HED-W5100D 全自動(dòng)晶圓ESD測試機(jī) 參考價(jià)：面議
ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D 全...
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備 參考價(jià)：面議
目前，對(duì)于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對(duì)于在以往的TLP測試機(jī)無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在TLP傳輸線脈沖測試儀上得以實(shí)現(xiàn)、并有...
HANWA HED-C5000R CDM測試設(shè)備 參考價(jià)：面議
CDM測試儀,CDM測試設(shè)備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測試設(shè)備
全自動(dòng)芯片ESD測試設(shè)備 參考價(jià)：8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測試設(shè)備近年來，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于...
SiP模塊多芯片裝片機(jī) 參考價(jià)：2000000
高精度的混合多芯片貼裝，適配復(fù)雜模塊單程生產(chǎn)。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的各種模塊貼裝/倒裝，包括光模塊，系統(tǒng)級(jí)封裝（SIP），攝像頭模組等。關(guān)鍵軸均采用高精度直線電...
多功能芯片分選機(jī) 參考價(jià)：2000000
支持膜到膜、膜到盒、盒到盒、盒到盒芯片分選，切換更靈活。支持芯片視覺2D檢測，焊頭恒力控制，芯片分選更可靠。
PIV 脈沖IV測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高功率脈沖PIV測試系統(tǒng)，由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高級(jí)測量和建模軟件支持多種負(fù)載牽引技術(shù)，包括使用外部...
太赫茲負(fù)載牽引系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
射頻探針臺(tái)負(fù)載牽引通過有源VMU+軟件，可以搭載keysight的VNA+extender的太赫茲網(wǎng)絡(luò)分析儀上，實(shí)現(xiàn)非50歐姆環(huán)境下，大信號(hào)條件下微波全參數(shù)測試...
硅光探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
硅光探針臺(tái),GP200-SIP系列8英寸探針臺(tái)包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時(shí)間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測試與提取。GP200擁有穩(wěn)定且...
射頻探針 參考價(jià)：面議
現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計(jì)調(diào)試和測試是另一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號(hào)外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(hào)（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價(jià)：面議
現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計(jì)調(diào)試和測試是另一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號(hào)外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(hào)（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價(jià)：10000
現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計(jì)調(diào)試和測試是另一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號(hào)外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(hào)（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價(jià)：10000
現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計(jì)調(diào)試和測試是另一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號(hào)外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(hào)（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻其它配件 參考價(jià)：面議
射頻探針臺(tái),進(jìn)口探針臺(tái)的射頻和毫米波測量應(yīng)用提供了出色的柔性電纜和附件選擇，可實(shí)現(xiàn)完整的射頻探頭系統(tǒng)集成。射頻其它配件
探針座配件-探針座 參考價(jià)：面議
探針座配件-電動(dòng)探針座MPI 提供各種無間隙微定位器，可滿足各種操作和測量條件。這些定位器從小尺寸到千分尺驅(qū)動(dòng)的高分辨率定位器，適用于RF和mmW應(yīng)用。
HED-N5000 全自動(dòng)ESD測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
芯片ESD測試設(shè)備，HED-N5000 全自動(dòng)ESD測試系統(tǒng)，ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的...
ESD測試機(jī) 參考價(jià)：面議
芯片ESD測試設(shè)備,HANWA HCE-5000ESD測試機(jī)是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是...
GP200探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
進(jìn)口探針臺(tái),GP200探針臺(tái)包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。 提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等...
功率器件分析儀B1506A 參考價(jià)：面議
是德科技功率器件分析儀B1506A提供完整的電路設(shè)計(jì)解決方案，實(shí)現(xiàn)對(duì)車規(guī)級(jí)大功率半導(dǎo)體的高效安全的測試驗(yàn)證。
光感測器量子效率測量儀 參考價(jià)：3000000
SPAD光學(xué)傳感器測試設(shè)備,光感測器量子效率測量儀， 為了能更好的應(yīng)用在移動(dòng)設(shè)備上，這些先進(jìn)光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應(yīng)用卻對(duì)先進(jìn)光傳感器的光感測...
GP200-8英寸手動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
8英寸高低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
GP200SE 8英寸高低溫探針臺(tái)包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、R...
GP半自動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
GP半自動(dòng)探針臺(tái)，GP2000-SE 高低溫探針臺(tái)。機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。可應(yīng)用于I-V/C-V/...
GP300探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
大功率探針臺(tái),GP300探針臺(tái)讓您的芯片測試更加簡單，機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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