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            賽默飛電子顯微鏡

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            ARTICLE

            當(dāng)前位置:賽默飛電子顯微鏡>>技術(shù)文章展示

            • 2024

              07-12

              技術(shù)分享丨賽默飛RGB CL陰極熒光探測器

              01陰極發(fā)光(CL)原理陰極發(fā)光是固體物質(zhì)的一種表面物理熒光現(xiàn)象,在掃描電鏡中,當(dāng)一束高能電子束轟擊固體樣品的表面時,入射電子與樣品發(fā)生作用,產(chǎn)生諸如二次電子、背散射電子、特征X射線、俄歇電子等信號,而對于某些特定材料,如礦物、氧化鋁、三/五族材料(GaAs,InGaN)、磷光劑、燃料及一些有機化合物等,入射電子會將材料的電子轟擊至導(dǎo)帶讓其處于激發(fā)態(tài),受轟擊電子會快速回復(fù)至價帶,回復(fù)過程中產(chǎn)生的能量差就以可見光的形式釋放出來,即陰極發(fā)光,陰極發(fā)光是一種熒光,又稱陰極熒光,其發(fā)光波譜多數(shù)為可見光范
            • 2024

              07-12

              ChemiPhase——更容易,更全面,更準(zhǔn)確的物相分析

              QUESTION您是一位研究員、工程師還是對金屬材料研究有濃厚興趣的科研工作者嗎?如果是,您可能會感興趣我們最新的應(yīng)用示例手冊!不管是金屬增材制造中的新材料,還是復(fù)雜材料中的雜質(zhì),分析它們的元素組成成分向來是一個充滿挑戰(zhàn)的任務(wù)。在這個應(yīng)用示例中,我們充分展示了ThermoScientificChemiSEM™技術(shù)如何在SEM表征過程中提供實時元素信息,并且利用其搭配的ChemiPhase軟件的強大譜圖分析能力進(jìn)行物相分析。我們詳細(xì)介紹了如何使用這些工具來將復(fù)雜材料清晰地分離為各個組分/物相,鑒定
            • 2024

              07-11

              描述fei冷凍透射電鏡的樣品制備過程

              fei冷凍透射電鏡是一種用于研究生物大分子、細(xì)胞器、病毒和蛋白質(zhì)等生物樣品的顯微技術(shù)。樣品被快速冷凍并保持在低溫下,以保持其天然狀態(tài)和水分。這種方法可以提供高分辨率的圖像,同時避免了傳統(tǒng)化學(xué)固定和染色方法可能引起的結(jié)構(gòu)變化。以下是fei冷凍透射電鏡樣品制備的詳細(xì)過程:1、樣品準(zhǔn)備:首先,需要準(zhǔn)備一個適當(dāng)濃度的生物樣品。對于蛋白質(zhì)或病毒樣品,通常需要調(diào)整到適當(dāng)?shù)木彌_液中,并確保樣品的純度和濃度適合觀察。對于細(xì)胞樣品,可能需要進(jìn)行輕微的處理,如低滲處理,以便更好地觀察細(xì)胞內(nèi)部結(jié)構(gòu)。2、樣品裝載:使用
            • 2024

              07-08

              fei透射電鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域有哪些應(yīng)用?

              fei透射電鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著極其重要的角色,因為它能夠提供材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶體缺陷、化學(xué)組成以及電子結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵信息。高分辨率和多功能性使其成為研究材料性能與微觀結(jié)構(gòu)關(guān)系的理想工具。以下是fei透射電鏡在材料科學(xué)中的一些主要應(yīng)用:1、納米材料表征:它是研究納米顆粒、納米線、納米管和其他納米結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵工具。它可以揭示這些材料的尺寸、形狀、結(jié)晶度和缺陷結(jié)構(gòu),這些都是影響其物理和化學(xué)性質(zhì)的重要因素。2、薄膜和涂層分析:用于分析薄膜和涂層的厚度、均勻性、界面結(jié)構(gòu)和缺陷。這些信息對于優(yōu)化薄膜的生長條件
            • 2024

