ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。

HED-W5100D

全自動晶圓ESD測試機

l 最高支持12英寸 300mm晶圓ESD測試方案

l 測試效率高，自動探針臺和晶圓映射程序啟用了全自動晶圓級ESD測試

l 同時支持package測試

l   配備CCD相機

l   可以與Hanwa TLP測試儀，HED-T5000和T5000VF
l   Woks 集成在一起，作為不帶插座板的高引腳數(shù)封裝級測試儀。
l   SCM（10pF浪涌）選項可用。

公司已經與多家世界的半導體器件和精密測試領域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括：探針臺系統(tǒng)制造商MPI；世界微波組件和測試系統(tǒng)制造商MAURY；測量儀器制造商KEYSIGHT；的模型服務商Modelithics；EDS設備日本HANWA和TOTOKU等。憑借著多年的行業(yè)經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務