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            北京愛萬提斯科技有限公司--Avantes

            19
            • 2016

              03-14

              超低雜散光光纖光譜儀包括一個新型光學(xué)平臺

              AvaSpec-ULS系列光譜儀包括一個光學(xué)平臺,大大降低了雜散光并提高了機械和溫度穩(wěn)定性。這個新型的光學(xué)平臺具有一個雙內(nèi)置模式消除器和多階復(fù)合拋物面鏡,因此把雜散光降到0.04%,比標(biāo)準(zhǔn)型AvaSpec-2048光譜儀提高了2.5倍。除了能夠顯著改善雜散光,這個新型光學(xué)平臺還把光譜儀的機械強度提高了10倍以上,使得它對機械扭曲和溫度變化不再敏感。AvaSpec-ULS光學(xué)平臺可以使用以下探測器:1024,2048,2048L,3648和2048x14,而且和標(biāo)準(zhǔn)的75mmAvabench光學(xué)平
            • 2016

              03-07

              AvaSpec高紫外靈敏度薄型背照式CCD光譜儀

              AvaSpec-2048x14型光纖光譜儀是一款具有高量子效率和高紫外靈敏度的CCD光譜儀。它基于avaBench-75光學(xué)平臺,采用對稱式Czerny-Turner光路設(shè)計,帶有2048×14個像素的高紫外靈敏度CCD面陣傳感器。這個面陣傳感器實際上被用做2048像素的線陣傳感器,只不過這時的每個像素是垂直方向上14個像素信號的累加以提高靈敏度。光譜儀包括光纖接頭(標(biāo)準(zhǔn)SMA接口,也可以選擇其它類型的接口)、準(zhǔn)直鏡、聚焦鏡和衍射光柵。提供16種不同色散系數(shù)和閃耀波長的光柵供用戶選擇,測量波長范
            • 2016

              03-02

              AvaLIBS激光誘導(dǎo)等離子光譜工作原理

              激光誘導(dǎo)等離子光譜(LIPS)或者更常見的叫法激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)是一種原子發(fā)射光譜,它使用脈沖激光器作為激發(fā)源。激光脈沖(典型值10ns)聚焦到被測物體的表面,使被測材料表面的激光功率密度超過1GW/cm2。在如此之高的激光功率密度作用下,被測材料表面就會有幾微克的物質(zhì)被噴射出來同時材料表面還會產(chǎn)生壽命很短但亮度很高的等離子體,其瞬間溫度可達(dá)10,000oC。冷卻過程中,處于激發(fā)態(tài)的原子和離子從高能態(tài)躍遷到低能態(tài),并發(fā)射出具有特定波長的光輻射。探測系統(tǒng)可以使用高靈敏度、高分辨率、多通道
            • 2015

              10-09

              OEM模塊化光譜儀應(yīng)用于氣體監(jiān)測的各個領(lǐng)域

              伴隨著國內(nèi)GDP的不斷升高,國內(nèi)大部分地區(qū)的大氣質(zhì)量繼續(xù)惡化,各地發(fā)生的霧霾天氣不斷增多,直接威脅公眾健康。環(huán)保部出臺諸多措施,其中之一項措施就是2014年1月1日起對各類固定污染源執(zhí)行新的大氣污染物排放標(biāo)準(zhǔn),對便攜式監(jiān)測及在線監(jiān)測設(shè)備也是一個新的考驗。Avantes公司專門為OEM客戶開發(fā)的OEM模塊化光譜儀已經(jīng)成功的用于氣體監(jiān)測的各個領(lǐng)域,具有溫度穩(wěn)定性高,高靈敏度(ppb~ppm),性能可靠,成本低等特點。整套設(shè)備中需要配置一個紫外可見輸出的寬譜光源,一般采用氘燈或者氙燈,采用反射/透射式
            • 2015