              07-05

              簡要分析fei掃描透射電子顯微鏡的工作原理

              fei掃描透射電子顯微鏡結(jié)合了掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的原理,聚焦的電子束掃描過薄樣品,并通過樣品下方的探測器來收集透過樣品的電子。由于電子與樣品相互作用,部分電子會被散射,而探測器接收到的是未被散射的透射電子。以下是fei掃描透射電子顯微鏡的基本工作原理:1、電子槍發(fā)射電子:使用電子槍產(chǎn)生高速電子束。這些電子被加速到高能量狀態(tài),以便它們能夠穿透非常薄的樣品。2、電子束聚焦:通過一系列的電磁透鏡系統(tǒng),將電子束聚焦成非常細(xì)小的探針。這個細(xì)小的探針隨后用于掃描樣品。3、掃描
            • 2024

              07-03

              集成式掃描電鏡成像與 X 射線能譜解決方案——ChemiSEM技術(shù)

              能量色散X射線能譜(EDS)常常與掃描電子顯微鏡(SEM)結(jié)合使用,用于確定樣品的元素組成。當(dāng)樣品在SEM中被電子轟擊時,EDS檢測到樣品發(fā)射的特征X射線。通過分析這些X射線的能量和強度,EDS可以識別樣品中存在的元素,并提供關(guān)于其豐度的定量信息。由于SEM和EDS技術(shù)的差異,科研用戶通常采購不同供應(yīng)商的SEM和EDS系統(tǒng),然而在實際使用過程中往往遇到一些的麻煩和困擾。而且管理獨立的系統(tǒng)可能會導(dǎo)致效率低下和長期成本增加,因為需要額外的時間和資源。比如:由于硬件和軟件要求,整合問題可能會出現(xiàn),使得
            • 2024

              07-02

              冷凍透射電子顯微鏡主要由哪些部件組成?

              冷凍透射電子顯微鏡是一種特殊類型的透射電子顯微鏡,用于在接近自然狀態(tài)下觀察生物樣品的微觀結(jié)構(gòu)。這種技術(shù)特別適用于對溫度敏感或含水量高的樣品,因為它能夠在低溫下固定和觀察樣品,從而減少樣品的輻射損傷和避免冰晶的形成。冷凍透射電子顯微鏡主要由以下部件組成:1、電子槍:電子槍是產(chǎn)生高速電子束的源頭。這些電子經(jīng)過加速后,會穿透樣品并在熒光屏上形成圖像。2、電磁透鏡系統(tǒng):包括聚光鏡、物鏡、中間透鏡和投影鏡。透鏡系統(tǒng)用于聚焦和控制電子束,以便在熒光屏上形成清晰的樣品圖像。3、樣品艙:樣品艙是一個可以維持高真
            • 2024

              06-21

              fei冷凍透射電鏡在生物科學(xué)中的應(yīng)用有哪些?

              fei冷凍透射電鏡是一種在低溫下對樣品進(jìn)行成像的技術(shù),它可以在接近自然狀態(tài)下觀察生物大分子和細(xì)胞結(jié)構(gòu)。這種技術(shù)在生物科學(xué)中的應(yīng)用非常廣泛,以下是一些主要的應(yīng)用領(lǐng)域:1、病毒學(xué)研究:fei冷凍透射電鏡可以用于觀察病毒的結(jié)構(gòu)和形態(tài),以及病毒與宿主細(xì)胞的相互作用。例如,通過使用,科學(xué)家們可以觀察到病毒的“冠狀”結(jié)構(gòu),這對于理解病毒的傳播和感染機制非常重要。2、膜蛋白研究:膜蛋白是細(xì)胞膜的重要組成部分,對于細(xì)胞的信號傳導(dǎo)、物質(zhì)運輸?shù)壬磉^程起著關(guān)鍵作用。也可以在接近自然狀態(tài)下觀察膜蛋白的結(jié)構(gòu),有助于揭示
            • 2024

