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            紫外可見分光光度計雜散光測試步驟

            來源:上海棱光技術有限公司   2016年02月22日 15:21  
            據了解,有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光,不測試340nm處的雜散光,這樣是不正確的,需測試220nm處雜散光是因為:①根據量子光學理論,波長是能量的倒數(shù),波長短能量大,容易產生雜散光,而220nm處屬于短波部分;②根據儀器學理論中的電光源理論,氘燈在220nm處能量很小,即信號很小,容易顯現(xiàn)雜散光;③根據儀器學理論中的光電發(fā)射理論,光電倍增管在220nm處的光譜響應(靈敏度)低,容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的,因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方,此時zui容易產生雜散光。所以,對于紫外可見分光光度計來講,應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。
                 紫外可見分光光度計
            紫外可見分光光度計雜散光測試步驟
            1、首先將參比液注入配對石英石吸收池,分別放置在參比池座和試樣池座內。再測定波段掃描基線并使之平滑。
            2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內,其讀數(shù)即為減光片的衰減值K,然后將減光片插入參比光路的濾光片座內,
            3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,插入試樣試樣池座中,在相應的波段內掃描、打印;在記錄紙的作標上量取測定波長處的透光度,乘以衰減值K,即得各測定波長處的雜散光值。

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