缺陷檢測(cè)、橡膠零件的外觀檢測(cè)、 粘合劑涂抹狀態(tài)檢測(cè)（UV）等

HPR2系列

采用**的照射結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)高自由度的均勻范圍。

用途： 通過高角度均勻照射、 低角度特征提取進(jìn)行的檢測(cè)等

LFR系列

從平坦的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 基板上的封裝零件檢測(cè)、 金屬零件的表面檢測(cè)等

LKR系列

從形成角度的發(fā)光部照射擴(kuò)散光。

用途： 通過焊錫檢測(cè)、顏色識(shí)別進(jìn)行不同品種混入檢測(cè)、 光澤表面的污垢檢測(cè)等

FPR系列

從形成角度的發(fā)光面照射低角度擴(kuò)散光。

用途： 金屬零件的邊緣檢測(cè)、電子零件的字符識(shí)別等

2、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）方形光源

FPQ3系列New

從4個(gè)方向以低角度照射擴(kuò)散光。傳統(tǒng)產(chǎn)品2倍的高輸出。

用途：電子零件的字符識(shí)別、食品容器的外觀檢測(cè)、基板的外觀與圖案檢測(cè)等

FPQ2 系列

從4個(gè)方向以低角度照射擴(kuò)散光。

用途：電子零件的外觀檢測(cè)、字符識(shí)別、針或引腳的彎曲、污垢檢測(cè)等

3、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）條形光源

LDL2 系列

從線性封裝LED的發(fā)光部照射直射光。

用途：帶發(fā)紋金屬的損傷檢測(cè)、 異物與有無檢測(cè)等

LDLB 系列 ＜新增防水型＞

控制器內(nèi)置的條形光源，適用于大型被測(cè)物體。

用途： 機(jī)器人拾取用光源、不同品種混入檢測(cè)、 大型被測(cè)物體的外觀檢測(cè)等

HLDL2 系列

照射大型被測(cè)物體的*佳直射光。

用途： 機(jī)器人拾取用光源、大型被測(cè)物體的外觀檢測(cè)、 不同品種混入檢測(cè)等

4、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）平面光源

TH2 系列 (高亮度型)   New

從平坦的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 液面檢測(cè)、針孔檢測(cè)、外觀檢測(cè)、 金屬零件的毛刺檢測(cè)等

TH2 系列 (高指向性型)   New

照射指向性較高的擴(kuò)散光。

用途： 尺寸測(cè)量、外觀檢測(cè)、損傷與污垢檢測(cè)、 缺陷檢測(cè)等

TH2 系列 (大型)   New

*適用于大型被測(cè)物體的平面光源。

用途： 大型被測(cè)物體的液面檢測(cè)、 外觀檢測(cè)、異物檢測(cè)等

TH2 系列 (寬型)   New

適用于長(zhǎng)方形被測(cè)物體及線陣相機(jī)的平面光源。

用途： 長(zhǎng)方形被測(cè)物體的外觀檢測(cè)、片狀被測(cè)物體的缺陷檢測(cè)等

TH2 系列 (開孔型)   New

從與相機(jī)同軸的方向進(jìn)行照射的平面光源。

用途： 外觀檢測(cè)、異物、污垢檢測(cè)、 刻印字符讀取、金屬零件的密封材料 （FIPG）涂抹狀態(tài)檢測(cè)等

TH 系列

從平坦的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 液面檢測(cè)、針孔檢測(cè)、外觀檢測(cè)、 金屬零件的毛刺檢測(cè)等

LFL 系列

從平坦的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 液面檢測(cè)、外觀檢測(cè)、 包裝品的破裂、污垢檢測(cè)等