              09-11

              微型光纖光譜儀的是CEMS系統(tǒng)光譜探測器的理想選擇

              引言煙氣排放連續(xù)監(jiān)測系統(tǒng)(以下簡稱CEMS)廣泛應(yīng)用于火力發(fā)電、化工、石化、鋼鐵、垃圾焚燒、焦化、水泥等行業(yè)的各種鍋爐、窯爐,用于在線監(jiān)測工業(yè)生產(chǎn)過程中固定污染源的煙氣排放以及指導(dǎo)煙氣脫硫、脫硝系統(tǒng)的運行和控制。近年來,基于差分吸收光譜(以下簡稱DOAS)技術(shù)的新型CEMS系統(tǒng)逐漸成為主流技術(shù)路線。光纖光譜儀作為CEMS系統(tǒng)的核心部件,它的主要作用是將系統(tǒng)中的光信號轉(zhuǎn)化為電信號,再對光電轉(zhuǎn)化后的信號進(jìn)行相關(guān)的處理后可測量脫硝、脫硫前后煙氣中的SO2、NO、NO2等氣體的含量。我們重點介紹利用光纖
            • 2015

              08-26

              拉曼光譜儀的歷史

              拉曼光譜儀的歷史1928年C.V.拉曼實驗發(fā)現(xiàn),當(dāng)光穿過透明介質(zhì)被分子散射的光發(fā)生頻率變化,這一現(xiàn)象稱為拉曼散射,同年稍后在蘇聯(lián)和法國也被觀察到。在透明介質(zhì)的散射光譜中,頻率與入射光頻率υ0相同的成分稱為瑞利散射;頻率對稱分布在υ0兩側(cè)的譜線或譜帶υ0±υ1即為拉曼光譜,其中頻率較小的成分υ0-υ1又稱為斯托克斯線,頻率較大的成分υ0+υ1又稱為反斯托克斯線??拷鹄⑸渚€兩側(cè)的譜線稱為小拉曼光譜;遠(yuǎn)離瑞利線的兩側(cè)出現(xiàn)的譜線稱為大拉曼光譜。瑞利散射線的強度只有入射光強度的10-3,拉曼光譜強度大
            • 2015

              08-25

              高速光譜儀適合透鏡的中心厚度在線檢測

              在光學(xué)領(lǐng)域中,透鏡的三項基本參數(shù)是中心厚度、折射率和曲率半徑,其中透鏡中心厚度加工的誤差是影響光學(xué)系統(tǒng)成像的重要因素。例如在航空、航天等高精度光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)品中,對透鏡的公差有著嚴(yán)格的要求,透鏡的光軸偏角、徑向偏移和軸向間隙需要根據(jù)鏡頭中透鏡的中心厚度來進(jìn)行計算;因此光學(xué)透鏡中心厚度測量是一項為重要的參數(shù)。透鏡中心厚度檢測是透鏡生產(chǎn)中的一個重要環(huán)節(jié),傳統(tǒng)的方法是采用接觸式測量法,這種檢測法精度低、耗時長、容易劃傷透鏡并且無法實現(xiàn)實時在線測量。而另外一種非接觸式測量采用光學(xué)原理-色差共焦原理可以避免上
            • 2015

              08-05

              高速光譜儀是LED分光機為核心和關(guān)鍵部件

              隨著LED產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,LED的特性測量問題日益受到社會的關(guān)注。與白熾燈、熒光燈等傳統(tǒng)光源相比,發(fā)光二極管(LED)具有壽命長、光效高、功耗低及便于維修等優(yōu)點,因此,對LED性能參數(shù)的測試顯得尤為重要。評價LED性能參數(shù)主要由LED主波長;色坐標(biāo);光強;光亮度;色溫等相關(guān)光色參數(shù)來決定。目前LED已在進(jìn)行大面積推廣,會逐步取代我們現(xiàn)有常規(guī)白熾燈和節(jié)能燈,我們?nèi)粘=佑|的LED一般都是以終端產(chǎn)品;LED照明燈、LED臺燈、LED交通燈、LED隧道燈等各式各樣的LED產(chǎn)品,因此面向不同的應(yīng)用,會根據(jù)
            • 2015

