電磁式振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)品用途: 振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)模擬產(chǎn)品在制造,組裝運(yùn)輸及使用過(guò)程中所遭遇的各種環(huán)境,用以鑒定產(chǎn)品是否忍受環(huán)境振動(dòng)的能力,適用于電子、機(jī)電、光電、汽機(jī)車、玩具……等各行各業(yè)的研究、開(kāi)發(fā)、品管、制造.振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)能讓我們提早知道產(chǎn)品或產(chǎn)品中的部件的耐振壽命,從而確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)及功能的要求標(biāo)準(zhǔn). 二、電磁式振動(dòng)臺(tái)檢測(cè)范圍: 1、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度. 2、結(jié)合物的松脫. 3、保護(hù)材料的磨損. 4、零部件的破損. 5、電子組件的接觸不良. 6、電路短路及斷續(xù)不穩(wěn). 7、各零件之標(biāo)準(zhǔn)值偏移. 8、提早將不良件篩檢. 9、找尋零件、結(jié)構(gòu)、包裝與運(yùn)送過(guò)程間之共振關(guān)系. 三、使用電磁式振動(dòng)臺(tái)的優(yōu)點(diǎn): 1、設(shè)計(jì)時(shí),可分析破壞點(diǎn)、易不良點(diǎn), 2、質(zhì)量時(shí),可分析每一批產(chǎn)品所產(chǎn)生的不同點(diǎn)和不良點(diǎn), 3、生產(chǎn)時(shí),可*一邊振動(dòng)一邊測(cè)量，使不良率及早發(fā)現(xiàn).4.耐久測(cè)量，使產(chǎn)品持久耐用，讓不耐久的組件提早改進(jìn)，公司的口啤就會(huì)越來(lái)越好。國(guó)標(biāo)振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)如下：

      GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則: 振動(dòng)(正弦) 　
　
      GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求
　　
      GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性
　　
      GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)中再現(xiàn)性 　
　
      GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性
　　
      GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法 　
　
      GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法
　　
      GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff: 振動(dòng)--時(shí)間歷程法 　　

      GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe: 振動(dòng)--正弦拍頻法 　　

      GB/T 2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正玄）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 　
　
      GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正玄）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則。