5、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）圓頂光源

HPD2 系列

利用圓頂形狀的反射板均勻地照射擴(kuò)散光。

用途： 光澤表面、曲面、凹凸面的外觀、印字、顏色識(shí)別檢測(cè)、刻印、損傷與污垢檢測(cè)等

LDM2 系列

從圓錐形發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

用途： 光澤表面、曲面、凹凸面的外觀、印字、顏色識(shí)別檢測(cè)、焊錫檢測(cè)等

LAV 系列

利用擴(kuò)散光光源與同軸光源的復(fù)合結(jié)構(gòu)均勻地照射擴(kuò)散光。

用途：鍍金**檢測(cè)、密封內(nèi)的對(duì)象物檢測(cè)、 光澤面的異物附著檢測(cè)等

PDM 系列

利用擴(kuò)散光光源、同軸光源與低角度光源的復(fù)合結(jié)構(gòu)。

用途：鍍金**檢測(cè)、密封內(nèi)的對(duì)象物檢測(cè)、 光澤面的異物附著檢測(cè)等

6、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）平面無影光源LFX3 系列

以平面外殼實(shí)現(xiàn)了圓頂光源的效果。

7、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）同軸光源

LFV3 系列

從與相機(jī)同軸的方向均勻地照射擴(kuò)散光。

用途： 光澤表面、鏡面的缺陷、損傷、 刻印、凹陷檢測(cè)等

MSU 系列

采用**的光源技術(shù)照射平行度高的擴(kuò)散光。

用途： 光澤表面的細(xì)微損傷檢測(cè)等

MFU 系列

采用**的光源技術(shù)照射平行度高的擴(kuò)散光。

用途： 精密的外觀檢測(cè)、尺寸測(cè)量等

8、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）紫外光源?紅外光源

UV2 系列

使用高輸出UV-LED的UV光源。

用途： 通過激發(fā)熒光進(jìn)行密封材料的有無檢測(cè)等

UV系列

備有使用**UV-LED的各種光源產(chǎn)品陣容。

用途：隱形代碼的讀取等

LNSP-UV-FN 系列

使用高輸出UV-LED的UV線光源。  

用途： 通過激發(fā)熒光進(jìn)行密封材料的有無檢測(cè)等

IR2 系列

備有使用IR-LED的各種光源產(chǎn)品陣容。

用途： 透過液體檢測(cè)內(nèi)部異物等

9、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）點(diǎn)光源

HLV3 系列   New!

-兼具高輸出、高均勻性

-降低亮度個(gè)體差異

-與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比 實(shí)現(xiàn)*大2倍的高輸出化

HLV2 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)照射高輸出的點(diǎn)光。

用途： 尺寸測(cè)量用光源、點(diǎn)照射用光源等

LV 系列

采用**的集光技術(shù)照射點(diǎn)光。

用途： 尺寸測(cè)量用光源、點(diǎn)照射用光源等

10、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）LED光源機(jī)

PFB3 系列  New!

-可替代100W鹵素光源的亮度

-確保調(diào)光的可控性

HFS 系列

采用**集光技術(shù)的LED光纖光源系統(tǒng)（直線形）。

用途：對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記成像等

HFR 系列

采用**集光技術(shù)的LED光纖光源系統(tǒng)（環(huán)形）。

用途：對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記成像等

HLV2-22-NR-3W 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)照射高輸出的點(diǎn)光。

用途： 微型光纖照射頭專用光源

HLV2-3M-RGB-3W

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)及集光技術(shù)照射高輸出的點(diǎn)光。

用途： 微型光纖照射頭專用光源

PFBR 系列

實(shí)現(xiàn)了超過250W金鹵光源的光輸出。

用途：連接各種光纖導(dǎo)管使用

PFB2 系列

實(shí)現(xiàn)了超過100W鹵素光源的光輸出。

用途： 連接各種光纖導(dǎo)管使用

11、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）線光源

CU-LNSP2/LNSP 系列

作為安裝至LNSP系列的同軸光源使用。

LNSP-FN 系列

通過**的集光技術(shù)實(shí)現(xiàn)抑制了光擴(kuò)散的照射。強(qiáng)制冷卻（風(fēng)扇冷卻）型的高輸出線光源。

LN 系列

照射集光后的線光。

適用于外觀檢測(cè)、缺陷檢測(cè)。

LN-HK 系列

照射集光后的線光（高輸出型）。

適用于外觀檢測(cè)、缺陷檢測(cè)

LNSD 系列

用途廣泛的高通用性線光源。

適用于魚眼、損傷、凹痕、異物與污垢檢測(cè)。

LND2 系列

實(shí)現(xiàn)與熒光燈同等亮度且降低了成本的線陣光源?？捎糜谒芯€陣傳感器檢測(cè)。

適用于損傷與凹痕檢測(cè)、異物檢測(cè)、尺寸測(cè)量。

HLND 系列

從線性封裝LED的發(fā)光面照射擴(kuò)散光。

適用于異物檢測(cè)、污垢檢測(cè)。

LT 系列

運(yùn)用本公司**的光學(xué)系統(tǒng)，同時(shí)實(shí)現(xiàn)高均勻性與高亮度。 可通過掃描速率進(jìn)行高精度檢測(cè)，

適用于廣泛的用途。 適用于白點(diǎn)檢測(cè)、劃痕檢測(cè)。

LNV 系列

從與相機(jī)同軸的方向照射擴(kuò)散光。

適用于缺陷檢測(cè)、污垢檢測(cè)。

LNDG 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)斜光照射。

適用于縱向褶皺、縱向條痕、折痕、凹凸、生產(chǎn)線傳送方向的損傷檢測(cè)。

LNIS 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)兩側(cè)斜光照射。

適用于條痕、劃痕檢測(cè)、生產(chǎn)線傳送方向的損傷檢測(cè)。

LNIS-FN 系列

采用**的光學(xué)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)兩側(cè)斜光照射。采用強(qiáng)制冷卻（風(fēng)扇冷卻）的高輸出型。

12、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視）超亮頻閃光源

PF 系列(LDR-PF-LA、LFV-PF)   New

環(huán)形低角度型 LDR-PF-LA、同軸型 LFV-PF。實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的“高速化”、“提高精度”！

PF 系列(HPD-PF、HPR-PF)

產(chǎn)品種類得到擴(kuò)充，用途擴(kuò)大！

PF 系列

利用頻閃發(fā)光，進(jìn)一步加快高速生產(chǎn)線。為提高生產(chǎn)力做出了貢獻(xiàn)。