電腦膜層（漆膜）測厚儀發(fā)展概述

厚度測量是涂鍍層物性檢測的重要項目之一，伴著新型工程材料開發(fā)，微電子技術(shù)應用和標準化事業(yè)進展，電腦膜層（漆膜）測厚技術(shù)近幾年來在國內(nèi)外得到迅速發(fā)展。與此同時，采取多種原理，應用范圍廣泛，有較高科技含量，日趨智能化的各類電腦膜層（漆膜）測厚儀相繼問世，有力地推動了工程物理檢測的發(fā)展。與*技術(shù)和同類產(chǎn)品相比，目前我國涂鍍層測厚技術(shù)在總體上相當于*工業(yè)國家19世紀90年代初期水平，面對入世和經(jīng)貿(mào)一體化的挑戰(zhàn)，我們當奮起直追，增強參與競爭的適應力和創(chuàng)新意識，搶抓機遇，努力實現(xiàn)測厚技術(shù)的跨越式發(fā)展。

電腦膜層（漆膜）測厚儀開發(fā)日趨智能化

回顧電腦膜層（漆膜）測厚儀技術(shù)發(fā)展的歷史沿革，集中表現(xiàn)為以下技術(shù)特征：

• 電路設(shè)計：電子管—晶體管—集成電路—芯片L模塊化。
• 整機功能：單（原理）功能型—具有部分統(tǒng)計功能型—雙原理通用型—智能型。
• 探頭制式：主機探頭分離式—主機與探頭一體式（內(nèi)置式探頭）—主機配多規(guī)格探頭（可供選擇更換）。
• 量值顯示：機械式（千分表）—表頭指針式—液晶數(shù)字式—數(shù)據(jù)打印式（外接或內(nèi)置）。

總結(jié)

在*工業(yè)國家，電腦膜層（漆膜）測厚儀技術(shù)標準已自成體系，而且有多種規(guī)格的涂鍍層測厚儀可同時兼顧雙重原理，滿足多項試驗方法標準要求，因而大大地拓展其應用領(lǐng)域。也為我國采用*技術(shù)標準，推動國產(chǎn)儀器更新?lián)Q代提供了借鑒與參考。