FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似,它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。
XDL210型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。
XDL210系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
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