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            產(chǎn)品展廳

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            GAIA3掃描電鏡 GAIA3掃描電鏡

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            產(chǎn)品標(biāo)簽

            GAIA3掃描電鏡

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            TESCAN泰思肯公司簡介


            TESCAN是一家專注于微觀形貌、結(jié)構(gòu)和成分分析的科學(xué)儀器的跨國公司,是知名的電子顯微儀器制造商,總部位于電鏡制造基地-捷克布爾諾,且已建立起國際的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),在捷克、法國和美國擁有4家研發(fā)中心、2個(gè)生產(chǎn)基地以及6家海外子公司,已有超過60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史。其產(chǎn)品主要有電子顯微鏡、聚焦離子束系統(tǒng)、多通道全息顯微鏡及相關(guān)分析附件和軟件,正被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、生物、生化、農(nóng)業(yè)、材料科學(xué)、冶金、化學(xué)、石油、制藥、半導(dǎo)體和電子器件等領(lǐng)域中。

            作為科學(xué)儀器的主要供應(yīng)商之一,TESCAN正為其在設(shè)計(jì)、研發(fā)和制造掃描電子顯微鏡及掃描電子顯微鏡在不同領(lǐng)域的應(yīng)用方面樹立良好的聲譽(yù)和品牌。目前TESCAN的產(chǎn)品和解決方案已經(jīng)在微納米技術(shù)領(lǐng)域取得了優(yōu)勢(shì)的地位,創(chuàng)造了掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術(shù)、聚焦離子束與飛行時(shí)間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術(shù)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù),也是行業(yè)領(lǐng)域的先行者。TESCAN憑借優(yōu)異的性能贏得越來越多的用戶認(rèn)可,目前生產(chǎn)的各系列電鏡在世界范圍內(nèi)受到廣泛的好評(píng)。從2000年至今已有2500多臺(tái)電鏡積極地服務(wù)于全球客戶。

             

            TESCAN中國

             

            TESCAN于2009年正式進(jìn)入中國市場,成立了TESCAN CHINA中國分公司,總部設(shè)在上海,且在北京、上海兩地建立了DEMO實(shí)驗(yàn)室,在北京、上海、廣州、重慶、南京、武漢、西安、無錫、蘇州等城市設(shè)立9個(gè)維修站。TESCAN中國公司擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的售前應(yīng)用和售后服務(wù)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),在上海的應(yīng)用中心有包含鎢燈絲電鏡、場發(fā)射電鏡、FIB以及電制冷能譜儀、電鏡制樣設(shè)備等全系列產(chǎn)品的演示培訓(xùn)平臺(tái),為國內(nèi)用戶提供參觀、交流和學(xué)習(xí)的平臺(tái)。

             

            在進(jìn)入中國的短短幾年內(nèi),TESCAN已逐步建立起了自己的品牌,得到了廣大客戶的認(rèn)同。TESCAN在中國的高速發(fā)展得益于產(chǎn)品優(yōu)異的性能、快捷的售后服務(wù)以及致力于成就客戶的信念,未來TESCAN中國將持續(xù)提升個(gè)性化服務(wù),為國內(nèi)用戶提供更全面、更專業(yè)的綜合解決方案!

             

            場發(fā)射掃描電鏡

            價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 冷場發(fā)射
            應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保

            GAIA3掃描電鏡是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計(jì)應(yīng)用的理想平臺(tái),它同時(shí)具備高精度及微量分析能力。GAIA3 適用于高質(zhì)量超薄 TEM 樣品制備、在技術(shù)節(jié)點(diǎn)減少流程、精確的納米構(gòu)圖或高分辨率的三維重構(gòu)。這些特征使得 GAIA3 成為低能電子束成像應(yīng)用的理想工具,保留易受電子束損壞的樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu),如低介電常數(shù)材料、光阻材料及未涂覆生物樣品。在樣品改性方面,GAIA3 也代表了挑戰(zhàn)納米加工的適合解決方案。

            GAIA3掃描電鏡

            突出特點(diǎn)

            Triglav™ - 新型超高分辨率 ( UHR ) 電子光學(xué)鏡筒

            • TriLens™ 物鏡系統(tǒng):*的電子束無交叉模式與超高分辨率物鏡相結(jié)合
            • 具有多個(gè) SE 及 BSE 探測(cè)器的*探測(cè)系統(tǒng)
              • TriSE™ + TriBE™
            • Triglav™ - 低加速電壓下的超高分辨率: 1 nm (1 kV ),0.7 nm (15 kV )
            • EquiPower™ 進(jìn)一步提高電子束的穩(wěn)定性
            • 電子束流高達(dá) 400 nA,并能實(shí)現(xiàn)電子束能量的快速改變
            • 優(yōu)化的鏡筒幾何設(shè)計(jì)大可容納8”晶圓

            Cobra FIB 鏡筒

            高性能鎵離子 FIB 鏡筒,實(shí)現(xiàn)超高精度納米建模

            • 探針電流:1 pA ~ 50 nA
            • 分辨率:< 2.5 nm @ 30 kV (在 SEM 電子束與 FIB 離子束的重(疊)合點(diǎn))
            • 在刻蝕和成像方面擁有水平的技術(shù)
            • Cobra 可保證在短時(shí)間內(nèi)完成橫斷面處理及 TEM 樣品制備
            • 適合生物樣品的 3D 超微結(jié)構(gòu)研究,如組織、完整的細(xì)胞等
            • 低電壓下的性能,適合于刻蝕超薄樣品和減少非晶層


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