PD-QE 光譜響應(yīng)測試與光電探測器特性分析
- 公司名稱 光焱科技股份有限公司
- 品牌 Enlitech
- 型號 PD-QE
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/13 14:37:23
- 訪問次數(shù) 3055
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 |
---|---|---|---|
偏置電壓 | 由20V~1000V | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
產(chǎn)品介紹
此系統(tǒng)與手套箱無縫整合,為分析敏感材料和組件提供了理想的環(huán)境。
PD-QE 結(jié)合先進(jìn)科技與使用者友善的設(shè)計(jì),讓研究人員和工程師能夠探索光譜學(xué)的新領(lǐng)域,并釋放光電探測器的全部潛力。
光電探測器基本特性分析設(shè)備的可用性對于這些組件的開發(fā)者和用戶都至關(guān)重要。
不同的應(yīng)用領(lǐng)域,例如光電二極管制造商、光纖通訊系統(tǒng)開發(fā)商、太陽能電池板制造商、大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)的實(shí)驗(yàn)室以及質(zhì)量控管公司,在功能方面可能有其他特定需求,包括所需的檢測范圍、分辨率或?qū)μ囟ōh(huán)境條件的適應(yīng)性。
傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器的測試中面臨許多挑戰(zhàn)。 例如:
1.偏置電壓無法超過12V:傳統(tǒng)量子效率系統(tǒng)使用鎖相放大器,其承受直流電壓無法過大,因此在一般的量子效率測試儀,電偏壓無法施加超過12V。
2.無法做噪聲頻率分析。
3.無法直接測得NEP與D*。
光焱科技針對新世代的光電探測器(PD)提供了完整解決方案,命名為PD-QE。
特色
1.高精度測量:
PD-QE提供高精度的EQE和IV曲線測量,光源不穩(wěn)定度低于1%,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性,滿足客戶對高精度測量的期望。
2.集成多功能性:
PD-QE 集成了多種功能,包括 EQE 測試、IV 曲線檢測、D* 分析、NEP 分析和頻率噪聲頻譜分析。 這種整合為客戶提供了一站式性能評估解決方案,滿足他們對整合多功能性的期望。
3.靈敏度測試:
PD-QE 能夠測量高分辨率的光電流(分辨率高達(dá) 10^-14 安培),使其適用于測試高靈敏度的光電探測器。 這有助于客戶準(zhǔn)確評估探測器在低光照條件下的性能,滿足他們對靈敏度測試的期望。
4.寬波長范圍:
PD-QE 適用于各種光電探測器,無論是在研發(fā)階段還是生產(chǎn)線上,都能提供先進(jìn)的性能測試能力。
5.優(yōu)異的光束控制技術(shù):
PD-QE 通過其光束耦合模塊提供精確的光束尺寸控制 (1*1 平方毫米),滿足精確光束控制的要求。 這讓客戶能夠進(jìn)行精確的性能測試,并模擬特定的應(yīng)用情境。 這滿足了客戶對精確光束控制的需求,幫助他們執(zhí)行更準(zhǔn)確的效能評估和優(yōu)化。
6.寬廣的偏壓電壓范圍:
PD-QE支持從20伏特到200伏特的偏壓電壓調(diào)整,滿足客戶在不同電壓條件下測試光電探測器的需求。 這有助于客戶全面評估產(chǎn)品效能,并確保在各種應(yīng)用條件下穩(wěn)定運(yùn)作。
7.易于操作和維護(hù):
PD-QE 采用用戶友善的設(shè)計(jì),操作簡單,維護(hù)成本低,滿足客戶對易用性和維護(hù)性的需求。 這有助于客戶節(jié)省時(shí)間和成本,同時(shí)保持高效的測試流程。
8.客戶支持和技術(shù)服務(wù):
PD-QE 提供專業(yè)的客戶支持和技術(shù)服務(wù),協(xié)助客戶快速解決使用過程中遇到的問題,確保設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)作。 這滿足了客戶對及時(shí)有效支持的需求,幫助他們維持高效的測試流程。
規(guī)格
● 光源不穩(wěn)定性< 1%
● 單色光模:波長范圍 300~1100 nm。
● 光斑耦合模組光斑尺寸:1*1mm2 。
● 偏置電壓也可由20V到200V。
● 可測量高分辨率的光電流,分辨率最高可達(dá)10~14 A。
● 波長擴(kuò)充可達(dá)1800 nm。
應(yīng)用
PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析可用于:
● 第三代半導(dǎo)體材料:光電二極體/光電探測器。
● 有機(jī)光傳感器 (OPD, Organic Photodiode)。
● 鈣鈦礦光傳感器 (PPD, Perovskite Photodiode)。
● 量子點(diǎn)光傳感器(QDPD, Quantum Dots Photodiode)。
● 新型材料光傳感器。
實(shí)證
● NEP/D*:
PD-QE可直接針對器進(jìn)進(jìn)行頻率雜訊的測量與作圖。
● EQE 光譜:
PD-QE 可以進(jìn)行 EQE 光譜測試。除了標(biāo)準(zhǔn)的 300nm ~ 1100nm 波段,PD-QE 可擴(kuò)展到 1800nm。圖中顯示不同波長響應(yīng)器件,在 PD-QE 系統(tǒng)下,測的 EQE 量子效率光譜。
● 整合多種SMU控制進(jìn)行IV曲線測試:
PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產(chǎn)的多種 SMU,進(jìn)行多種的 IV 曲線掃描。用戶無需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測試。圖中顯示 PD-QE 測試不同樣品的 IV 曲線,并進(jìn)行多圖顯示。
● 噪聲電流頻譜圖:
PD-QE 憑借*進(jìn)數(shù)字訊號采集與處理技術(shù),直接可測試各種探測器在不同頻率下的噪聲電流圖。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進(jìn)行測種測試!并且軟件可以進(jìn)行多種頻段的特性分析,如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是針對新世代 PD 測試的完整解決方案。