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涂層測(cè)厚儀原理：
1、磁性測(cè)厚原理：當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。
1、磁性測(cè)厚原理：當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。
2、渦流測(cè)厚原理：利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
涂層測(cè)厚儀使用注重事項(xiàng)：
由于電磁場(chǎng)在不同表面結(jié)構(gòu)有不同的分布形式，從而導(dǎo)致測(cè)量誤差。為避免因操作而引起的誤差，在使用時(shí)，請(qǐng)遵循以下原則：
1、在同一點(diǎn)重復(fù)測(cè)量時(shí)，每次將探頭離開(kāi)10cm以上，間隔幾秒鐘后再測(cè)，避免被測(cè)材料因探頭磁化后，影響下次測(cè)量結(jié)果。
2、使用時(shí)，平面調(diào)零測(cè)平面，凸面調(diào)零測(cè)凸面，凹面調(diào)零測(cè)凹面，避免因結(jié)構(gòu)不同而產(chǎn)生測(cè)量誤差。
3、盡量使用被測(cè)材料作為調(diào)零基體，避免因不同材料的導(dǎo)磁性不同，而出現(xiàn)測(cè)量誤差。
4、盡量在被測(cè)材料的同一部位調(diào)零后，再測(cè)相同部位。例如，在工件邊緣和中間部位應(yīng)分別調(diào)零。
5、做調(diào)零用的表面，要盡量光滑；被測(cè)材料表面的粗糙度對(duì)測(cè)量數(shù)值影響很大，假如表面不光滑，應(yīng)視情況取平均值。
6、測(cè)量時(shí)，探頭要保持與被測(cè)料面垂直，否則會(huì)產(chǎn)生較大誤差。
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