300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/3/21 9:48:48
- 訪問次數(shù) 1229
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| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
為了讓科學(xué)家們更好地了解復(fù)雜樣品并開發(fā)新材料，他們需要具有相應(yīng)構(gòu)造與功能的設(shè)備——不但能夠分辨空間、時間和頻率，而且可靠精確。
賽默飛世爾科技推出了Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM，這是一種適用于所有材料科學(xué)應(yīng)用的最高分辨率像差校正掃描透射電子顯微鏡。
300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM建立在一個超穩(wěn)定的基礎(chǔ)上
所有的Spectra 300 (S)TEM都安裝在新平臺上，旨在通過被動和（可選配）主動隔振提供機械穩(wěn)定性和最高成像質(zhì)量。
該系統(tǒng)安裝在一個重新設(shè)計的外殼內(nèi)，內(nèi)置屏幕顯示，便于裝載和取出標(biāo)本。這是電子顯微鏡可以對無矯正器和單矯正器配置時的不同高度提供模塊化和可升級性，從而為不同的房間配置提供最大的靈活性。
300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM的規(guī)格
圖像矯正器 |
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探針矯正器： |
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未校正 |
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X-FEG/單色器雙校正（探針+圖像矯正器） |
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X-CFEG 雙校正（探針+圖像校正） |
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離子源 |
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