              06-14

              sem掃描電鏡通常用于哪些類型的材料分析?

              sem掃描電鏡是一種強大的材料分析工具,它通過使用高能聚焦的電子束掃描樣品表面,從而獲得高分辨率的圖像。這些圖像能夠揭示材料的微觀形貌、組成和晶體結(jié)構(gòu)等重要信息。由于其高分辨率和多功能性,它在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中扮演著關(guān)鍵角色。sem掃描電鏡可以對金屬和合金進(jìn)行詳細(xì)的表面和斷口分析,幫助研究者理解材料的疲勞、斷裂和腐蝕機制。對于陶瓷材料,不僅能夠觀察其表面的微觀結(jié)構(gòu),還可以分析涂層和薄膜的均勻性和附著強度。在塑料和聚合物材料的研究中同樣重要,它可以用于觀察填充劑的分布、聚合物纖維的形態(tài)以及復(fù)合材
            • 2024

              06-11

              fei掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用有哪些?

              fei掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),它利用飛秒激光脈沖來激發(fā)樣品表面產(chǎn)生二次電子和背散射電子,從而獲得樣品表面的高分辨率圖像。在材料科學(xué)領(lǐng)域,已經(jīng)成為一種重要的研究工具,為研究者提供了關(guān)于材料微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的詳細(xì)信息。以下是fei掃描電鏡在材料科學(xué)中的一些應(yīng)用:1、材料表征:它可以用于觀察各種材料的微觀結(jié)構(gòu),如金屬、陶瓷、聚合物、納米材料等。通過高分辨率的圖像,研究者可以了解材料的晶粒大小、形貌、缺陷等信息,從而評估材料的性能和可靠性。2、納米技術(shù):在納米技術(shù)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。它可以
            • 2024

              06-08

              如何制備適合掃描電子顯微鏡觀察的樣品?

              掃描電子顯微鏡是一種用于觀察樣品表面形貌和成分分析的儀器。為了獲得清晰的圖像,制備適合其觀察的樣品至關(guān)重要。以下是一些建議,幫助您制備適合掃描電子顯微鏡觀察的樣品:1、選擇合適的樣品尺寸和形狀:樣品應(yīng)盡可能小,以便能夠放入樣品室。通常,樣品的尺寸應(yīng)小于1厘米,厚度應(yīng)小于2毫米。此外,樣品的形狀應(yīng)盡量規(guī)則,以便于定位和觀察。2、清潔樣品表面:在觀察之前,確保樣品表面干凈且無污染。可以使用去離子水、有機溶劑或超聲波清洗器進(jìn)行清洗。避免使用可能留下殘留物的清潔劑。3、干燥樣品:在將樣品放入之前,確保其
            • 2024

              06-06

              冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡助力高質(zhì)量冷凍薄片的制備

              冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡(Cryo-PFIB)是一種結(jié)合了冷凍技術(shù)、等離子體技術(shù)和聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)的先進(jìn)成像和制備工具。主要用于生命科學(xué)領(lǐng)域,特別是細(xì)胞或組織內(nèi)部結(jié)構(gòu)的觀察。它基于聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)的原理,結(jié)合冷凍技術(shù),使得在保持樣品接近天然狀態(tài)的同時,進(jìn)行高分辨率的三維結(jié)構(gòu)成像。ThermoScientificArctis冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡專為從玻璃化細(xì)胞中自動、高通量制備冷凍薄片而設(shè)計。其自動上樣系統(tǒng)在斷層掃描工作流程中冷凍聚焦離子束掃
            • 2024