              07-20

              微型光纖光譜儀應(yīng)用

              微型光纖光譜儀應(yīng)用1引言光譜儀器是應(yīng)用光學(xué)技術(shù)、電子技術(shù)及計算機技術(shù)對物質(zhì)的成分及結(jié)構(gòu)等進(jìn)行分析和測量的基本設(shè)備,廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測、工業(yè)控制、化學(xué)分析、食品品質(zhì)檢測、材料分析、臨床檢驗、航空航天遙感及科學(xué)教育等領(lǐng)域。由于傳統(tǒng)的光譜儀存在著結(jié)構(gòu)復(fù)雜、使用環(huán)境受限、不便攜帶及價格昂貴等不足,不能滿足現(xiàn)場檢測和實時監(jiān)控的需求。因此,微型光纖光譜儀成為光譜儀器發(fā)展的一個重要的研究方向。近年來,由于光纖技術(shù)、光柵技術(shù)及陣列式探測器技術(shù)的發(fā)展和成熟,使得光譜檢測系統(tǒng)形成了光源、采樣單元及攝譜單元相分離的結(jié)
            • 2015

              07-15

              日曬氣候色牢度試驗儀用于紫外老化的測量

              隨著在紡織行業(yè)對織物和染料評定的標(biāo)準(zhǔn)越來越高,方便快捷的測量校準(zhǔn)日曬氣候色牢度試驗儀(也稱紫外老化儀)正成為一種迫切的需求,給纖維檢驗計量單位和日曬儀廠家提供一種更加的測量校準(zhǔn)方式。本文以荷蘭Avantes公司的AvaSun-XL光譜輻照度儀為例,介紹在測量校準(zhǔn)日曬氣候色牢度試驗儀方面的應(yīng)用。1.引言日曬氣候色牢度試驗儀(簡稱日曬儀);在紡織行業(yè)用于快速測定染料的日曬和氣候牢度以及各類織物的耐日光氣候性能;日曬儀內(nèi)部采用氙燈光源模擬太陽對各類織物或染料進(jìn)行日光老化,然后通過標(biāo)準(zhǔn)試樣按照國家標(biāo)準(zhǔn)對
            • 2015

              07-09

              顏色應(yīng)用軟件用光譜儀系統(tǒng)進(jìn)行顏色測量

              物物體的顏色可以用CIE1976(L*a*b*)顏色空間表示。L*值表示顏色的亮度,正的a*值表示顏色的紅色值,負(fù)的a*值表示顏色的綠色值。近似地,黃色和藍(lán)色值由b坐標(biāo)值表示,正值表示顏色的黃色值,負(fù)值表示顏色的藍(lán)色值。L*a*b*各值可以根據(jù)樣品(物體)的CIE三刺激值X,Y,和標(biāo)準(zhǔn)光源的三刺激值Xn,Yn,n得到,標(biāo)準(zhǔn)光源的三刺激值Xn,Yn,n為常量,僅取決于所選擇的標(biāo)準(zhǔn)光源的類型。vaSoft-COL顏色應(yīng)用軟件顏色圖顯示有以下一些特性:以CIELAB圖表顯示,還有實際的樣品顏色和參色以
            • 2015

              07-09

              激光誘導(dǎo)擊穿光譜的基本原理

              激光弧光光譜(LASS)、激光誘導(dǎo)等離子光譜(LIPS)或者更常見的叫法激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)是一種原子發(fā)射光譜,它使用脈沖激光器作為激發(fā)源。它的基本原理請參見下面的示意圖。脈沖激光器(比如調(diào)Q的Nd:YAG激光器)的輸出激光脈沖被聚焦到被測物體的表面。僅使用小型激光器和簡單的聚焦透鏡,就可以在激光脈沖的持續(xù)時間內(nèi)(典型值是10ns)使被測材料表面的激光功率密度超過1GW/cm2。在如此之高的激光功率密度作用下,被測材料表面就會有幾微克的物質(zhì)被噴射出來,這個過程通常被稱為激光剝離,同時材料
            • 2015

