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            冠乾科技(上海)有限公司
            初級(jí)會(huì)員 | 第6年
            SiC外延片測(cè)試方案2023/03/15
            SiC由于其禁帶寬度大、熱導(dǎo)率高、電子的飽和漂移速度大、臨界擊穿電壓高和介電常數(shù)低等特點(diǎn),在高頻、高功率、耐高溫的半導(dǎo)體功率器件和紫外探測(cè)器等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景,特別是在電動(dòng)汽車、電源、航天等領(lǐng)域備受歡迎。外延材料是實(shí)現(xiàn)器件制造的關(guān)鍵,主要技術(shù)指標(biāo)有外延層厚度、晶格布局,材料結(jié)構(gòu),形貌以及物理性質(zhì),表面粗糙度和摻雜濃度等。本文闡述了SiC外延表面常見的測(cè)試手段。本解決方案詳細(xì)闡述了如何檢測(cè)SiC外延層厚度、晶格布局,材料結(jié)構(gòu),形貌以及物理性質(zhì),表面粗糙度和摻雜濃度。如果需要查看完整的文章,請(qǐng)
            三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的解決方案2021/03/11
            光學(xué)元件在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用,對(duì)光學(xué)元件的表面加工精度提出越來(lái)越高的要求。如何檢測(cè)光學(xué)元件的加工精度,從而用于優(yōu)化加工方法,保證終元器件的性能指標(biāo),是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問題之一。光學(xué)元件的加工精度包括表面質(zhì)量和面型精度,這些參數(shù)會(huì)影響其對(duì)光信號(hào)的傳播,進(jìn)而影響終器件的性能。此外,各種新型光學(xué)元件也需要檢測(cè)其表面輪廓,比如非球面,衍射光學(xué)元件,微透鏡陣列等。除了終光學(xué)元件的加工精度以外,各種光學(xué)元件加工工藝也需要檢測(cè)中間過程的三維形貌以保證終產(chǎn)品的精度,包括注塑、模壓的模具,光學(xué)圖案轉(zhuǎn)印時(shí)的
            布魯克公司發(fā)布完整的掃描電化學(xué)顯微鏡解決方案2021/03/11
            完整的SECM電化學(xué)顯微鏡解決方案布魯克*的PeakForceSECM™模塊是完備商用解決方案,在基于原子力顯微鏡的掃描電化學(xué)顯微鏡上實(shí)現(xiàn)了小于100納米的空間分辨率。通過創(chuàng)新性探針設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率的基于原子力顯微鏡的掃描電化學(xué)顯微鏡目前已廣泛應(yīng)用于新興研究領(lǐng)域,如化學(xué)動(dòng)力學(xué),生物化學(xué)信號(hào)傳導(dǎo)和環(huán)境化學(xué)等。此外,此技術(shù)可以納米級(jí)橫向分辨同時(shí)獲取形貌、電化學(xué)、電學(xué)和機(jī)械性能等圖譜。PeakForceSECM™充分利用峰值力模式的優(yōu)勢(shì)從根本上重新定義了在液下能實(shí)現(xiàn)哪些電學(xué)和化學(xué)過程的納米尺度
            各種金屬牌號(hào)3D打印技術(shù)應(yīng)用2021/03/10
            SLMSolutions代表了創(chuàng)新性、技術(shù)性、高效性的全套解決方案。來(lái)自不同行業(yè)的客戶均選擇SLMSolutions的設(shè)備生產(chǎn)復(fù)雜的零部件。從義齒到渦輪葉片,設(shè)備的應(yīng)用領(lǐng)域極其廣泛。這些產(chǎn)品均符合一個(gè)共同的要求:滿足穩(wěn)定性、表面質(zhì)量或生物相容性的高標(biāo)準(zhǔn)。而且設(shè)備的適用范圍還在擴(kuò)大,基本上囊括了所有幾何結(jié)構(gòu)。粉末種類具體類型舉例材料特性典型應(yīng)用領(lǐng)域鋁合金AlSi10Mg優(yōu)異的抗腐蝕性良好的導(dǎo)電性動(dòng)態(tài)斷裂韌性高優(yōu)異的導(dǎo)熱性能航空航天汽車行業(yè)機(jī)械工程熱交換器件鎳基合金HX強(qiáng)度高延展性好優(yōu)異的高溫抗氧化
            布魯克三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的一些應(yīng)用2020/12/08
            光學(xué)元件在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用,對(duì)光學(xué)元件的表面加工精度提出越來(lái)越高的要求。如何檢測(cè)光學(xué)元件的加工精度,從而用于優(yōu)化加工方法,保證終元器件的性能指標(biāo),是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問題之一。光學(xué)元件的加工精度包括表面質(zhì)量和面型精度,這些參數(shù)會(huì)影響其對(duì)光信號(hào)的傳播,進(jìn)而影響終器件的性能。此外,各種新型光學(xué)元件也需要檢測(cè)其表面輪廓,比如非球面,衍射光學(xué)元件,微透鏡陣列等。除了終光學(xué)元件的加工精度以外,各種光學(xué)元件加工工藝也需要檢測(cè)中間過程的三維形貌以保證終產(chǎn)品的精度,包括注塑、模壓的模具,光學(xué)圖案轉(zhuǎn)印時(shí)的
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