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						廣州鴻熙電子科技有限公司
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            X射線測厚儀有哪些主要原理呢2023/03/24
            
					
            
				X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，已達到要求的軋制厚度。適用范圍生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業(yè)，可以與軋機配套，應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，x射線測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼
					
            
				
            
								
            
					
            鍍層膜厚標準片的應用及作用2022/12/30
            
					
            
				鍍層膜厚標準片又名膜厚儀校準片,用于測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB,五金電鍍,半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。鍍層膜厚標準片作用：1：用來對膜厚儀工作狀態(tài)的準確性和穩(wěn)定性進行校驗。在膜厚儀測試過程中對膜厚儀運行過程中，確認工作狀態(tài)。防止
					
            
				
            
								
            
					
            鍍層膜厚儀有哪些主要功能呢2022/11/24
            
					
            
				鍍層膜厚儀主要檢測鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀、鍍銅等金屬鍍層厚度，儀器利用X射線原理，是一款快速、無損、準確測試電鍍層厚度的儀器，廣泛應用于衛(wèi)浴、高壓開關、電器連接器、精密五金、表面處理等企業(yè)中，產品得到了客戶的廣泛應用和認可。鍍層膜厚儀，簡稱為，鍍層厚度檢測儀，是用來專業(yè)測量，金鎳，銅厚，等，鍍層的厚度的標準儀器。檢測鍍層厚度也有一定要求，鍍層厚度要求分散能力是具有比較性質，其比較的基準是初次電流分布。鍍層厚度要求在零件上均勻分布的能力越高，該電鍍溶液的分散能力就越好。鍍層厚度要求在陰極表面
					
            
				
            
								
            
					
            一文介紹x射線鍍層測厚儀原理及應用范圍2022/10/31
            
					
            
				X射線鍍層測厚儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量速度慢，多適用于抽樣檢驗。x射線鍍層測厚儀是通過X射線激發(fā)各種物質(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線，然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性，測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質的厚度，這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線。而各種物質的強度增加，厚度值也增加，但不
					
            
				
            
								
            
					
            X射線管各部分的作用介紹2022/09/22
            
					
            
				X射線管合理的設計使其具備長時間連續(xù)工作的能力，符合光譜儀及X射線直接成像設備的工作特點，大工作電壓50kV,大工作電流1mA。光管采用W質陽極靶材，擁有穩(wěn)定的使用壽命及適用性較廣的激發(fā)X射線，適用于工業(yè)常見的各種元素分析及鍍層測厚。固定陽極X射線管是常用X射線管中簡單的一種，其結構由陽極、陰極和固定兩極并保持玻璃管內高真空的玻璃殼等三部分組成。陽極由陽極頭、陽極帽、玻璃圈和陽極柄構成。陽極的主要作用使由陽極頭的靶面（一般選用鎢靶）阻擋高速運動的電子流而產生X射線，并將由此產生的熱量輻射或者通過
					
            
				
            
								
            
					
            X射線管的產品原理介紹2022/08/22
            
					
            
				X射線管在醫(yī)學上用于診斷和治療,在工業(yè)技術方面用于材料的無損檢測、結構分析、光譜分析和底片曝光等。X射線對人體有害，使用時須采取有效防護措施。陽極由陽極頭、陽極帽、玻璃圈和陽極柄構成。陽極的主要作用使由陽極頭的靶面（一般選用鎢靶）阻擋高速運動的電子流而產生X射線，并將由此產生的熱量輻射或者通過陽極柄傳導出去，同時也吸收二次電子和散亂射線。鎢合金X射線管工作中產生X射線僅僅利用了不到高速運動電子流1%的能量，因此散熱是X射線管很重要的問題。陰極主要由燈絲、聚焦罩（或者稱為陰極頭）、陰極套和玻璃芯柱
					
            
				
            
								
            
					
            鍍層測厚儀的主要應用介紹2022/07/28
            
					
            
				鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié)。對鍍層厚度有明確要求。鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微
					
            
				
            
								
            
					
            X射線測厚儀的主要特點介紹2022/07/19
            
					
            
				X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由專用測厚儀操作系統(tǒng)轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，已達到要求的軋制厚度。適用
					
            
				
            
								
            
					
            鍍層測厚儀的產品測量方法介紹2022/06/30
            
					
            
				鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產品達到質量標準的必要手段。對鍍層厚度有了明確要求。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價低，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的
					
            
				
            
								
            
					
            X 射線管的結構原理介紹2022/06/17
            
					
            
				X射線管是工作在高電壓下的真空二極管。包含有兩個電極：一個是用于發(fā)射電子的燈絲，作為陰極，另一個是用于接受電子轟擊的靶材，作為陽極。兩極均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內。X射線管在醫(yī)學上用于診斷和治療,在工業(yè)技術方面用于材料的無損檢測、結構分析、光譜分析和底片曝光等。X射線對人體有害，使用時須采取有效防護措施。X射線管包含有陽極和陰極兩個電極，分別用于用于接受電子轟擊的靶材和發(fā)射電子的燈絲。兩極均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內。X射線管供電部分至少包含有一個使燈絲加熱的低壓電源和一個給兩極施
					
            
				
            
								
            
					
            X射線熒光光譜儀的物理原理介紹2022/05/30
            
					
            
				X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光的物理原理當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。XRF用X光
					
            
				
            
								
            
					
            韓國ISP X射線熒光光譜儀軟件功能簡介2019/07/10
            
					
            
				iEDX-150WT型號光譜儀軟件功能1)軟件應用-單鍍層測量-線性層測量，如：薄膜測量-雙鍍層測量-針對合金可同時進行鍍層厚度和元素分析-三鍍層測量。-無電鍍鎳測量-吸收模式的應用DIN50987.1/ISO3497-A2-勵磁模式的應用DIN50987.1/ISO3497-A1-基本參數(shù)法可以滿足所有應用領域的測量2)軟件標定-自動標定曲線進行多層分析-使用無標樣基本參數(shù)計算方法-使用標樣進行多點重復標定-標定曲線顯示參數(shù)及自動調整功能3)軟件校正功能：-基點校正（基線本底校正）-多材料基點
					
            
				
            
							
				
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