Aigtek電壓放大器在MEMS動(dòng)態(tài)應(yīng)力測(cè)試中的應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)名稱:MEMS的動(dòng)態(tài)應(yīng)力測(cè)試
測(cè)試設(shè)備:電壓放大器、計(jì)算機(jī)、高精度CCD、Renishaw拉曼光譜儀、光學(xué)顯微鏡、高精度三維程控平臺(tái)、LM0202光電調(diào)制器、514nm氬離子激光源、自行研制的同步信號(hào)發(fā)生器等。
實(shí)驗(yàn)過程:

圖1:基于拉曼光譜儀的微結(jié)構(gòu)動(dòng)態(tài)應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)圖
搭建如上圖所示的測(cè)試系統(tǒng),在測(cè)試系統(tǒng)中,經(jīng)過放大的正弦信號(hào)來驅(qū)動(dòng)硅微諧振器,和正弦信號(hào)同頻率的脈沖信號(hào)經(jīng)過放大后驅(qū)動(dòng)光電調(diào)制器來調(diào)制激光光束,當(dāng)給光電調(diào)制器施加一等于其半波電壓的高電平時(shí),激光光束幾乎可以通過,然而,當(dāng)給激光調(diào)制器施加一低電平時(shí),幾乎沒有激光可以通過光電調(diào)制器,消光比可以達(dá)到1/100,足以滿足實(shí)驗(yàn)的需要。因此,測(cè)試中利用脈沖信號(hào)通過光電調(diào)制器調(diào)制激光光源產(chǎn)生非連續(xù)激光來照射樣品,繼而發(fā)生拉曼散射現(xiàn)象,拉曼散射光經(jīng)光學(xué)顯微系統(tǒng)由CCD采集其信息傳輸至PC機(jī),由軟件處理所采集到的拉曼光譜得出相應(yīng)的動(dòng)態(tài)應(yīng)力信息。

圖2:測(cè)試系統(tǒng)的誤差分析圖
由于拉曼測(cè)試系統(tǒng)受環(huán)境影響大,測(cè)試前首先應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)硅樣品(標(biāo)準(zhǔn)Si樣品的拉曼頻移為520cm-1)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了誤差測(cè)試(測(cè)試條件:環(huán)境溫度290K,每隔60秒記錄一次拉曼光譜,每條譜線記錄15秒,共測(cè)試10分鐘)。圖2為該測(cè)試方法的隨機(jī)誤差分析圖:在測(cè)試時(shí)間范圍內(nèi)拉曼頻移的最大不確定性為±0.02cm-1,根據(jù)公式可以得出此測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)力測(cè)試誤差約為±10MPa。
實(shí)驗(yàn)結(jié)果:

圖3:拉曼頻移與調(diào)制頻率的關(guān)系

圖4:拉曼光譜能量強(qiáng)度與調(diào)制信號(hào)占空比的關(guān)系
以標(biāo)準(zhǔn)硅為測(cè)試對(duì)象對(duì)拉曼頻移及拉曼光譜的能量強(qiáng)度隨調(diào)制頻率改變的響應(yīng)進(jìn)行了測(cè)試,測(cè)試結(jié)果如圖3、4所示,通過對(duì)測(cè)試結(jié)果的分析可知,拉曼頻移不受調(diào)制頻率的影響,而拉曼光譜的峰值能量強(qiáng)度與調(diào)制信號(hào)的占空比成正比。證明此測(cè)試系統(tǒng)可以滿足動(dòng)態(tài)應(yīng)力的測(cè)試需要。
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圖:ATA-2048高壓放大器指標(biāo)參數(shù)
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