              06-05

              fei透射電子顯微鏡的基本原理和主要組成部分

              fei透射電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微技術(shù),它利用場發(fā)射槍產(chǎn)生的高亮度、高能量電子束來穿透超薄樣本,并通過電磁透鏡系統(tǒng)放大成像。這種設(shè)備能夠提供原子級別的圖像,對材料的微觀結(jié)構(gòu)分析至關(guān)重要。fei透射電子顯微鏡的核心原理基于德布羅意波長理論,即電子具有波粒二象性,當(dāng)加速到高速時,其波動性質(zhì)變得顯著。這些高速電子通過非常薄的樣本時,會與樣本中的原子相互作用,發(fā)生散射、衍射等現(xiàn)象,從而攜帶出樣本的結(jié)構(gòu)信息。fei透射電子顯微鏡的主要組成部分:1、場發(fā)射電子槍:能夠產(chǎn)生高亮度和高相干性的電子束。與傳
            • 2024

              05-31

              冷凍聚焦離子束顯微鏡在細(xì)胞結(jié)構(gòu)研究中的應(yīng)用

              冷凍聚焦離子束顯微鏡是一種強大的顯微鏡技術(shù),它結(jié)合了聚焦離子束和電子顯微鏡的優(yōu)點,能夠在納米級別上對細(xì)胞結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨率的成像。近年來,隨著生物醫(yī)學(xué)研究的深入,冷凍FIB在細(xì)胞結(jié)構(gòu)研究中的應(yīng)用越來越廣泛。冷凍聚焦離子束顯微鏡的主要工作原理是使用聚焦離子束對樣品進(jìn)行切割,然后通過電子顯微鏡對切割面進(jìn)行成像。這種方法的優(yōu)點是可以在不破壞細(xì)胞內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下,直接觀察細(xì)胞內(nèi)部的細(xì)微結(jié)構(gòu)。這對于理解細(xì)胞的復(fù)雜結(jié)構(gòu)和功能至關(guān)重要。在細(xì)胞結(jié)構(gòu)研究中,冷凍聚焦離子束顯微鏡的應(yīng)用主要集中在以下幾個方面:1、細(xì)胞
            • 2024

              05-29

              fei雙束電子顯微鏡在納米材料科學(xué)中的應(yīng)用

              fei雙束電子顯微鏡集成了掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)兩大功能,能夠?qū)崿F(xiàn)對納米材料的高分辨率成像以及精細(xì)加工。在納米材料科學(xué)中,主要用于以下幾個方面:1、結(jié)構(gòu)表征:fei雙束電子顯微鏡能夠提供從宏觀到原子級別的多尺度結(jié)構(gòu)信息。通過高分辨率的SEM成像,研究人員可以清晰地觀察到納米材料的形貌、尺寸分布以及顆粒間的相互作用。此外,結(jié)合能量分散X射線譜(EDS)等附件,還可以進(jìn)行化學(xué)成分分析,從而全面理解材料的組成與結(jié)構(gòu)關(guān)系。2、缺陷分析:納米材料的性能往往與其內(nèi)部的缺陷密切相關(guān)。利
            • 2024

              05-22

              Spectra ETEM 環(huán)境透射電子顯微鏡有哪些更新?

              SpectraETEM環(huán)境透射電子顯微鏡相對于前幾代ETEM平臺的主要更新如下:01遠(yuǎn)程操作平臺,使科研人員進(jìn)一步免于氣體危害。02配備有單色器的超亮熱場場發(fā)射電子槍,可簡便準(zhǔn)確地控制電子劑量。03搭配雙球差校正器,進(jìn)一步拓展環(huán)境透射電鏡的表征能力。04進(jìn)一步優(yōu)化氣體控制系統(tǒng),搭配了3個不同的氣體入口,并可預(yù)設(shè)分壓。05極靴內(nèi)無窗高壓氣氛環(huán)境,可在S/TEM模式提供最佳襯度和分辨率。06出色的ETEM真空系統(tǒng)與大極靴設(shè)計,兼容大角度雙傾桿與種類豐富的原位樣品桿。07非ETEM模式(高真空模式)下
            • 2024

              05-15

              冷凍聚焦離子束顯微鏡在細(xì)胞生物學(xué)中有哪些應(yīng)用?

