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            徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司

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            WITec alpha300 A 原子力顯微鏡

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            顯微鏡

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            廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月,是國家高新技術(shù)企業(yè),廣州科技小巨人企業(yè),并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌(股權(quán)代碼:892081),通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系,擁有近30項國家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域,自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測量儀,拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見分光光度計,積分球式透反射率測試儀等。具備光學(xué)設(shè)計、機械設(shè)計、軟件編寫和算法編寫核心能力,和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系,并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長期實習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平,未來面向市場。

            前臺.jpg

            貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號,貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo),為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工,陪伴科學(xué)家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家,例如:日本Hitachi,德國WITec,德國Bruker,英國OXFORD,美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù)。

             

            我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè),更貼心的服務(wù)。

            我們的優(yōu)勢和專注點集中于材料測試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測試服務(wù),其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。

            材料分析領(lǐng)域代理品牌:

            OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國臺灣超微光學(xué))、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。

             

             

             

             

             

            接觸角測量儀、在線測厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀

            產(chǎn)地類別 國產(chǎn)
                 WITecalpha300A原子力顯微鏡
                WITec原子力顯微鏡集成了科研級光學(xué)顯微鏡,提供高級光學(xué)觀測、簡便的懸臂梁準(zhǔn)直和高分辨樣品研究。
                通過不同照明與探測技術(shù)的光學(xué)觀測(例如明場,暗場,偏振,熒光等),用戶可以輕易地選定感興趣的區(qū)域來進行AFM測試。通過簡單地旋轉(zhuǎn)物鏡轉(zhuǎn)輪,用戶可以在傳統(tǒng)顯微鏡與AFM模式間快速切換。
            激光顯微拉曼光譜儀
                WITecalpha300A原子力顯微鏡
                WITec的AFM物鏡可直接觀測樣品與懸臂梁針尖,實現(xiàn)直觀的精準(zhǔn)探針定位。alpha300A系統(tǒng)配備極度線性且精確的電容反饋控制掃描臺(TrueScan™技術(shù)),實現(xiàn)整個掃描范圍上超高的精度控制。
                WITecalpha300A原子力顯微鏡系統(tǒng)具有模塊化設(shè)計和操作簡單等特點,已成為材料研究,生命科學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域的重要表征手段。支持所有標(biāo)注的AFM模式,同時具有*的兼容性和擴展性,可升級為共聚焦光學(xué)顯微鏡、共聚焦拉曼顯微鏡和掃描近場光學(xué)顯微鏡。


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