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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 典型應(yīng)用領(lǐng)域
XDL 240作為能量色散型X射線熒光測厚及分析儀，主要服務(wù)于以下場景：
大規(guī)模生產(chǎn)部件檢測
電鍍零部件（如螺釘、連接器）的鍍層厚度測量
印刷電路板（PCB）的全自動化鍍層檢測
超薄鍍層分析
裝飾性鍍層（如鉻鍍層）的精準(zhǔn)測量
電子/半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層（如Au/Ni、Ag/Ni）分析
溶液與工藝監(jiān)控
電鍍槽液成分分析（如金屬含量測定）
生產(chǎn)流程中的實時質(zhì)量控制與進(jìn)料檢驗
核心特點(diǎn)與優(yōu)勢
高精度與穩(wěn)定性
比例接收器技術(shù)：實現(xiàn)高計數(shù)率（>100,000 cps），確保測量精度達(dá)納米級
長期穩(wěn)定性：減少校準(zhǔn)頻率，節(jié)省維護(hù)成本（證據(jù)顯示校準(zhǔn)周期延長50%以上）
全參數(shù)法支持無標(biāo)樣分析
基于FISCHER基本參數(shù)法（FP法），可直接分析固體、液體樣品及復(fù)雜鍍層系統(tǒng)，無需依賴標(biāo)準(zhǔn)片
自動化與模塊化設(shè)計
馬達(dá)驅(qū)動平臺：
XY工作臺自動移動至加載位置（保護(hù)罩開啟時）
可編程Z軸（精度0.01mm），支持批量樣品連續(xù)測量
相關(guān)產(chǎn)品
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