              冷凍聚焦離子束顯微鏡是一種結(jié)合了冷凍電子顯微鏡技術(shù)和聚焦離子束技術(shù)的顯微成像方法。在細(xì)胞生物學(xué)中,具有許多重要的應(yīng)用,包括以下幾個方面:1、細(xì)胞超微結(jié)構(gòu)研究:冷凍聚焦離子束顯微鏡可以在納米級別上對細(xì)胞的超微結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察和分析。通過冷凍技術(shù),細(xì)胞在觀察過程中能夠保持其生理狀態(tài),避免了傳統(tǒng)電子顯微鏡制樣過程中可能出現(xiàn)的細(xì)胞結(jié)構(gòu)變形和損傷。這使得研究者能夠更準(zhǔn)確地了解細(xì)胞內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和功能。2、細(xì)胞內(nèi)蛋白質(zhì)定位:也可以對細(xì)胞內(nèi)的蛋白質(zhì)進(jìn)行高分辨率的定位和定量分析。通過與免疫標(biāo)記技術(shù)相結(jié)合,研究者可以觀察
            • 2024

              05-12

              fei雙束電子顯微鏡的維護(hù)和保養(yǎng)有哪些關(guān)鍵點?

              fei雙束電子顯微鏡是一種高度精密的儀器,用于觀察和分析納米級別的樣品。為了確保其性能穩(wěn)定、圖像清晰和數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,需要定期進(jìn)行維護(hù)和保養(yǎng)。以下是一些關(guān)鍵點:1、環(huán)境控制:fei雙束電子顯微鏡應(yīng)放置在干凈、無塵、恒溫恒濕的環(huán)境中。溫度應(yīng)保持在20-25攝氏度,濕度在40-60%之間。避免陽光直射和振動源,以減少對設(shè)備的干擾。2、真空系統(tǒng):真空系統(tǒng)是其核心部分,需要定期檢查和維護(hù)。確保真空泵油位正常,定期更換真空泵油和濾芯。檢查真空管路和密封件,確保無泄漏。定期清潔真空腔體,避免污染和積累。3、電子光
            • 2024

              05-09

              SEM掃描電子顯微鏡的操作和使用需要注意哪些事項?

              SEM掃描電子顯微鏡是一種用于觀察樣品表面形貌的精密儀器。為了確保獲得高質(zhì)量的圖像并保持設(shè)備的正常運行,操作和使用SEM掃描電子顯微鏡時需要注意以下事項:1、樣品準(zhǔn)備:在觀察前,需要對樣品進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚?,如清潔、干燥、鍍金等。確保樣品表面無污染、無靜電,以免影響成像質(zhì)量。2、真空環(huán)境:需要在高真空環(huán)境下工作,以確保電子束能夠順利傳輸。在啟動設(shè)備前,請確保真空系統(tǒng)正常工作,避免因真空不良導(dǎo)致的設(shè)備損壞。3、電子槍調(diào)節(jié):電子槍是產(chǎn)生電子束的關(guān)鍵部件,需要定期檢查和調(diào)節(jié)。確保電子槍的亮度和對比度適中,
            • 2024

              05-06

              fei掃描電子顯微鏡的主要技術(shù)特點有哪些?

              fei掃描電子顯微鏡是一種利用聚焦的極細(xì)高能電子束掃描樣品表面,通過與樣品相互作用產(chǎn)生的各種信號來獲取樣品微觀形貌、結(jié)構(gòu)和組成的一種高級顯微分析儀器。其主要技術(shù)特點如下:1、高分辨率:fei掃描電子顯微鏡具有很高的分辨率,可以觀察到納米級別的微觀結(jié)構(gòu)。其分辨率遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡,使得科學(xué)家能夠觀察到更小的細(xì)胞器和組織結(jié)構(gòu)。2、大深度焦距:由于電子束的波長非常短,具有很大的深度焦距,可以實現(xiàn)對樣品表面的立體觀察。這使得它在材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。3、多功能性:不僅可以觀察樣品的表面形貌
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