              07-06

              反射型光纖探頭在線監(jiān)測鍍膜

              在鍍膜過程中需要對一些重要參數(shù)進(jìn)行監(jiān)控,如膜層厚度、成分、表面光潔度、光透射率、反射系數(shù)、偏振特性等,都可以利用光譜學(xué)和雙光束干涉的方法進(jìn)行測量。光纖的使用為監(jiān)控過程提供了靈活的工具,可以使光方便地進(jìn)入或?qū)С鲞h(yuǎn)方的真空超凈室,而且可以同時為膜層分析提供多個幾何量的測量選擇。膜層的照明和發(fā)光的探測可以在相對于膜層的不同光纖位置進(jìn)行,可以測量鏡面反射、漫反射、傳輸、偏振、干涉、熒光和拉曼散射等??梢岳枚喔饫w同時監(jiān)測多個參數(shù),或者在不同的空間位置或掩模條件下同時測量。用幾個適宜結(jié)構(gòu)的光纖探頭,就可
            • 2015

              07-03

              測量薄膜反射率及膜層厚度

              薄膜測量系統(tǒng)是專門針對半導(dǎo)體、材料、生物醫(yī)學(xué)薄膜的實驗室分析及在線監(jiān)測開發(fā)的,用于測量薄膜反射率及膜層厚度的綜合測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)基于白光反射及干涉的原理來確定光學(xué)薄膜的厚度??梢酝ㄟ^對白光干涉圖樣進(jìn)行數(shù)學(xué)運算來計算出薄膜厚度。對于單層膜來說,如果已知薄膜的n和k值就可以計算出它的物理厚度。AvaSoft-Thinfilm軟件內(nèi)有一個包含大部分常用材料和膜層的n值和k值的數(shù)據(jù)庫。TFProbe多層膜測量軟件可以測量多達(dá)5層膜的厚度和光學(xué)常數(shù)(n、k值),實現(xiàn)實時或在線膜厚和折射率監(jiān)控。參數(shù)指標(biāo):光
            • 2015

              07-03

              光合有效輻射測量

              光是植物生理、生態(tài)和農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中的一個重要環(huán)境因素,對植物的生長發(fā)育起著重要作用。而在植物的光合作用中,只有能被植物吸收和利用的光才是與光合或干物質(zhì)積累有關(guān)。測量這部分光,并且以能量單位度量,作為光合效率或干物質(zhì)生產(chǎn)效率的基礎(chǔ),這個觀念已得到迅速且普遍的采納。這樣的輻射稱為光合有效輻射。此外,對綠色植物生長發(fā)育有作用的輻射波長范圍較光合有效輻射波長范圍(380-710nm)要寬,大致在300-800nm,這一部分輻射稱為生物輻射,它除對光合作用起作用外,也對其他一些生理活動有響應(yīng)。同時,在密閉式植
            • 2015

              06-24

              高光譜遙感

              地物光譜測量是依據(jù)地球表面物體對可見光和近紅外的反射率測量。地物光譜測量可以直接地或者輔助其他方法對物體做定性或定量分析。典型的地物光譜測量任務(wù)典型的任務(wù):獲取某一地區(qū)的作物的分布圖。終制成的地圖中標(biāo)出作物的類別,例如:甜菜、未成熟玉米、成熟玉米、剛收割的苜蓿、成熟的苜蓿、裸露地、草地、房屋等等;終的結(jié)果以地物測量的數(shù)據(jù)為基礎(chǔ),分析地球資源衛(wèi)星照片得到。隨著含水量的降低,植物的在可見光波段的反射率逐漸平坦,位于近紅外的水的吸收峰也逐漸消失。有機質(zhì)含量增大、濕度增大、顆粒變大往往會導(dǎo)致反射率的下降
            • 2015

              06-24

              戶外光譜監(jiān)測

              太陽光譜輻照測量應(yīng)用包括科學(xué)氣象、氣候觀測、材料測試研究,太陽能電池板效率和太陽能可再生能源的評價等。在大氣層外,太陽光譜可以看作為全波段的電磁波譜,但是在地表,由于大氣環(huán)境的影響,太陽光譜會存在很多特征,也正是基于此,戶外太陽光譜的監(jiān)測越來越多的被用于獲得太陽的發(fā)光特性,了解光在大氣中的傳輸規(guī)律,以實現(xiàn)對大氣組分的監(jiān)測。大氣中的水蒸汽、臭氧、氧氣等氣體會吸收部分太陽光(見圖1所示)。而由固態(tài)或液態(tài)的質(zhì)粒分散到空氣中形成的氣溶膠體系,對大氣輻射傳輸、氣候變化、環(huán)境質(zhì)量、云和降水過程以及水文循環(huán)過
            • 2015

              06-15

              太陽模擬器光譜匹配度檢測方案

              太陽模擬器作為光源,在某種意義上說,可以等同于太陽光源,可以模擬太陽光照射。太陽模擬器廣泛應(yīng)用于太陽能電池特性測試,光電材料特性測試,生物化學(xué)相關(guān)測試,光學(xué)催化降解加速研究,皮膚化妝用品檢測,環(huán)境研究等。隨著太陽能光伏產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展,太陽能模擬器的光譜匹配性能測試也越趨重要。針對大多數(shù)采用脈沖氙燈作為光源的設(shè)備,理想的測試狀態(tài)是采集一個脈沖周期內(nèi)的輻射光譜,進(jìn)而判斷該太陽能模擬器的光譜等級。設(shè)備和方法1、穩(wěn)態(tài)光譜采集根據(jù)IEC60904-9-2007標(biāo)準(zhǔn)要求,太陽模擬器的有效光譜范圍400-11
            • 2015

              06-15

              等離子體光譜診斷解決方案

              薄膜材料因其在多個方面的性能,使得應(yīng)用十分廣泛,薄膜的制備有多種方法,磁控濺射法是當(dāng)今制備薄膜比較常用的一種方法。而用磁控濺射法制備出高質(zhì)量薄膜的關(guān)鍵是薄膜生長過程中的工藝參數(shù)選擇與穩(wěn)定性控制。為此在薄膜生長中的工藝參數(shù)對薄膜的各種性能影響方面做了探討與研究,如采用真空濺射鍍膜技術(shù)在鎳鋅鐵氧基片上制備了Cr/Ni-Cu/Ag結(jié)構(gòu)的金屬化復(fù)合薄膜,分析了濺射功率,靶基間距和濺射氣壓等工藝參數(shù)對薄膜性能的影響,并得出好的實驗條件。等離子體發(fā)射光譜研究是了解放電條件下氣體狀態(tài)的有效手段和用于無干擾診斷
            • 2015

              06-03

              光譜儀各項性能分析

              光譜學(xué)測量的基礎(chǔ)是測量光輻射與波長的對應(yīng)關(guān)系。一般來說,光譜學(xué)測量的直接結(jié)果是由很多個離散的點構(gòu)成曲線,每個點的橫坐標(biāo)(X軸)是波長,縱坐標(biāo)(Y軸)是在這個波長處的強度。因此,一個光譜儀的性能,可以粗略地分為下面幾個大類:1.波長范圍(在X軸上的可以測量的范圍);2.波長分辨率(在X軸上可以分辨到什么程度的信號變化);3.噪聲等效功率和動態(tài)范圍(在Y軸上可以測量的范圍);4.靈敏度與信噪比(在Y軸上可以分辨到什么程度的信號變化);5.雜散光與穩(wěn)定性(信號的測量是否可靠?是否可重現(xiàn));6.采樣速度
            91011121314共14頁277條記錄